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ZEISS EVO – Modulare SEM-Plattform mit intuitiver Bedienung für Routine- und Forschungsanwendungen
Produkt

ZEISS EVO Produktfamilie Modulare SEM-Plattform mit intuitiver Bedienung für Routine- und Forschungsanwendungen

Die Systeme der EVO-Produktfamilie kombinieren leistungsstarke Rasterelektronenmikroskopie mit einem intuitiven Bedienkonzept, das für erfahrene und neue Anwender gleichermaßen gut geeignet ist. EVO kann dank seiner umfangreichen Optionen präzise auf Ihre Anforderungen abgestimmt werden. Unabhängig davon, ob Sie im Bereich Biowissenschaften, Materialwissenschaften oder in der routinemäßigen industriellen Qualitätskontrolle und Schadensanalyse tätig sind.

  • Vielseitige Lösung für zentrale Mikroskopie-Einrichtungen oder Labore für die industrielle Qualitätskontrolle
  • Ausgezeichnete Abbildung jeder praxisbezogenen Probe
  • Optimale Bildqualität mit dem Lanthanhexaborid-Emitter (LaB6)
  • Herausragendes Imaging und Analysen von nichtleitenden und unbeschichteten Proben
  • Workflow-Automatisierung und Datenintegrität

  • Inhalt von Dritten geblockt

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Die SmartSEM Touch-Benutzeroberfläche unterstützt industrielle Anwender, die automatisierte Workflows für wiederkehrende Inspektionsaufgaben benötigen.

Überlegene Benutzerfreundlichkeit

Mit SmartSEM Touch kontrollieren Sie Workflows interaktiv am Touchscreen. Die Bedienung ist einfach zu erlernen, was den Schulungs- und Kostenaufwand deutlich reduziert. Selbst unerfahrene Nutzer können in Minutenschnelle fantastische Bilder erfassen. Diese Benutzeroberfläche unterstützt außerdem industrielle Anwender, die automatisierte Workflows für wiederkehrende Inspektionsaufgaben benötigen.

Flintstein, Auermetallpartikel aus einem Feueranzünder, abgebildet mit ZEISS EVO, HDBSD-Detektor.

Ausgezeichnete Bildqualität

EVO erbringt Spitzenleistungen, wenn es um die Erfassung hochwertiger Daten aus unbeschichteten und unveränderten Proben geht. Die Lösung stellt außerdem die Datenqualität hydrierter und stark verschmutzter Proben sicher, da diese Proben in ihrem nativen Zustand belassen werden können. Zusätzlich optimiert der LaB6-Emitter die Auflösung, den Kontrast und das Signal-Rausch-Verhältnis, was bei anspruchsvollen Imaging- und Mikroanalyseaufgaben extrem wichtig ist.

Bildbeschreibung: Flintstein, Auermetallpartikel aus einem Feueranzünder, abgebildet mit ZEISS EVO, HDBSD-Detektor.

    EVO kann als Teil eines halbautomatisierten, multimodalen Workflows konfiguriert werden. Dies wird ermöglicht durch das halbautomatisierte Wiederauffinden von relevanten Bereichen und das Sicherstellen der Integrität von Daten, die mithilfe mehrerer Modalitäten erfasst wurden.

    EVO – stark im Zusammenspiel

    EVO kann als Teil eines halbautomatisierten, multimodalen Workflows konfiguriert werden. Dies wird ermöglicht durch das halbautomatisierte Wiederauffinden von relevanten Bereichen und das Sicherstellen der Integrität von Daten, die mithilfe mehrerer Modalitäten erfasst wurden. Kombinieren Sie Daten aus der Licht- und Elektronenmikroskopie für die Materialcharakterisierung oder Teileprüfung. Oder kombinieren Sie EVO mit ZEISS Lichtmikroskopen für die korrelative Partikelanalyse.

        Für Mehrbenutzerumgebungen

        Je nach Laborumgebung kann die Bedienung von SEMs allein erfahrenen Elektronenmikroskopikern vorbehalten sein. Je nachdem besteht jedoch die Notwendigkeit, dass auch unerfahrene Benutzer wie Studenten, Auszubildende oder Qualitätsingenieure Daten von einem SEM benötigen. EVO berücksichtigt beide Gruppen mit zwei unterschiedlichen Benutzeroberflächen, die auf die Anforderungen von erfahrenen Mikroskopikern und Neulingen gleichermaßen eingehen.

        Erfahrene Nutzer haben Zugriff auf erweiterte Imaging-Parameter und Analysefunktionen.
        Erfahrene Nutzer haben Zugriff auf erweiterte Imaging-Parameter und Analysefunktionen.
        Unerfahrene Nutzer haben Zugriff auf vordefinierte Workflows und die am häufigsten verwendeten Parameter – ideal für Anfänger.
        Unerfahrene Nutzer haben Zugriff auf vordefinierte Workflows und die am häufigsten verwendeten Parameter – ideal für Anfänger.

        Intelligente Navigation und Bilderfassung

        Verbessern Sie Ihren Probendurchsatz und steigern Sie Produktivität und Leistung
        • ZEISS Navigationskamera

          ZEISS Navigationskamera

          Eine Kamera kann entweder an der Kammer montiert werden (Chamberscope), um die Position der Proben zu überwachen, die senkrecht zum am Polstück montierten Rückstreuelektronendetektor verlaufen, oder auf der Klappe der Vakuumkammer (Navigationskamera), um die Anordnung der Proben oder Werkstücke auf dem Probenhalter aus erhöhter Perspektive zu betrachten. Diese Ansicht bietet sich an, um Interessensbereiche zu definieren, die auf einem Lichtmikroskopbild identifiziert wurden, und um während der gesamten Probenuntersuchung einfach navigieren zu können.

        • ZEISS Automated Intelligent Imaging

          Automatisiertes intelligentes Imaging

          EVO ermöglicht die automatisierte, unbeaufsichtigte Bilderfassung für mehrere Probenchargen. ZEISS Automated Intelligent Imaging ist perfekt für routinemäßige Untersuchungen geeignet. Je nach erforderlichem Sehfeld oder der gewünschten Vergrößerung können Nutzer Bereiche von Interesse festlegen und mit der automatisierten Erfassung beginnen. Das automatisierte intelligente Imaging verbessert Ihren Probendurchsatz, steigert die Produktivität und die Leistung.

        Eine neue Qualität beim Untersuchen Ihrer Proben

        Bessere Daten mit dem Lanthanhexaborid-Emitter (LaB6)

        Anstelle eines konventionellen Wolfram-Glühfadens sorgt die Elektronenemission einer Lanthanhexaborid-Kathode dafür, dass Sie jederzeit hochwertige Bilder erzeugen können. Diesen Vorteil können Sie auf zweierlei Arten nutzen:

        • Bei äquivalenten Elektronensondengrößen (d. h. Auflösungen) steht ein höherer Sondenstrom zur Verfügung, der die Bildnavigation und -optimierung deutlich einfacher macht.
        • Bei äquivalenten Sondenströmen (Signal-Rausch-Verhältnis) ist der Strahldurchmesser deutlich geringer, was die Bildauflösung verbessert.

        EVO – stark im Zusammenspiel

        Profitieren Sie von Workflow-Automatisierung und korrelativer Mikroskopie
        EVO und das Ökosystem von ZEN core
        EVO und das Ökosystem von ZEN core

        1. Analysen nach der Aufnahme, 2. kontextbezogene Analysen, 3. integrierte Berichterstellung, 4. automatisierte Segmentierung

        EVO und das Ökosystem von ZEN core: Tauschen Sie Proben und Daten aus, visualisieren und verwalten Sie Daten über verschiedene Maßstäbe und Modalitäten hinweg, führen Sie materialographische Applikationen und Deep-Learning-gestützte Bildanalysen durch.

        Erweitern Sie Ihre Möglichkeiten mit ZEISS ZEN core

        Die Software-Suite für vernetzte Mikroskopie und Bildanalyse

        Da ZEISS sowohl Mikroskopie- als auch Metrologiesysteme anbietet, können Sie erwarten, dass EVO ausgezeichnet mit anderen ZEISS Lösungen zusammenarbeitet. So können Sie einen hochproduktiven, multimodalen Workflow zwischen (digitalen) Lichtmikroskopen und EVO erstellen. Kombinieren Sie die spezifischen optischen Kontrastmethoden Ihres Lichtmikroskops mit den ebenfalls spezifischen Imaging- und Analysemethoden des SEM. So erhalten Sie komplementäre Daten und aussagekräftigere Informationen zur Materialqualität oder zur Fehlerquelle Ihrer Probe.

        Sie können ZEN core als Hub für vernetzte Mikroskopie nutzen. Darüber hinaus haben Sie die Möglichkeit, die Funktionen an Ihre speziellen Anwendungen anzupassen und Workflows zu definieren, die die Erfahrungsstufen der Mikroskopiker in Ihrer Mehrbenutzerumgebung berücksichtigen.

        Mehr als Highlights:

        • Korrelative Mikroskopie: Austausch von Proben und Daten zwischen Licht-, Digital- und Elektronenmikroskopen
        • Kontextbezogene Datenpräsentation: Datenvisualisierung und -verwaltung über verschiedene Maßstäbe und Bildgebungsmodalitäten hinweg
        • Materialographische Applikationen einschließlich Berichterstellung in Microsoft Word: Integrierte Berichterstellung von korrelierten Bildern und Datensätzen
        • Automatisierte Bildanalyse über Deep Learning: Bildsegmentierung über Machine-Learning-Algorithmen.

        EDX-Lösungen für Mikroanalyse-Anwendungen

        Wenn das Imaging mit dem Rasterelektronenmikroskop (SEM) allein nicht mehr ausreicht, um Bauteile oder Proben vollständig zu charakterisieren, greifen SEM-Anwender zur energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDX). So können sie die chemische Elementzusammensetzung räumlich darstellen.
        • ZEISS SmartEDX – Optimiert für alle Routineanwendungen der Mikroanalyse

          Optimiert für alle Routineanwendungen der Mikroanalyse

          SEM und EDX müssen mit Bedacht kombiniert werden. Die Kombination von SmartEDX mit einem EVO-System ist hervorragend für Routineanwendungen bei der Mikroanalyse geeignet. Dies gilt insbesondere für Kunden mit hohen Anforderungen an die Reproduzierbarkeit von Daten. So erhalten Sie den höchsten Durchsatz mit einer Energieauflösung von 129 eV und einem Sondenstrom von 1-5 nA, den typischen EVO-Betriebsbedingungen. Dank der erstklassigen Transmissivität des Siliziumnitridfensters ermöglicht SmartEDX die optimale Erkennung niederenergetischer Röntgenstrahlen von Leichtelementen.

          Die Benutzeroberfläche folgt dem Workflow – nicht umgekehrt
          Die Benutzeroberfläche folgt dem Workflow – nicht umgekehrt

          Die Benutzeroberfläche folgt dem Workflow – nicht umgekehrt

          Die Benutzeroberfläche folgt dem Workflow – nicht umgekehrt

          SmartEDX verbessert auch in Laboren mit mehreren Benutzern die Anwenderfreundlichkeit und Arbeitsabläufe werden leichter reproduzierbar. Wie bereits andere Workflow-orientierte Lösungen von ZEISS, z. B. SmartSEM Touch oder ZEN core für EVO, ist auch die SmartEDX-Software einfach zu erlernen und intuitiv in der Bedienung. In Umgebungen mit mehreren Systemnutzern ermöglicht sie die reproduzierbare Ausführung analytischer Arbeitsschritte am SEM. SmartEDX ist wahlweise als EDX-Detektor mit dem besten Preis-Leistungs-Verhältnis in einer festen Konfiguration oder als flexible und doch komfortable Schieberausführung erhältlich.

        • Einfachere Bedienung und effizientere EDX-Datenerfassung
          Einfachere Bedienung und effizientere EDX-Datenerfassung

          Einfachere Bedienung und effizientere EDX-Datenerfassung

          Einfachere Bedienung und effizientere EDX-Datenerfassung

          Steuern Sie die EDX und das SEM parallel über einen einzigen PC. Diese Integration verbessert die Nutzbarkeit. Gleichzeitig erhalten Sie spezielle Benutzeroberflächen für Ihr Mikroskop und das EDX-System. Die optimierte Detektorintegration verstärkt die EDX-Signaleingänge um mindestens 17 % und verkürzt damit die EDX-Aufnahmezeit.

          Verschiedene EDX-Detektorkonfigurationen zur Wahl
          Verschiedene EDX-Detektorkonfigurationen zur Wahl

          Verschiedene EDX-Detektorkonfigurationen zur Wahl

          Verschiedene EDX-Detektorkonfigurationen zur Wahl

          Die Lösung mit einem einzigen PC bietet verschiedene EDX-Konfigurationen: Die Detektoren Xplore 15 und 30 sowie Ultim Max 40 von Oxford Instruments können bestellt werden. 

        • Optimierter Service für Ihr SEM- und EDX-System

          Umfassender ZEISS Service und Systemsupport

          ZEISS bietet umfassenden Support für SmartEDX. Diese EDX-Lösung ist damit für Unternehmen, denen die kontinuierliche Optimierung der Anzahl an unterschiedlichen Analysegerätezulieferern ein wichtiges Anliegen ist. Von der Installation über vorbeugende Wartung, Garantie, Diagnose, Reparatur und Ersatzteillieferung, bis hin zu Rundum-Service-Verträgen – für einen unkomplizierten Support Ihrer SEM-Analyselösung bietet ZEISS sämtliche Serviceleistungen aus einer Hand.

        Die EVO Produktfamilie

        ZEISS EVO 10
        ZEISS EVO 15
        ZEISS EVO 25

        Wählen Sie EVO 10 mit seinem optionalen Rückstreudetektor und dem Element EDX-System für Ihren Einstieg in die Rasterelektronenmikroskopie – zu einem außergewöhnlich erschwinglichen Einstiegspreis. Mit dieser Investition sind Sie schon jetzt für zukünftige Anwendungen gerüstet, die mehr Platz und mehr Anschlüsse erfordern.

        EVO 15 erbringt bei Analyseanwendungen Spitzenleistungen. Entscheiden Sie sich für die größere Vakuumkammer und Sie erhalten eine vielseitige, flexible Lösung für zentrale Mikroskopie-Einrichtungen oder Labore für die industrielle Qualitätskontrolle.

        EVO 25 ist die Lösung der Wahl für große Proben. Erweitern Sie das System optional mit einem Tisch mit 80 mm Z-Verfahrweg, der selbst im gekippten Zustand ein Gewicht von bis zu 2 kg tragen kann. Die große Kammer bietet zudem Platz für mehrere Analysedetektoren zur Unterstützung anspruchsvollster Mikroanalyseanwendungen.

        Maximale Probenhöhe

        100 mm

        145 mm

        210 mm

        Maximaler Probendurchmesser

        230 mm

        250 mm

        300 mm

        Motorisierter Tisch mit XYZ-Fahrweg

        80 × 100 × 35 mm

        125 × 125 × 50 mm

        130 × 130 × 50 (oder 80) mm

        Zubehör

        Eine unbeschichtete Radiolarie wurde bei 1 keV Landeenergie abgebildet. Das Bild ohne Beam Deceleration zeigt Artefakte durch Aufladungen.
        Eine unbeschichtete Radiolarie wurde bei 1 keV Landeenergie abgebildet. Die Anwendung der Beam Deceleration verbessert die Oberflächendetails und den Kontrast und vermindert die Artefakte durch Aufladungen.
        Eine unbeschichtete Radiolarie wurde bei 1 keV Landeenergie abgebildet. Das Bild ohne Beam Deceleration zeigt Artefakte durch Aufladungen (links). Die Anwendung der Beam Deceleration verbessert die Oberflächendetails und den Kontrast und vermindert die Artefakte durch Aufladungen (rechts).

        Beam-Deceleration-Imaging

        Mit dem Beam-Deceleration-Imaging lassen sich besonders empfindliche Proben untersuchen. Sie erzielen eine verbesserte Abbildungsqualität mit minimaler Probenschädigung. Außerdem können Sie nichtleitende Proben mit höherer Auflösung, höherer Oberflächenempfindlichkeit und höherem Kontrast abbilden. An die Probe wird eine Vorspannung angelegt. Damit wird die effektive Landeenergie an der Probe reduziert, während die Primärenergie weiterhin hoch bleibt.

        Anwendungen

        • Zinkphosphatbeschichtung, abgebildet mit SE-Detektor im Hochvakuum.
        • Autositz-Schaumpolster, abgebildet ohne Beschichtung im druckvariablen Modus mit dem BSE-Detektor.
        • Bruchfläche von Edelstahl, abgebildet mit Sekundärelektronen im Hochvakuum.
        • Zinkphosphatbeschichtung, abgebildet mit SE-Detektor im Hochvakuum.
          Zinkphosphatbeschichtung, abgebildet mit SE-Detektor im Hochvakuum.

          Zinkphosphatbeschichtung, abgebildet mit SE-Detektor im Hochvakuum.

          Zinkphosphatbeschichtung, abgebildet mit SE-Detektor im Hochvakuum.
        • Autositz-Schaumpolster, abgebildet ohne Beschichtung im druckvariablen Modus mit dem BSE-Detektor.
          Autositz-Schaumpolster, abgebildet ohne Beschichtung im druckvariablen Modus mit dem BSE-Detektor.

          Autositz-Schaumpolster, abgebildet ohne Beschichtung im druckvariablen Modus mit dem BSE-Detektor.

          Autositz-Schaumpolster, abgebildet ohne Beschichtung im druckvariablen Modus mit dem BSE-Detektor.
        • Bruchfläche von Edelstahl, abgebildet mit Sekundärelektronen im Hochvakuum.
          Bruchfläche von Edelstahl, abgebildet mit Sekundärelektronen im Hochvakuum.

          Bruchfläche von Edelstahl, abgebildet mit Sekundärelektronen im Hochvakuum.

          Bruchfläche von Edelstahl, abgebildet mit Sekundärelektronen im Hochvakuum.

        Fertigung und Montage

        • Qualitätsanalyse/Qualitätskontrolle
        • Schadensanalyse/Materialographie
        • Technische Sauberkeitsprüfung
        • Morphologische und chemische Analyse von Partikeln gemäß den Normen ISO 16232 und VDA 19 Teil 1 und 2
        • Analyse nichtmetallischer Einschlüsse (NMI)
        • Untersuchung der Drahtverbindung mit Sekundärelektronen-Imaging im Hochvakuum oder im druckvariablen Modus.
        • Korrodierte Nickelschicht, abgebildet mit Sekundärelektronen.
        • SE-Bild, das die Entstehung eines Haarkristalls auf einem elektronischen Bauteil zeigt.
        • Untersuchung der Drahtverbindung mit Sekundärelektronen-Imaging im Hochvakuum oder im druckvariablen Modus.
          Untersuchung der Drahtverbindung mit Sekundärelektronen-Imaging im Hochvakuum oder im druckvariablen Modus.

          Untersuchung der Drahtverbindung mit Sekundärelektronen-Imaging im Hochvakuum oder im druckvariablen Modus.

          Untersuchung der Drahtverbindung mit Sekundärelektronen-Imaging im Hochvakuum oder im druckvariablen Modus.
        • Korrodierte Nickelschicht, abgebildet mit Sekundärelektronen.
          Korrodierte Nickelschicht, abgebildet mit Sekundärelektronen.

          Korrodierte Nickelschicht, abgebildet mit Sekundärelektronen.

          Korrodierte Nickelschicht, abgebildet mit Sekundärelektronen.
        • SE-Bild, das die Entstehung eines Haarkristalls auf einem elektronischen Bauteil zeigt.
          SE-Bild, das die Entstehung eines Haarkristalls auf einem elektronischen Bauteil zeigt.

          SE-Bild, das die Entstehung eines Haarkristalls auf einem elektronischen Bauteil zeigt.

          SE-Bild, das die Entstehung eines Haarkristalls auf einem elektronischen Bauteil zeigt.

        Halbleiter und Elektronik

        • Visuelle Prüfung von elektronischen Komponenten, integrierten Schaltungen, MEMS und Solarzellen
        • Untersuchung von Kupferdrahtoberflächen und Kristallstrukturen
        • Untersuchung von Metallkorrosion
        • Querschnittsfehleranalysen
        • Bondfuß-Untersuchungen
        • Imaging von Kondensatoroberflächen
        • Querschnitt von verzinktem Weichstahl, abgebildet mit dem SE-Detektor auf EVO 15.
        • Oberfläche von S355-Stahl nach dem Strahlen mit Edelkorund F80.
        • Oberfläche einer Titanlegierung (Ti-6Al-4V), additiv gefertigt durch selektives Laserschmelzen, zeigt vollständig geschmolzene Bereiche neben ungeschmolzenen Ti-6Al-4V-Partikeln und anderen Materialien.
        • Querschnitt von verzinktem Weichstahl, abgebildet mit dem SE-Detektor auf EVO 15.
          Querschnitt von verzinktem Weichstahl, abgebildet mit dem SE-Detektor auf EVO 15.

          Querschnitt von verzinktem Weichstahl, abgebildet mit dem SE-Detektor auf EVO 15.

          Querschnitt von verzinktem Weichstahl, abgebildet mit dem SE-Detektor auf EVO 15.
        • Oberfläche von S355-Stahl nach dem Strahlen mit Edelkorund F80.
          Oberfläche von S355-Stahl nach dem Strahlen mit Edelkorund F80.

          Oberfläche von S355-Stahl nach dem Strahlen mit Edelkorund F80.

          Oberfläche von S355-Stahl nach dem Strahlen mit Edelkorund F80.
        • Oberfläche einer Titanlegierung (Ti-6Al-4V), additiv gefertigt durch selektives Laserschmelzen, zeigt vollständig geschmolzene Bereiche neben ungeschmolzenen Ti-6Al-4V-Partikeln und anderen Materialien.
          Oberfläche einer Titanlegierung (Ti-6Al-4V), additiv gefertigt durch selektives Laserschmelzen, zeigt vollständig geschmolzene Bereiche neben ungeschmolzenen Ti-6Al-4V-Partikeln und anderen Materialien.

          Oberfläche einer Titanlegierung (Ti-6Al-4V), additiv gefertigt durch selektives Laserschmelzen, zeigt vollständig geschmolzene Bereiche neben ungeschmolzenen Ti-6Al-4V-Partikeln und anderen Materialien.

          Oberfläche einer Titanlegierung (Ti-6Al-4V), additiv gefertigt durch selektives Laserschmelzen, zeigt vollständig geschmolzene Bereiche neben ungeschmolzenen Ti-6Al-4V-Partikeln und anderen Materialien.

        Stahl und andere Metalle

        • Imaging und Analyse der Struktur, chemischen Zusammensetzung und Kristallografie von metallischen Proben und Einschlüssen
        • Analyse von Phasen, Partikeln, Schweißnähten und Fehlstellen
        • Mineralogische Abbildung von Blauschiefer. Probe mit freundlicher Genehmigung von S. Owen.
        • Kupferschlackepartikel aus großer Kupferhütte in Sambia. Probe mit freundlicher Genehmigung von Petrolab, Großbritannien.
        • Peralkaliner Granit, Nord-Québec (Kanada) mit Seltene-Erden-Anteilen, einschließlich einer Fluoritader, die die Probe durchschneidet, und abgegrenztem Zirkon.
        • Mineralogische Abbildung von Blauschiefer. Probe mit freundlicher Genehmigung von S. Owen.
          Mineralogische Abbildung von Blauschiefer. Probe mit freundlicher Genehmigung von S. Owen.

          Mineralogische Abbildung von Blauschiefer. Probe mit freundlicher Genehmigung von S. Owen.

          Mineralogische Abbildung von Blauschiefer. Probe mit freundlicher Genehmigung von S. Owen.
        • Kupferschlackepartikel aus großer Kupferhütte in Sambia. Probe mit freundlicher Genehmigung von Petrolab, Großbritannien.
          Kupferschlackepartikel aus großer Kupferhütte in Sambia. Probe mit freundlicher Genehmigung von Petrolab, Großbritannien.

          Kupferschlackepartikel aus großer Kupferhütte in Sambia. Probe mit freundlicher Genehmigung von Petrolab, Großbritannien.

          Kupferschlackepartikel aus großer Kupferhütte in Sambia. Probe mit freundlicher Genehmigung von Petrolab, Großbritannien.
        • Peralkaliner Granit, Nord-Québec (Kanada) mit Seltene-Erden-Anteilen, einschließlich einer Fluoritader, die die Probe durchschneidet, und abgegrenztem Zirkon.
          Peralkaliner Granit, Nord-Québec (Kanada) mit Seltene-Erden-Anteilen, einschließlich einer Fluoritader, die die Probe durchschneidet, und abgegrenztem Zirkon.

          Peralkaliner Granit, Nord-Québec (Kanada) mit Seltene-Erden-Anteilen, einschließlich einer Fluoritader, die die Probe durchschneidet, und abgegrenztem Zirkon.

          Peralkaliner Granit, Nord-Québec (Kanada) mit Seltene-Erden-Anteilen, einschließlich einer Fluoritader, die die Probe durchschneidet, und abgegrenztem Zirkon.

        Rohstoffe

        • Morphologie, Mineralogie und kompositorische Analysen von geologischen Proben
        • Imaging und Analyse von Metallstrukturen, Frakturen und nichtmetallischen Einschlüssen
        • Morphologische und kompositorische Analysen von chemischen Rohstoffen und Wirkstoffen bei Mikronisierungs- und Granulationsprozessen
        • Ausdehnung und Risse überspannendes Netzwerk von selbstheilenden Mineralien, abgebildet mit einem SE-Detektor bei 12 kV, zeigt blumenähnliche Hydromagnesitstrukturen.
        • Graphen-Schaum-Struktur eines Batteriesystems, abgebildet im Hochvakuum mit dem SE-Detektor.
        • Verbundwerkstoffe für die Luft- und Raumfahrt, abgebildet mit dem C2D-Detektor bei 10 kV im druckvariablen Modus.
        • Ausdehnung und Risse überspannendes Netzwerk von selbstheilenden Mineralien, abgebildet mit einem SE-Detektor bei 12 kV, zeigt blumenähnliche Hydromagnesitstrukturen.
          Ausdehnung und Risse überspannendes Netzwerk von selbstheilenden Mineralien, abgebildet mit einem SE-Detektor bei 12 kV, zeigt blumenähnliche Hydromagnesitstrukturen.

          Ausdehnung und Risse überspannendes Netzwerk von selbstheilenden Mineralien, abgebildet mit einem SE-Detektor bei 12 kV, zeigt blumenähnliche Hydromagnesitstrukturen.

          Ausdehnung und Risse überspannendes Netzwerk von selbstheilenden Mineralien, abgebildet mit einem SE-Detektor bei 12 kV, zeigt blumenähnliche Hydromagnesitstrukturen.
        • Graphen-Schaum-Struktur eines Batteriesystems, abgebildet im Hochvakuum mit dem SE-Detektor.
          Graphen-Schaum-Struktur eines Batteriesystems, abgebildet im Hochvakuum mit dem SE-Detektor.

          Graphen-Schaum-Struktur eines Batteriesystems, abgebildet im Hochvakuum mit dem SE-Detektor.

          Graphen-Schaum-Struktur eines Batteriesystems, abgebildet im Hochvakuum mit dem SE-Detektor.
        • Verbundwerkstoffe für die Luft- und Raumfahrt, abgebildet mit dem C2D-Detektor bei 10 kV im druckvariablen Modus.
          Verbundwerkstoffe für die Luft- und Raumfahrt, abgebildet mit dem C2D-Detektor bei 10 kV im druckvariablen Modus.

          Verbundwerkstoffe für die Luft- und Raumfahrt, abgebildet mit dem C2D-Detektor bei 10 kV im druckvariablen Modus.

          Verbundwerkstoffe für die Luft- und Raumfahrt, abgebildet mit dem C2D-Detektor bei 10 kV im druckvariablen Modus.

        Materialwissenschaftliche Forschung

        • Charakterisierung von leitfähigen und nichtleitenden Materialproben zu Forschungszwecken
        • Falschfarbendarstellung von Mehltau auf der Oberseite eines Blatts. Abgebildet mit dem C2DX-Detektor bei 570 Pa, Wasserdampf bei 1 °C, 20 kV.
        • Detail eines Pseudoskorpions, abgebildet mit dem BSE-Detektor im Hochvakuum bei 20 kV.
        • Baumpollen, abgebildet mit EP- und C2DX-Detektor bei knapp 100 % relativer Feuchte.
        • Falschfarbendarstellung von Mehltau auf der Oberseite eines Blatts. Abgebildet mit dem C2DX-Detektor bei 570 Pa, Wasserdampf bei 1 °C, 20 kV.
          Falschfarbendarstellung von Mehltau auf der Oberseite eines Blatts. Abgebildet mit dem C2DX-Detektor bei 570 Pa, Wasserdampf bei 1 °C, 20 kV.

          Falschfarbendarstellung von Mehltau auf der Oberseite eines Blatts. Abgebildet mit dem C2DX-Detektor bei 570 Pa, Wasserdampf bei 1 °C, 20 kV.

          Falschfarbendarstellung von Mehltau auf der Oberseite eines Blatts. Abgebildet mit dem C2DX-Detektor bei 570 Pa, Wasserdampf bei 1 °C, 20 kV.
        • Detail eines Pseudoskorpions, abgebildet mit dem BSE-Detektor im Hochvakuum bei 20 kV.
          Detail eines Pseudoskorpions, abgebildet mit dem BSE-Detektor im Hochvakuum bei 20 kV.

          Detail eines Pseudoskorpions, abgebildet mit dem BSE-Detektor im Hochvakuum bei 20 kV.

          Detail eines Pseudoskorpions, abgebildet mit dem BSE-Detektor im Hochvakuum bei 20 kV.
        • Baumpollen, abgebildet mit EP- und C2DX-Detektor bei knapp 100 % relativer Feuchte.
          Baumpollen, abgebildet mit EP- und C2DX-Detektor bei knapp 100 % relativer Feuchte.

          Baumpollen, abgebildet mit EP- und C2DX-Detektor bei knapp 100 % relativer Feuchte.

          Baumpollen, abgebildet mit EP- und C2DX-Detektor bei knapp 100 % relativer Feuchte.

        Biowissenschaften

        • Erforschung von Pflanzen, Tieren und Mikroorganismen
        • Geschmolzenes Glas, das auf einer Wolframwendel erstarrt ist, weist darauf hin, dass die Glühbirne zum Zeitpunkt des Vorfalls geleuchtet hat.
        • Der C2D-Detektor erzeugt ausgezeichnete Bilder von unbeschichteten Proben im druckvariablen Modus, was für forensische Vergleiche von Fasern ideal ist.
        • Die Spur eines Schlagbolzens auf dem Schusswaffengehäuse kann zur Identifizierung der Waffe verwendet werden.
        • Geschmolzenes Glas, das auf einer Wolframwendel erstarrt ist, weist darauf hin, dass die Glühbirne zum Zeitpunkt des Vorfalls geleuchtet hat.
          Geschmolzenes Glas, das auf einer Wolframwendel erstarrt ist, weist darauf hin, dass die Glühbirne zum Zeitpunkt des Vorfalls geleuchtet hat.

          Geschmolzenes Glas, das auf einer Wolframwendel erstarrt ist, weist darauf hin, dass die Glühbirne zum Zeitpunkt des Vorfalls geleuchtet hat.

          Geschmolzenes Glas, das auf einer Wolframwendel erstarrt ist, weist darauf hin, dass die Glühbirne zum Zeitpunkt des Vorfalls geleuchtet hat.
        • Der C2D-Detektor erzeugt ausgezeichnete Bilder von unbeschichteten Proben im druckvariablen Modus, was für forensische Vergleiche von Fasern ideal ist.
          Der C2D-Detektor erzeugt ausgezeichnete Bilder von unbeschichteten Proben im druckvariablen Modus, was für forensische Vergleiche von Fasern ideal ist.

          Der C2D-Detektor erzeugt ausgezeichnete Bilder von unbeschichteten Proben im druckvariablen Modus, was für forensische Vergleiche von Fasern ideal ist.

          Der C2D-Detektor erzeugt ausgezeichnete Bilder von unbeschichteten Proben im druckvariablen Modus, was für forensische Vergleiche von Fasern ideal ist.
        • Die Spur eines Schlagbolzens auf dem Schusswaffengehäuse kann zur Identifizierung der Waffe verwendet werden.
          Die Spur eines Schlagbolzens auf dem Schusswaffengehäuse kann zur Identifizierung der Waffe verwendet werden.

          Die Spur eines Schlagbolzens auf dem Schusswaffengehäuse kann zur Identifizierung der Waffe verwendet werden.

          Die Spur eines Schlagbolzens auf dem Schusswaffengehäuse kann zur Identifizierung der Waffe verwendet werden.

        Forensik

        • Schmauchspuren
        • Analyse von Lack und Glas
        • Gefälschte Banknoten und Münzen
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            Erfassen Sie das Wesen Ihres Bauteils: Schnell. Einfach. Übergreifend.
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            Enhancing Material Inspection and Characterization Information and Data Integrity

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