ZEISS MultiSEM 505/506
Die schnellsten Rasterelektronenmikroskope der Welt
Entfesseln Sie eine Aufnahmegeschwindigkeit von 91 parallelen Elektronenstrahlen – und bilden Sie Proben im Zentimetermaßstab mit Nanometerauflösung ab. Dieses einmalige Rasterelektronenmikroskop ist für den verlässlichen Dauerbetrieb rund um die Uhr ausgelegt. Richten Sie einfach Ihren durchsatzstarken Datenerfassungs-Workflow ein und MultiSEM nimmt automatisch kontrastreiche Bilder auf.
Revolutionieren Sie die Geschwindigkeit der Elektronenmikroskopie
Mehrere parallel arbeitende Elektronenstrahlen sorgen für eine bislang unerreichte Imaging-Bruttogeschwindigkeit. Die Aufnahme eines Bereichs von 1 mm2 mit 4 nm Pixelgröße dauert nur wenige Minuten. Die konkurrenzlose Aufnahmegeschwindigkeit von mehr als 1 TB pro Stunde ermöglicht die Abbildung großer Volumina (> 1 mm3)in Nanometerauflösung. Optimierte Detektoren erfassen hocheffizient die sekundären Elektronensignale, sodass Sie Bilder mit hohem Kontrast und niedrigem Rauschen erhalten.
Bildbeschreibung: Schnitt durch ein Mäusehirn, maximale Aufnahmegeschwindigkeit 1,22 Gigapixel/Sekunde. Mit freundlicher Genehmigung von J. Lichtman, Harvard University, Cambridge, Massachusetts, USA.
Abbildung sehr großer Proben in Nanometerauflösung
Machen Sie keine Abstriche mehr bei der Probengröße, um die Nanometerauflösung zu erzielen. MultiSEM ist mit einem Probenhalter ausgestattet, der einen Bereich von 10 cm × 10 cm abdeckt und für den Dauerbetrieb rund um die Uhr ausgelegt ist. Endlich können Sie die gesamte Probe Abbilden und alles entdecken, was Sie zur Beantwortung Ihrer wissenschaftlichen Fragen benötigen. Sie erhalten das detaillierte Bild, ohne den makroskopischen Kontext zu verlieren.
Elektronenmikroskopie mit der ZEN Imaging Software
Durch die Einbindung von ZEN in MultiSEM bringen wir die Standardsoftware für ZEISS Lichtmikroskope in die Welt der Elektronenmikroskopie. Sie steuern MultiSEM direkt und intuitiv: Intelligente automatische Abstimmungsroutinen unterstützen Sie beim Erfassen optimaler Bilder in hoher Auflösung und Qualität. So erstellen Sie schnell und einfach selbst komplexe, automatisierte Aufnahmeverfahren, die an die Bildgebung Ihrer Proben angepasst und auf sie abgestimmt sind.
Die ZEISS MultiSEM Produktfamilie
MultiSEM 505
|
MultiSEM 506
|
|
---|---|---|
Anzahl der Strahlen |
61 |
91 |
Scananordnung |
Bildkachel aus 61 Unterbildern in einem hexagonalen Muster |
Bildkachel aus 91 Unterbildern in einem hexagonalen Muster |
Sehfeld mit 12 μm Teilungsgröße |
108 µm |
132 µm |
Sehfeld mit 15 μm Teilungsgröße (optional) |
135 µm |
165 µm |
Die Technologie hinter ZEISS MultiSEM
Mehrere parallele Elektronenstrahlen und Detektoren
MultiSEM arbeitet parallel mit einer großen Zahl von Elektronenstrahlen (grün: Beleuchtungspfad) und Detektoren. Ein fein abgestimmter Detektionspfad (rot) erfasst große Mengen von Sekundärelektronen (SE) für das Imaging. Jeder Strahl führt eine synchronisierte Scanning-Routine an einer Probenposition aus, wodurch sich ein einzelnes Unterbild ergibt. Die Elektronenstrahlen sind in einem hexagonalen Muster angeordnet. Das vollständige Bild wird gebildet, indem alle Bildkacheln miteinander verbunden werden. Für eine schnelle Datenaufzeichnung wird eine parallele Computerkonfiguration verwendet, was für eine hohe Imaging-Gesamtgeschwindigkeit sorgt. Bildaufnahme und Workflow-Kontrolle sind bei MultiSEM vollständig getrennt.
Externe Publikationen
- Brain mapping in high resolution (nature.com)
- Connectomics (Cell Press Nucleus)
- High throughput data acquisition with a multi-beam SEM
- Mission (im)possible – mapping the brain becomes a reality
- High-resolution, high-throughput imaging with MultiSEM 505
- Multiple-Beam Scanning Electron Microscopy (Microscopy Today)
- Further advancing the throughput of a multi-beam SEM