Software für die Elektronenmikroskopie – Die passende Lösung für Ihre Anwendung

Software für die Elektronenmikroskopie

Die passende Lösung für Ihre Anwendung

ZEISS Software für die Elektronenmikroskopie

ZEISS SmartSEM – Softwarelösung für SEM, FE-SEM und FIB-SEM

ZEISS SmartSEM

Die Softwarelösung für SEM-, FE-SEM- und FIB-SEM-Systeme

ZEISS SmartSEM ist Ihre Steuerungssoftware für ZEISS Elektronenmikroskope. Sie erhalten Zugang zu erweiterten Mikroskopeinstellungen und bewältigen so auch anspruchsvollste Aufgaben.

ZEISS Atlas 5 – Meistern Sie multidimensionale Herausforderungen

ZEISS Atlas 5

Meistern Sie multidimensionale Herausforderungen

In einer probenzentrierten, korrelativen Umgebung erstellen Sie umfangreiche multidimensionale und multimodale Bilder. Atlas 5 ist die leistungsstarke und gleichzeitig intuitive Lösung, die die Leistung von ZEISS SEMs (Rasterelektronenmikroskopen) und FIB-SEMs (SEMs mit fokussiertem Ionenstrahl) mehr als nur voll ausschöpft.

ZEISS Mineralogic – Automatisierte quantitative Mineralogie

ZEISS Mineralogic

Automatisierte quantitative Mineralogie

Die automatisierten quantitativen Mineralanalysen von ZEISS Mineralogic 2D und Mineralogic 3D kombinieren modernste Mikroskopietechnologie der Rasterelektronenmikroskopie (SEM) und Röntgenmikroskopie (XRM) mit branchenweit führender energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDX) und KI-basierten Deep-Learning-Algorithmen. Das eröffnet Ihnen mehr Möglichkeiten bei der Analyse und steigert die Produktivität.

ZEISS Smart PI – Smart Particle Investigator

ZEISS Smart PI

Smart Particle Investigator

SmartPI, der Smart Particle Investigator, ist Ihre moderne Software für die Partikelanalyse und -klassifizierung, die ein Rasterelektronenmikroskop in eine sofort einsatzbereite Lösung für technische Sauberkeitsanalysen oder für Metall- und Stahlanwendungen verwandelt. Dabei vereint SmartPI SEM-Steuerung, Bildverarbeitung und Elementaranalyse (EDX) in nur einer einzelnen Anwendung.

3DSM – Topografische Proben in 3D analysieren

3D-Oberflächenmodelle

Rekonstruieren Sie mit Ihrem SEM die Oberfläche von topografischen Proben

3D-Oberflächenmodelle – Probenoberflächen mit dem SEM rekonstruieren

Ihr Rasterelektronenmikroskop misst und analysiert alle Arten von Proben lediglich in 2D. Mit dem optionalen 3DSM Softwarepaket von ZEISS analysieren Sie Probenoberflächen auch in 3D. Durch die Rekonstruktion eines kompletten 3D-Modells Ihrer Probe anhand der Signale von Rückstreudetektoren erhalten Sie topografische Informationen.

Sie besitzen bereits ein ZEISS Mikroskop?

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