Produkt

ZEISS Xradia Context microCT Die branchenweit modernste microCT-Plattform

ZEISS Xradia Context ist ein anwenderfreundliches 3D-Mikro-Computertomographie-System (microCT) für die Analyse aller Probenarten. Ein hochformatiger Detektor ermöglicht die hohe Auflösung feiner Details auch bei relativ großen Imaging-Volumen. Das System verfügt über ein großes Sehfeld und überzeugt mit dem schnellen Einsetzen und Ausrichten von Proben, optimierten Aufnahme-Workflows sowie kurzen Belichtungs- und Datenrekonstruktionszeiten.

Erfassen Sie 3D-Daten von komplett intakten elektrischen Bauelementen, großen Materialproben oder biologischen Proben.
Führen Sie zerstörungsfreie Fehleranalysen durch, um interne Defekte ohne Zerschneiden der Probe oder des Werkstücks zu identifizieren.
Charakterisieren und Quantifizieren Sie leistungsbestimmende Unregelmäßigkeiten in Ihren Geoproben, wie Porosität, Risse, Einschlüsse, Defekte oder mehrere Phasen.
Führen Sie Entwicklungsstudien in 4D durch, mithilfe einer Ex-situ-Behandlung oder einer In-situ-Probenmanipulation.
Stellen Sie eine Verbindung zur Umgebung für korrelative Mikroskopie von ZEISS her und führen Sie zerstörungsfreies Imaging in 3D durch, um Bereiche für die nachfolgende Analyse zu identifizieren.

Virtueller Schnitt durch das Innere eines intakten Katalysators

3D-Imaging im Gesamtkontext

Xradia Context zeichnet sich durch überragende Bildqualität, Stabilität und Nutzbarkeit aus und bietet eine effiziente Workflow-Umgebung mit hohem Durchsatz
Ein Detektor mit hoher Pixeldichte (6 Megapixel) ermöglicht es Ihnen, auch bei relativ großen Bildvolumen feine Details in ihrem vollen 3D-Kontext aufzulösen
Sie können unter der Oberfläche liegende Strukturen zerstörungsfrei in 3D visualisieren – für die Prozess-, Konstruktions- und Schadensanalyse
Die geometrische Vergrößerung kleiner Proben können Sie maximieren – und so Strukturen im Mikrometerbereich mit hohem Kontrast und hoher Abbildungsschärfe identifizieren und charakterisieren
Profitieren Sie von einem rationalisierten Workflow, kurzen Belichtungszeiten und schneller Datenrekonstruktion

_{Virtueller Schnitt durch das Innere eines intakten Katalysators}

Context microCT-Scan einer intakten Smartwatch.

Basierend auf der bewährten Xradia-Plattform

Xradia context microCT beruht auf derselben Plattform wie die Xradia Versa-Serie – so profitieren Sie von unserer langjährigen Erfahrung und der bewährten Stabilität
Nutzen Sie die Vorteile eines Systems, das komplett auf hochauflösende, hochqualitative Datenerfassung und -rekonstruktion ausgerichtet ist
Die benutzerfreundliche Scout-and-Scan-Steuerung sorgt für eine effiziente Workflow-Umgebung
Profitieren Sie vom schnellen Einsetzen und Ausrichten der Proben oder erweitern Sie Ihr System mit „Autoloader“, um bis zu 14 Proben automatisiert zu handhaben und nacheinander zu scannen
Mit dem „In-situ-Kit“ führen Sie 4D- und In-situ-Studien durch, um Veränderungen in der Mikrostruktur von Materialien unter verschiedenen Bedingungen zu messen
Das „Advanced Reconstruction Toolkit“ sorgt für einen noch höheren Durchsatz mit ausgezeichneter Bildqualität

_{Context microCT-Scan einer intakten Smartwatch.}

Abbildung eines Bärenkiefers mit vollem Sehfeld

In Xradia Versa-Röntgenmikroskop (XRM) konvertierbar

Wenn sich Ihre Imaging-Anforderungen ändern, sollte Ihr System mithalten können. Xradia Context reiht sich in das Portfolio der ZEISS-Röntgenmikroskope ein und profitiert dabei von dem kontinuierlichen Engagement von ZEISS, die Leistungsfähigkeit und Funktionalität seiner Systeme in diesem Bereich zu erweitern.
So erhalten Sie ein tomographisches 3D-Imaging, das gemeinsam mit Ihren Anforderungen wächst: Ihr Xradia Context microCT ist das derzeit einzige microCT, das jederzeit in ein CrystalCT oder eine 5XX-Plattform konvertiert werden kann und immer so weiter, bis hinauf zum ZEISS Xradia 620 Versa 3D-Röntgenmikroskop (XRM).

_{Abbildung eines Bärenkiefers mit vollem Sehfeld}

Anwendungsbereiche

Elektronik

Context microCT-3D-Scan eines Smart-Lautsprechers. Visualisieren Sie verborgene Strukturen und Defekte zerstörungsfrei in 3D. Dies funktioniert bei einem breiten Spektrum von Proben und mit klassenbester Auflösung im gewählten Sehfeld.
Fertigung

3D-Rendering einer Glühbirne. Context kann verwendet werden, um ein vollständiges Proben-Scanning durchzuführen, um interne Strukturen zu überprüfen oder Fehler in hergestellten Komponenten zu identifizieren.
Biowissenschaften

Ausschnitt einer 3D-Darstellung eines in Paraffin eingebetteten Mausembryos. Innenliegende Strukturen sind mit hohem Kontrast erkennbar. Probe mit freundlicher Genehmigung des Massachusetts General Hospital.
Geowissenschaften

Virtueller Querschnitt durch eine heterogene Gesteinsprobe, die mehrere Phasen und Porosität erkennen lässt.
Materialwissenschaften

Virtueller Querschnitt durch einen aufgrund mehrerer Ladezyklen gealterten und entpackten Lithium-Ionen-Akku, der Schäden an der Anschlussfahne und den Kathodenschichten aufzeigt. Probe mit freundlicher Genehmigung von Professor D. U. Sauer und Professor E. Figgemeier, ISEA, RWTH Aachen
Metalle

3D-Rendering der Ergebnisse aus einem Schnellscan eines Turbinenblatts zur Beurteilung der Geometrie und Prüfung auf innere Defekte oder Risse.

Xradia Context microCT baut auf der etablierten und bewährten Xradia Versa-Plattform auf.

Bildqualität auf Basis bewährter Technologie

Erleben Sie gestochen scharfe Bilder mit exzellentem Kontrast, auf denen Sie die verschiedenen Phasen und Merkmale mühelos unterscheiden können. Das erleichtert die nachgelagerte Segmentierung und Quantifizierung Ihrer Daten.

Hervorragende Datenqualität hängt von verschiedenen Faktoren ab: Merkmale der Quelle, Einstellung der Strahlenergie, Detektorgeometrie und -empfindlichkeit, Umgebungskontrolle, Bewegungs- und Vibrationsstabilität, sorgfältige Systemkalibrierung und Präzision bei der Rekonstruktion. Xradia Context microCT beruht auf derselben Plattform wie die bewährte Produktserie der Xradia Versa-Röntgenmikroske und bietet dieselben Vorteile, mit denen Xradia Versa den Standard für das Hochleistungs-3D-Röntgen-Imaging im Labor gesetzt hat.

Hochreine Premium-Röntgenfilter für den Probenabgleich zur Strahlhärtungskontrolle
Verbessere Modi für die automatisierte Driftkorrektur
Erweiterte Algorithmen für die Strahlhärtungsreduzierung
Zusätzliche proprietäre erweiterte Algorithmen für die optimale Bildqualität
Einfacher Schutz Ihrer Probe zur Optimierung des Experimentaufbaus

Die SmartShield-Lösung schützt Ihre Probe und Ihr Mikroskop. Dieses automatisierte Kollisionsvermeidungssystem ist in das Scout-and-Scan Control System integriert. So können Sie souveräner als je zuvor auf den Xradia Versa-Plattformen navigieren. Per Knopfdruck erstellt SmartShield eine digitale Schutzschicht gemäß den Abmessungen Ihrer Probe.

Ihre Vorteile mit SmartShield:

Höhere Effizienz der Bediener durch verbesserte Probeneinrichtung
Optimierte Benutzeroberfläche für Unerfahrene und Fortgeschrittene
Schutz für Ihre wertvollen Proben und Ihre Investition
Abtastqualität ohne Kompromisse
Weitfeldmodus

Mit dem Weitfeldmodus (WFM) können Abbildungen über ein erweitertes laterales Sehfeld erstellt werden. Das breite laterale Sehfeld bietet ein bis zu 3-fach größeres 3D-Volumen bei großen Proben oder eine höhere Voxeldichte bei einem Standardsehfeld. Alle Xradia Versa-Systeme unterstützen WFM mit dem 0,4-fach-Objektiv. Zusammen mit Vertical Stitching können mit WFM größere Proben in ungewöhnlich hoher Auflösung abgebildet werden.

Zubehör

Erweitern Sie den Funktionsumfang Ihres Mikroskops mit Zubehörkomponenten

3D X-ray dataset of a camera lens acquired using ZEISS Xradia 620 Versa and DeepRecon Pro.

Advanced Reconstruction Toolbox

Höherer Durchsatz mit Bildqualität

Durch künstliche Intelligenz (KI) gesteuerte Rekonstruktionstechnologien für Ihre ZEISS Xradia-Systeme. Die grundlegenden Kenntnisse sowohl der Röntgenphysik als auch deren Anwendungen ermöglichen es Ihnen, einige der größten Herausforderungen beim Abbilden der Proben auf neue und innovative Weise zu bewältigen.

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Autoloader

Maximale Nutzung Ihres Systems

Maximieren Sie die Nutzung mit dem optionalen ZEISS Autoloader und minimieren Sie gleichzeitig die Benutzereingriffe. Durch die Verwendung des Autoloaders reduzieren Sie die Nutzerinteraktion und erhöhen die Produktivität, indem Sie die Ausführung mehrerer Aufgaben gleichzeitig ermöglichen. Bis zu 14 Probenstationen, die bis zu 70 Proben unterstützen, können geladen werden. Erstellen Sie eine Warteschlange und lassen Sie diese den ganzen Tag über oder außerhalb der Arbeitszeiten laufen.

In Situ Interface Kit

Die Grenzen der Wissenschaft werden neu gesetzt

ZEISS Xradia-Plattformen eignen sich für die verschiedensten In-situ-Konfigurationen, von Hochdruck-Flusszellen über Spannungs-, Kompressions- und Thermo-Stages bis hin zu kundenspezifischen Designs. Lassen Sie die drei Raumdimensionen hinter sich und tauchen Sie ein in den zerstörungsfreien Ablauf der Röntgenuntersuchung, die Ihre Studien mit 4D-Experimenten auch in die Zeitdimension bringt.

Lithium ion battery — Lithium-Ionen-Akku

Visualisierung und Analyse

ZEISS empfiehlt Dragonfly Pro

Diese fortschrittliche Softwarelösung dient der Analyse und Visualisierung von 3D-Daten, die mit unterschiedlichen Technologien wie Röntgen, FIB-SEM, SEM und Helium-Ionen-Mikroskopie erhoben wurden. ORS Dragonfly Pro ist exklusiv über ZEISS erhältlich und bietet ein intuitives, vollständiges und anpassbares Toolkit zur Visualisierung und Analyse großer 3D-Graustufendaten. Dragonfly Pro ermöglicht Ihnen die Navigation und Annotation Ihrer 3D-Daten und die Erstellung von Mediendateien, einschließlich Videos. Quantifizieren Sie Ihre Ergebnisse mittels Bildverarbeitung, Segmentierung und Objektanalyse.