ZEISS Atlas 5

• Durch Atlas kombinieren Sie einen 16-Bit-Abtastgenerator und Signalerfassungshardware für duales Supersampling mit einer Bildverarbeitungs- und Steuerungssoftware.
• Nehmen Sie SEM-Bilder mit bis zu 32.000 × 32.000 Pixeln und FIB-SEM-Bilder mit bis zu 40.000 × 50.000 Pixeln auf. 
• Nutzen Sie für die Bildaufnahme eine Verweildauer zwischen 100 ns und 100 s, die sich in 100-ns-Schritten einstellen lassen.
• Speichern Sie Ihre Bilder mit einer Intensität von 8 oder 16 Bit.

• Reduzieren Sie die Aufnahmedauer und die Komplexität der Berechnung, indem Sie Interessensbereiche ausgehend von der tatsächlichen Form festlegen und eine Kachelaufnahme mit weniger Bildausschnitten erstellen.
• Verringern Sie Bewegungsverzögerungen des Tischs und damit den Umfang „verlorener“ Bildanteile aufgrund von Überlappungen.
• Minimieren Sie Strahlenschädigungen und Qualitätsverschlechterungen der Probe durch eine optimierte Anzahl von „Überlappungsrändern“.

• Definieren Sie mit großer Genauigkeit Interessensbereiche und scannen Sie nur diese festgelegten Bereiche mithilfe vordefinierter Imagingprotokolle.
• Erzielen Sie reproduzierbare Ergebnisse durch Ausarbeitung von Protokollen mit idealen Bildgebungsbedingungen.
• Sorgen Sie mit modernen Autofokus- und automatischen Astigmatismuskorrektur-Werkzeugen auch bei langen Aufnahmezeiten für scharfe Bilder.
• Bilden Sie Ihre Proben ab, wann und wo immer das nötig ist: Atlas 5 unterstützt mehrere Sitzungen an mehreren Geräten.
• Im probenzentrierten korrelativen Arbeitsbereich von Atlas 5 bringen Sie Ihre Bilder in einen Zusammenhang: Führen Sie 2D-Bilder und 3D-Volumendaten von mehreren Systemen zusammen.
• Importieren Sie Daten aus Licht-, Röntgen- und Elektronenmikroskopen sowie FIB-SEMs und richten Sie diese aus, um ein umfassendes, einheitliches Abbild Ihrer Probe zu erstellen.

• Korrelieren Sie Volumenscans von Ihrem ZEISS Röntgenmikroskop mit den Oberflächeneigenschaften, die in Ihrem FIB-SEM zu sehen sind.
• Verwenden Sie die röntgenmikroskopischen Daten, um in der FIB-Probe Merkmale, die unterhalb der Oberfläche liegen, virtuell in 3D zu lokalisieren – selbst, wenn sie in situ nicht sichtbar sind.
• Navigieren Sie anschließend mit Ihrem ZEISS FIB-SEM zielsicher zu diesen Bereichen.

Lernen Sie die Module von Atlas 5, ihre Funktionen und Konfigurationsmöglichkeiten kennen. Atlas 5 bietet Ihnen die optionale Möglichkeit, die Funktionen Ihres ZEISS SEM und FIB-SEM zu erweitern. Profitieren Sie von den fortschrittlichen Funktionen der zusätzlichen Module und erfahren Sie auch, wie nützlich diese in kombinierter Nutzung sein können. Voraussetzung für die Nutzung aller Atlas 5 Module ist eine installierte Version von Atlas 5. Für die Nutzung des optionalen Analytics Moduls wird das ZEISS spezifische Hardware- und Softwarepaket von Oxford Instruments benötigt. Das Analytics Modul für FIB-SEM erfordert Atlas 5 3D Tomography.

• Definieren Sie mit dem Clone Tool unkompliziert Bildgebungsbereiche für alle Schnitte.
• Lassen Sie das Snap Section Tool die Form des Schnitts automatisch erkennen.
• Verwalten Sie Aufnahmebereiche effizient und legen Sie schnittübergreifend Sub-Bereiche fest.
• Führen Sie mit dem Image Stack Export Tool alle Bilder zu einem 3D-Volumen zusammen und untersuchen Sie sie mit dem Image Stack Viewer.
• Profitieren Sie von 3D-Stapelausrichtung und Bildkorrekturen.
  

• Exportieren Sie einzelne oder mehrere Datensätze in ein Format, das sich mit einem gängigen Webbrowser anzeigen lässt.
• Nehmen Sie außerdem Messungen und Annotationen vor.
• Erstellen Sie ausgehend von Ihren Daten überzeugende Präsentationen und fügen Sie weitere Informationen wie PDF-Dateien, Bilder, Spektren, Videos oder Audiodateien hinzu.
• Geben Sie Mitarbeitenden, Studierenden und Fachkollegen die Möglichkeit, die Datensätze bei optimaler Auflösung zu untersuchen, und teilen Sie die Daten unkompliziert durch Speicherung auf einem Flash-Laufwerk oder Server.
• Die Benutzer können sich die Daten als Präsentation anzeigen lassen und diese jederzeit anhalten, um die Daten auch eigenständig durchzugehen.

Führen Sie Tomografien in drei Dimensionen durch:

• Erstellen Sie präzise 3D-Visualisierungen mit dem Modul für die 3D-FIB-SEM-Aufnahme mit automatisierter Probenpräparation.
• Messen und steuern Sie die Schnittdicke während der Tomografie präzise und erfassen Sie „True-Z“-Informationen für die genaue Verarbeitung Ihrer Daten.
• Sorgen Sie mit „Thin & Fast Tomography“ für ein genaues, durchgehendes, homogenes Tomogramm von Proben, die anfällig für Aufladung, Schrumpfung und Strahlenschäden sind.
• Erzielen Sie mit xROIs (Exact Regions of Interest), erweiterter Probennachverfolgung, vorausberechnender Driftkorrektur und automatischem Driftausgleich schneller hochwertige Daten.
• Nutzen Sie den Image Stack Viewer mit Stapelausrichtung für FIB-SEM-Bilder in 3D und Image Stack Export inklusive Bildrandschnittfunktion.