ZEISS SmartPI – Smart Particle Investigator

Software

Korrelative Analyse im Nanobereich

Speziell auf Ihre Anforderungen abgestimmte Lösungen für die Partikelanalyse

ZEISS Systeme analysieren Partikel auf Ihren Filtern und liefern Ihnen Informationen über die chemische Zusammensetzung des Materials. Verwenden Sie ein Elektronenmikroskop und SmartPI, um Ihre Analyse für bis zu 200.000 Partikel vollständig zu automatisieren. Das korrelative Partikelanalysesystem ist die optimale Lösung für die Verbindung von licht- und elektronenmikroskopischen Analysen. Natürlich unterstützt das System ISO 16232 und VDA 19.

Schnelle chemische und korrelative Partikelanalyse im Nanobereich

Sie überwachen die technische Sauberkeit Ihrer Komponenten und den Produktionsprozess. Damit sorgen Sie dafür, dass mechanische Komponenten reibungslos funktionieren. Dabei liegt Ihr Augenmerk auf der Vermeidung von Undichtigkeiten durch Risse, der Reduzierung von Verstopfungen von Düsen und Filtern sowie der Vorbeugung von Funktionsstörungen bei Pumpen und Ventilen.

Minimieren Sie Ihre Wartungskosten und maximieren Sie Ihre Betriebszeit.
ZEISS SmartPI für die vollautomatisierte Partikelanalyse im Nanobereich

Analysieren Sie mit einem Elektronenmikroskop bis zu 200.000 Partikel auf einem Filter und erfahren Sie optional alles, was Sie über die chemische Zusammensetzung des vorliegenden Materials wissen müssen – vollautomatisiert mit SmartPI.
ZEISS Correlative Particle Analysis

Messen und analysieren Sie in kurzer Zeit bis zu 200 kritische Partikel durch Charakterisierung mit dem Licht- und dem Elektronenmikroskop – schnell und höchst effektiv. Dieses korrelative Partikelanalysesystem für die EDX-Analyse Ihrer Partikel entspricht ISO 16232 und VDA 19.

SmartPI

SmartPI: Automatisierte Partikelanalyse

SmartPI ist ein automatisiertes Partikelanalysewerkzeug für Partikelgrößen im Nanometerbereich, mit dem Sie auch EDX-Analysen durchführen und Daten zur chemischen Zusammensetzung sammeln können. Selbst am Rand liegende Partikel werden richtig gezählt. EDX und SEM lassen sich über ein und dieselbe Benutzeroberfläche bedienen. Mit den verschiedenen Evaluierungsmethoden, Offline-Analysen und dem Ausschluss von Partikeln aus Messungen oder Statistiken können Sie die gewünschten Analyseebenen einstellen und aussagekräftige, gut dokumentierte Berichte erstellen. Rüsten Sie Ihr System mit Correlative Particle Analysis (CAPA) auf.

SmartPI für die automatisierte Partikelanalyse im Nanobereich umfasst:

Ein Elektronenmikroskop wie EVO, Sigma, MERLIN, ParticleSCAN, JetSCAN
Die SmartPI Software

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CAPA

Correlative Particle Analyzer

Schnelle Partikelanalyse

Wählen Sie für die chemische Partikelanalyse ein ZEISS Paket, das hohe Auflösung ermöglicht.
Erhalten Sie Ihre Ergebnisse bis zu 10× schneller.
Klassifizieren Sie reflektierende (d. h. metallische) und nicht reflektierende Partikel nach Größe und identifizieren Sie Fasern in Ihrem Lichtmikroskop.
Steuern Sie dieselben Partikel dann problemlos in Ihrem Elektronenmikroskop an und lassen Sie eine vollautomatisierte EDX-Analyse durchlaufen.
Fassen Sie die Ergebnisse der Analysen mit dem Licht- und Elektronenmikroskop in einem Bericht zusammen.
Erfüllen Sie die Normen ISO 16232 und VDA 19 für die Partikelanalyse.

Der Correlative Particle Analyzer für die Partikelanalyse umfasst:

Das Elektronenmikroskop EVO MA 10
Das vollmotorisierte Zoom-Mikroskop Axio Zoom.V16
Für die Korrelation geeignete Probenträger
Die AxioVision Correlative Particle Analyzer Software

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Downloads

Korrelative Partikelanalyse

Sparen Sie Zeit: Charakterisieren und klassifizieren Sie Partikel nach ISO 16232 mit Licht- und Elektronenmikroskopie

2 MB

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Particle Analyzer

Analysieren Sie kleinste Partikel: Genau und reproduzierbar

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Automatisierte mikroskopische Partikelmessung in der pharmazeutischen Industrie

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Mikroskop- und Messsysteme für Qualitätssicherung und -kontrolle

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Schnelle chemische und korrelative Partikelanalyse im Nanobereich

ZEISS SmartPI für die vollautomatisierte Partikelanalyse im Nanobereich

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