Unterstützung für die Entwicklung der Legierungen von morgen
Aluminium neu gedacht – mit einem umfangreichen Portfolio für die multiskalare Mikroskopie
Metallurgen und Ingenieure treiben unaufhörlich den Fortschritt in den Bereichen Konstruktion und Mobilität voran. Angesichts der immer knapper werdenden Ressourcen stellen sie die gängige Meinung über die Leistungsfähigkeit von Metallen in Frage. Je höher die Anforderungen an Legierungen für Automobiltechnik, Konstruktion und Transportwesen steigen, desto wichtiger wird es, Metalle im Mikro- und Nanobereich zu begreifen und zu entwickeln.
Sei es die Aufnahme und Messung von Merkmalen, die chemische und kristallografische Analyse von Einschlüssen, Körnern und Phasen oder auch die Ermittlung dreidimensionaler Textur- und Strukturinformationen: Mit Lösungen von ZEISS gewinnen Sie aussagekräftige Informationen aus Ihren Aluminiumproben vom Millimeter- bis hin zum Nanometerbereich. Und werden so den Anforderungen Ihrer Kunden und unserer Welt gerecht.
Oberflächen und Oberflächenrauheit beurteilen und quantifizieren
Verschleißbeständigkeit, Ästhetik oder Beschichtung: Die sorgfältige Prüfung von Oberflächen und Oberflächenrauheit ist für zahlreiche Anwendungen von entscheidender Bedeutung. Mit Methoden wie Schleifen, Kiesstrahlen, Beschichtung oder durch Korrosion entstehen unterschiedlichste Oberflächen. Jede dieser Techniken resultiert in anderen Oberflächenmerkmalen, die je nach Anwendung vorteilhaft oder aber nachteilig sein können. Ihre Materialien können auch zu unterschiedlichen Zwecken (funktional, schützend oder kosmetisch) beschichtet werden – dann bestimmt die Oberflächenbeschaffenheit der Beschichtungen das Verhalten der Komponenten im Einsatz. Die Quantifizierung und Beurteilung der Oberflächenbeschaffenheit sind wichtige Schritte bei der routinemäßigen Qualitätssicherung sowie auch im Bereich der Forschung und Entwicklung neuer Methoden für die Beschichtung und die Oberflächenvorbereitung.
- Rauheit
- Peakhöhe
- Volumen und Form der Unebenheiten oder Vertiefungen
- Eingebettete Partikel
- Schadensbewertung – Verschleiß, Kratzer oder Einschläge
- Oberflächenkontaminationen
- Schichtdicke und -profil
- 3D-Mapping
Mit ZEISS Konfokalmikroskopen erstellen Sie Mappings Ihrer Oberflächen mit hoher planarer Auflösung (0,5 µm) und äußerst hoher lateraler Auflösung (120 nm) und erhalten so ein vollständiges, dreidimensionales Bild. Die ConfoMap Software bietet eine breite Palette an Funktionen für die Oberflächenanalyse, z. B. volldimensionale und statistische Messungen, ISO-Rauheitsmessungen und erweiterte Visualisierungsmöglichkeiten. ZEISS Rasterelektronenmikroskope und EDX-Systeme unterstützen zudem die Bildgebung mit hoher Schärfentiefe, die Analysen der Zusammensetzung sowie das Mapping großer Bereiche.