ZEISS SmartPI – Smart Particle Investigator
Software

ZEISS SmartPI

Smart Particle Investigator

Klassifizierung von Partikeln mittels energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDX)
Klassifizierung von Partikeln mittels energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDX)

Klassifizierung von Partikeln mittels energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDX)

Ihre automatisierte SEM-Lösung für die Analyse und Klassifizierung von Partikeln

Partikel erkennen, analysieren und klassifizieren

SmartPI, der Smart Particle Investigator, ist Ihre moderne Software für die Partikelanalyse und -klassifizierung, die ein Rasterelektronenmikroskop in eine sofort einsatzbereite Lösung für technische Sauberkeitsanalysen oder für Metall- und Stahlanwendungen verwandelt. Dabei vereint SmartPI SEM-Steuerung, Bildverarbeitung und Elementaranalyse (EDX) in nur einer einzelnen Anwendung.

  • Steuern Sie SEM-Imaging und EDX-Analysen mit ein und derselben Software.
  • Führen Sie unbeaufsichtigte, automatisierte Partikelanalysen durch.
  • Erhalten Sie reproduzierbare Daten und erstellen Sie normenkonforme Berichte.
  • Kombinieren Sie SmartPI mit für die Partikelanalyse geeigneten Lichtmikroskopen von ZEISS und konfigurieren Sie korrelative Workflows.
  • Profitieren Sie vom globalen ZEISS Service und Support für Ihr gesamtes System.
  • SmartPI erfüllt die Normen ISO 16232 und VDA 19 für technische Sauberkeit.

Auf industrielle Anforderungen zugeschnitten

SmartPI wurde in enger Zusammenarbeit mit einem globalen Zulieferer von Automobilteilen entwickelt, der einen konkreten Bedarf an einem leistungsfähigen und gleichzeitig benutzerfreundlichen System zur Identifizierung und Klassifizierung von Partikeln hatte. Dabei wurden nicht nur die aktuellen Anforderungen an technische Sauberkeitsanalysen berücksichtigt, sondern auch Aspekte der Nutzerfreundlichkeit für typische industrielle Umgebungen. Schließlich ist nicht jeder Bediener ein Mikroskopieexperte, und Lösungen werden häufig an mehreren Standorten rund um den Globus bereitgestellt.

  • Einfachheit ist das Schlüsselwort

    Die SmartPI-Automatisierung vereinfacht die Bedienung. Deshalb müssen Sie kein Mikroskopieexperte sein, um aussagekräftige Daten zu erhalten. Gleichzeitig können Bediener mit mehr Erfahrung einfach Vorlagen erstellen oder modifizieren und Analyseroutinen somit an spezifische Anforderungen anpassen. Sämtliche Vorlagen, Systemkonfigurationen und Partikeldaten werden in einer prüfsicheren Datenbank gespeichert, die einfache Datenprüfungen und -exporte ermöglicht.

  • Intelligente Erkennung von Partikeln

    Mithilfe eines ausgeklügelten Algorithmus für das Stitching von am Rand liegenden Partikeln erkennt, charakterisiert und klassifiziert SmartPI auch Partikel, die über mehrere Sehfelder verteilt sind. Dazu gehören etwa abgeschnittene Partikel in einem Partikeldatensatz. Dies ist insbesondere dann wichtig, wenn größere Partikel in der Statistik berücksichtigt werden sollen. Andernfalls würden Analysen der technischen Sauberkeit oder der Qualität von Stahl nachteilig beeinflusst.

  • Eine voll integrierte Lösung

    Sie steuern SEM-Imaging und EDX-Analysen mit derselben Software auf demselben PC. ZEISS SmartPI legt alle Daten am selben Ort ab und sorgt so für die Integrität von SEM- und EDX-Daten sowie für eine effiziente Datenabfrage. Auch wenn das EDX-System von einem anderen Anbieter stammt, wird das gesamte SmartPI System vom globalen ZEISS Service- und Anwendungsteam unterstützt – damit Sie Kundenservice aus einer Hand erhalten.

SmartPI in der Anwendung

  • Auto-calibration Procedures
  • Morphological and Chemical Classification
  • Exclusion of fibers, for example, via limitation of the parameter elongation
  • Stop criteria setup page
  • Use the review mode to re-examine single particles and see all of their properties including EDS composition and material classification.
  • SmartPI Explorer navigation window with multi-particle view
  • VDA 19 cleanliness report generated in SmartPI Reporter
  • Selbstkalibrierungsverfahren
    Selbstkalibrierungsverfahren

    Selbstkalibrierungsverfahren

    Selbstkalibrierungsverfahren

    SmartPI führt vor jedem automatischen Durchlauf und regelmäßig während des Durchlaufs Selbstdiagnose- und Selbstkalibrierungsroutinen durch. Dadurch werden die Systemstabilität und genaue, reproduzierbare Ergebnisse sichergestellt. Sollte ein automatischer Durchlauf einmal unterbrochen werden, beispielsweise weil eine Kathode ausgetauscht werden muss, wird ein automatischer Wiederherstellungsprozess initiiert.

  • Morphologische und chemische Klassifizierung
    Morphologische und chemische Klassifizierung

    Morphologische und chemische Klassifizierung

    Morphologische und chemische Klassifizierung

    SmartPI nutzt fortschrittliche Bildverarbeitungs- und Analysetechniken, um verschiedene morphologische Merkmale für jedes erkannte Partikel zu messen. Anschließend werden EDX-Analysen zur Bestimmung der chemischen Zusammensetzung jedes Partikels ausgeführt. Analysieren Sie Partikel rasch im Spot Mode oder im Detail mit dem erweiterten ZEISS Feature Scan Mode. Dabei wird die gesamte Partikelform gescannt, um eine genauere Klassifizierung zu erzielen.

  • Ausschluss von Fasern, beispielsweise über die Beschränkung des Parameters „Elongation“
    Ausschluss von Fasern, beispielsweise über die Beschränkung des Parameters „Elongation“.

    Ausschluss von Fasern, beispielsweise über die Beschränkung des Parameters „Elongation“.

    Ausschluss von Fasern, beispielsweise über die Beschränkung des Parameters „Elongation“.

    Ausschluss von der Messung

    SmartPI erlaubt es Ihnen, Partikel von der nachfolgenden Bild- und Elementaranalyse auszuschließen, wenn diese für Ihre Untersuchung nicht von Interesse sind. Dadurch wahren Sie die Konsistenz in Ihrem Partikeldatensatz und minimieren die Laufzeiten. Das kann beispielsweise bei länglichen Fasern auf dem Filter der Fall sein, die möglicherweise vom Staub in der Umgebung stammen könnten und daher keinen Bezug zu Partikeln aus dem Fertigungsprozess haben.

  • Einrichtungsseite für Abbruchkriterien
    Einrichtungsseite für Abbruchkriterien

    Einrichtungsseite für Abbruchkriterien

    Einrichtungsseite für Abbruchkriterien

    Erweiterte Abbruchkriterien

    Um eine laufende Analyse automatisch anhalten zu lassen, können vorab mithilfe einer Reihe von erweiterten Abbruchkriterien spezifische Schwellenwerte definiert werden. Als Abbruchkriterien können Analysezeiten, die Anzahl der gezählten Partikel oder Felder, die Partikelgröße, eine bestimmte Klassifizierung oder ganz andere, von Ihnen spezifizierte Kriterien eingestellt werden. Diese Funktion lässt sich auf einzelne oder mehrere Proben anwenden, wodurch sich Analyselaufzeiten insgesamt deutlich verkürzen lassen. Außerdem kann der Anwender den Fortschritt in einem Fenster mit Live-Ergebnissen überwachen und darauf basierend entscheiden, ob ein Eingreifen erforderlich ist.

  • Verwenden Sie den Review Output Mode, um einzelne Partikel erneut zu untersuchen und alle ihre Eigenschaften einschließlich der EDX-Zusammensetzung und Materialklassifizierung auf einen Blick zu prüfen.
    Verwenden Sie den Review Output Mode, um einzelne Partikel erneut zu untersuchen und alle ihre Eigenschaften einschließlich der EDX-Zusammensetzung und Materialklassifizierung auf einen Blick zu prüfen.

    Verwenden Sie den Review Output Mode, um einzelne Partikel erneut zu untersuchen und alle ihre Eigenschaften einschließlich der EDX-Zusammensetzung und Materialklassifizierung auf einen Blick zu prüfen.

    Verwenden Sie den Review Output Mode, um einzelne Partikel erneut zu untersuchen und alle ihre Eigenschaften einschließlich der EDX-Zusammensetzung und Materialklassifizierung auf einen Blick zu prüfen.

    Interaktive und retrospektive Partikelklassifizierung

    Mithilfe des Review Output Mode können Sie Ihre Ergebnisse sorgfältig auswerten und darauf basierend Klassifizierungsvorlagen verbessern. Sie können darüber hinaus einzelne Partikel auch erneut untersuchen: Fahren Sie dazu lediglich den Probentisch zurück auf die entsprechenden Partikelkoordinaten. Mit dem Modus zur retrospektiven Analyse können Sie einfach neue Klassifizierungskriterien auf vorhandene Ergebnisse anwenden. So können Sie diese noch einmal ganz neu auswerten, ohne dass eine erneute Analyse der Probe nötig wäre.

  • Navigationsfenster von SmartPI Explorer mit einer Ansicht mehrerer Partikel

    Navigationsfenster von SmartPI Explorer mit einer Ansicht mehrerer Partikel

    Navigationsfenster von SmartPI Explorer mit einer Ansicht mehrerer Partikel

    SmartPI Explorer

    Mit dieser eigenständigen Anwendung können Sie Ergebnisse spezifisch anhand von einzelnen Spektren, Bildern von Partikeln und Feldern, am Rand liegenden Partikeln oder anderen, selbstgewählten Filterkriterien durchsuchen. Darüber hinaus stellt SmartPI Explorer Ihnen Archivierungsoptionen und eine Bildmontagefunktion zu Verfügung, mit dem sich aus den Abbildungen analysierter Felder ein zusammengefügtes Bild erstellen lässt. Der Explorer kann auch offline genutzt werden, damit das System mehr Kapazität für Analysen hat.

  • Mit SmartPI Reporter erstellter, VDA 19-konformer Bericht zur technischen Sauberkeit
    Mit SmartPI Reporter erstellter, VDA 19-konformer Bericht zur technischen Sauberkeit

    Mit SmartPI Reporter erstellter, VDA 19-konformer Bericht zur technischen Sauberkeit

    Mit SmartPI Reporter erstellter, VDA 19-konformer Bericht zur technischen Sauberkeit

    SmartPI Reporter

    Diese eigenständige Anwendung verfügt über eine Reihe von integrierten Tools, mit denen Sie dedizierte Berichte erstellen können. SmartPI Reporter erleichtert Ihnen die Arbeit mit Drag & Drop-Funktionen, bearbeitbaren Berichtsvorlagen und direkt nutzbaren ISO- oder VDA-konformen Berichten. Sobald Sie Ihren spezifischen Bericht definiert haben, können Sie ihn als Vorlage für spätere Berichte speichern. Verwenden Sie SmartPI Reporter online für die sofortige Berichterstellung oder offline, wenn Sie Ergebnisse zu einem späteren Zeitpunkt analysieren.

Empfohlene SEM-Plattformen

EVO Rasterelektronenmikroskop

EVO Rasterelektronenmikroskop

EVO ist das SEM der Wahl für routinemäßige Materialanalysen oder Aufgaben in der industriellen Qualitätssicherung und Fehleranalyse. Der große und motorisierte Tisch mit fünf Achsen und die benutzerfreundliche SmartSEM-Software machen EVO zu einer hochgradig konfigurierbaren Bildgebungsplattform, die sich sehr gut für Anwendungen in der Partikelanalyse eignet. EVO ist mit druckvariablem Modus (VP) erhältlich, der Bildgebung und Analyse von nichtleitenden Proben wie Filtern erlaubt, ohne dass eine leitfähige Beschichtung aufgetragen werden muss. Dadurch bleibt der Filter für weitere Analysen intakt, etwa mit dem Raman- oder FTIR-Spektrometer.

Sigma Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop

Sigma Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop

Sigma ist das richtige SEM für Nutzer, die eine sehr hohe Auflösung für Partikelanalysen im Nanometerbereich benötigen. Als Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM) liefert Sigma herausragende Imaging- und Analyseergebnisse. Möglich macht dies die Gemini-Säulentechnologie. Die Gemini Optik ermöglicht es Ihnen, mit dieser Plattform, die sich hervorragend für Elementaranalysen insbesondere bei magnetischen Proben eignet, Imaging-Aufgaben mit höchster Auflösung durchzuführen.

Downloads

    • ZEISS SmartPI

      Ihre automatisierte REM-Lösung für die Partikelanalyse und -klassifizierung

      10 MB


    • ZEISS SmartPI

      Automated Identification of Asbestos

      11 MB


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