Produkt

ZEISS Axio Imager 2 Pol

Polarisationsmikroskop für Forschungsaufgaben

Sie suchen nach einem Mikroskop, das komplexe Aufgaben zuverlässig ausführt, Resultate in beeindruckender Qualität liefert und einfach zu bedienen ist? In diesem Fall ist ZEISS Axio Imager für die Polarisationsmikroskopie genau das richtige Gerät für Sie. Wählen Sie zwischen der kodierten, teilmotorischen oder vollmotorischen Variante und passen Sie das Mikroskop Ihren individuellen Anforderungen an.

Automatische Komponentenerkennung
Zuverlässiges Langzeit-Imaging
Umfassende Funktionalität

Oberfläche einer Dünnschicht-Solarzelle; Auflicht, Polarisation mit Lambdaplatte; EC Epiplan-APOCHROMAT 50×/0,95.

Zuverlässigkeit dank automatischer Komponentenerkennung

Mikroskopeinstellungen, auf Sie sich jederzeit verlassen können – dank Automatic Component Recognition (ACR). Alle motorischen Stative erkennen die vorhandenen Objektive automatisch. Beim vollmotorischen Z-Stativ identifiziert ACR außerdem Reflektormodule. Den Wechsel von Komponenten registriert Axio Imager automatisch.

Zuverlässiges Langzeit-Imaging dank schwingungsfreier Konstruktion

Bei zeitabhängigen Messungen und starker Vergrößerung können Sie sich auf die Stabilität von Axio Imager verlassen. Objektivrevolver, Z-Führung und Tischträger sind als kompakte, schwingungsfreie Einheit ausgelegt und vom übrigen Stativ entkoppelt. Diese „stabile Zelle“ schafft ideale Messbedingungen für überragende Ergebnisse.

Komfortabler Betrieb mit umfassender Funktionalität

Die Steuerung aller motorisierten Komponenten erfolgt zentral über den Touchscreen. Per Knopfdruck können Sie individuelle Einstellungen speichern und abrufen. Der Fokustrieb ist über die ergonomisch angeordneten Bedienelemente intuitiv bedienbar. Alternativ bedienen Sie das System über die Bedienkonsole, völlig unabhängig vom Stativ. Erzielen Sie reproduzierbare und verlässliche Ergebnisse mit dem Kontrast- und Lichtmanager, die automatisch die jeweils optimalen Einstellungen wählen.

Balkenolivin-Chondre

Durchlicht – Hellfeld. Objektiv: EC Plan-NEOFLUAR 10×/0,30 Pol

Durchlicht – Hellfeld. Objektiv: EC Plan-NEOFLUAR 10×/0,30 Pol
Balkenolivin-Chondre

Auflicht – Dunkelfeld. Objektiv: EC Epiplan-NEOFLUAR 10×/0,25 Pol

Auflicht – Dunkelfeld. Objektiv: EC Epiplan-NEOFLUAR 10×/0,25 Pol
Balkenolivin-Chondre

Durchlicht – Polarisation. Objektiv: EC Plan-NEOFLUAR 10×/0,30 Pol

Durchlicht – Polarisation. Objektiv: EC Plan-NEOFLUAR 10×/0,30 Pol
Balkenolivin-Chondre

Durchlicht – Polarisation mit λ-Platte. Objektiv: EC Plan-NEOFLUAR 10×/0,30 Pol

Durchlicht – Polarisation mit λ-Platte. Objektiv: EC Plan-NEOFLUAR 10×/0,30 Pol
Balkenolivin-Chondre

Auflicht – Polarisation. Objektiv: EC Epiplan-NEOFLUAR 10×/0,25 Pol

Auflicht – Polarisation. Objektiv: EC Epiplan-NEOFLUAR 10×/0,25 Pol

Anwendungen

Geologie und Mineralien

Balkenolivin-Chondre: Probe des Meteoriten Coolidge mit freundlicher Genehmigung von J. Zipfel, Sektion Meteoritenforschung, Senckenberg Forschungsinstitut und Naturmuseum, Frankfurt/Main, Deutschland

Methoden

Verhalten von optisch anisotropen Kristallen in linearem und zirkularem polarisierten Licht, Orthoskopie und Konoskopie.

Schnelle und zuverlässige Konoskopie

Mittels Polarisationsmikroskopie erfassen Sie simultan orthoskopische und konoskopische Bildinformationen. Beim speziell entwickelten Fototubus Pol sind Objekt, Strichkreuz und Irisblende gleichzeitig sichtbar. Das gilt auch für den konoskopischen Grenzbereich bis zu einer minimalen Kristallgröße von 10 μm – die schaltbare Irisblende macht es möglich. Die vorzentrierte Bertrand-Optik kann mit einem Handgriff ein- und ausgeschaltet werden. So können Sie bei der Erfassung von Bildern und Videos schnell zwischen verschiedenen Verfahren wechseln.

Konsistente Messleistung

● Zielgenaue Messungen mit dem kugelgelagerten Drehtisch mit 360°-Einteilung und 0,1°-Nonius (z. B. für die Messung von Spaltwinkeln in Mineralien)
● Bestimmung von Gangunterschieden oder Messung von Spannungszuständen

Kompensatoren mit festem Gangunterschied

● Lambda-Platte
● Lambda-Viertel-Platte
● Lambda-Platte, drehbar ± 8°
● Ein breites Spektrum an Kompensatoren deckt den Messbereich von 0 bis 30 λ ab.

Kompensatoren mit variablem Gangunterschied

● Keilkompensator 0–4 λ
● Messkompensatoren:
○ Berek Kippkompensator 0–5 λ
○ Berek Kippkompensator 0–30 λ

Digitale Analysen mit ZEISS ZEN core (z. B. mit Korngrößenanalyse oder Particle Analyzer)

Thermomikroskopie und digitale Analyse

Axio Imager unterstützt viele weitere Verfahren, beispielsweise:

Thermomikroskopie
Digitale Analysen mit ZEISS ZEN core (z. B. mit Korngrößenanalyse oder Particle Analyzer)

Weitere Anwendungen

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ZEISS Axio Imager 2

Ihr offenes Mikroskopsystem fur automatisierte Materialforschung

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Zuverlässigkeit dank automatischer Komponentenerkennung

Zuverlässiges Langzeit-Imaging dank schwingungsfreier Konstruktion

Komfortabler Betrieb mit umfassender Funktionalität