Eine grünere Zukunft

Herkömmliche Siliziummodule sind voluminös und ineffizient. Perowskite hingegen können die Effizienz verbessern, da sich aus diesem Material sehr dünne Schichten herstellen lassen und entsprechende Module insgesamt weniger Material erfordern. Wichtig ist auch die Verbesserung der Lebensdauer und Haltbarkeit der Zellen – diese Merkmale hängen von den jeweiligen Eigenschaften des verwendeten Materials ab.

Diese Eigenschaften sowie die Leistungsfähigkeit zukünftiger Photovoltaik-Bauteile hängen wiederum von der jeweiligen chemischen und mikrostrukturellen Umgebung ab. Allerdings ist die Rekonstruktion und Kontrolle dieser Umgebungen äußerst schwierig.

Materialwissenschaftler beschäftigen sich mit der Aufgabe, die Zusammenhänge zwischen Leistung, Struktur und Verarbeitung zu verstehen, um auf dieser Grundlage neue Technologien zu entwickeln, die unseren steigenden Energiebedarf decken.

Die Mikroskopie kann einen bedeutsamen Beitrag zur Entwicklung künftiger Solarzellen leisten. Korrelative Elektronen- und Ionenmikroskope können Merkmale auf verschiedenen Längenskalen und in hoher Auflösung darstellen. Die energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDX) ermöglicht präzise chemische Analysen, während mit der Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS) die Spurenelemente auf Materialoberflächen mit hoher Genauigkeit ermittelt werden können. Mit diesen Techniken verfügen Sie über die Hilfsmittel, die Sie benötigen, um neuartige Solarzellendesigns zu entwickeln und zu verstehen. 

Elektronen- und Ionenmikroskopie-Lösungen von ZEISS
Unsere Lösungen liefern die detaillierten analytischen Informationen, die Forscher für Ihre Arbeit benötigen. ZEISS Mikroskope ermöglichen Ihnen die schnelle und einfache Bestimmung der chemischen und strukturellen Umgebung in Dünnschicht-Solarmodulen und mono- oder polykristallinen Solarzellen. Untersuchen Sie strahlenempfindliche Materialien wie Perowskite mit den Bildgebungskapazitäten der Gemini-Optik für Aufnahmen bei niedriger Spannung, stellen Sie Elementverteilungen bei höchster Auflösung mit SIMS-Imaging dar und analysieren Sie Elementverteilungen in 2D und 3D mit EDX. 

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