Service und Support

Erweiterungen für Xradia Ultra

Für eine längere Lebensdauer
und erweiterte Funktionalität

Zubehör

Mikroskop mit zusätzlichen Probenträgern für unterschiedliche Probenarten erweitern

Probenträger

Sicherer Halt für verschiedenste Probengrößen und -arten

ZEISS Probenträger werden ausgehend von kinematischen Grundsätzen konzipiert, um so die präzise, wiederholbare Platzierung auf dem Probentisch zu ermöglichen. Jede Konstruktion hat ihre eigenen Greifmethoden, um die Probe optimal für den Imaging-Prozess zu positionieren. Darüber hinaus ermöglicht die Konstruktionen Stabilität bei der Röntgenbildgebung.

Vorteile:

  • Unterstützung eines breiten Spektrums an Probenmaterialien und -formen
  • Stabile mechanische und thermische Halteverfahren
  • Einfacher Probentausch

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Analyse und Software

Mit moderner Hardware und Rechensoftware von ZEISS den Bedienkomfort und die Intensität des Analyse-Workflows verbessern

Analyse-Workstation

Konfiguriert und bewährt für Visualisierung und Rechenleistung

Damit Geräte stets für die Bildgebung verfügbar sind, optimieren viele Anwender ihren Workflow mit einer zweiten Workstation für die Analyse. Eine solche zweite Workstation unterstützt zusätzliche Studien mit optimierter Rekonstruktion, Navigation und Visualisierung von Datensätzen sowie der Möglichkeit der Ergebnisnachbearbeitung.

Vorteile:

  • Maximierte Verfügbarkeit für das Imaging
  • Verbesserter Ergebnisdurchsatz
  • Unterstützung erweiterter Visualisierungs- und Analyse-Softwarepakete
  • Zuverlässige Erweiterung des Datenspeicherplatzes

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ORS Dragonfly Pro

Die bedienfreundliche Lösung für die erweiterte Analyse und Visualisierung

ORS Dragonfly Pro ist exklusiv über ZEISS erhältlich und stellt ein intuitives, vollständiges und individuell anpassbares Toolkit zur Visualisierung und Analyse großer 3D-Graustufendaten bereit. Darüber hinaus ermöglicht Dragonfly Pro Ihnen die Navigation und Annotation Ihrer 3D-Daten und die Erstellung von Mediendateien einschließlich Videos. Quantifizieren Sie Ihre Ergebnisse mittels Bildverarbeitung, Segmentierung und Objektanalyse.

Vorteile:

  • Rendering von High-Definition-Grafiken
  • Erstellung umfassender 3D-Videos
  • Objektanalyse
  • Machine-Learning-Segmentierung
  • Makro-Aufzeichnung für repetitive Arbeitsabläufe
  • Python-Anpassungssoftwarepakete

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Testversion der Software

In-situ-Erweiterungen

Nutzen Sie den Vorteil der zerstörungsfreien Technik der 3D-Röntgenbildgebung, um den Einfluss sich verändernder externer Bedingungen auf Mikro- und Nanostrukturen zu untersuchen

Xradia Ultra Load Stage

Tisch für das 3D-Röntgen-Imaging während nanomechanischer In-situ-Tests

ZEISS Xradia Ultra Load Stage ermöglicht auf einzigartige Weise die nanomechanische In-situ-Prüfung – Kompression, Spannung, Eindringung – mit zerstörungsfreiem 3D-Imaging. So können Sie die Entwicklung der inneren Strukturen in 3D bei einer Auflösung bis hinunter zu 50 nm untersuchen – und das unter Belastung. Erkennen Sie, wie Verformungsereignisse und Versagen mit lokalen Merkmalen im Nanobereich zusammenhängen. Ergänzen Sie bestehende mechanische Prüfverfahren, um auf verschiedenen Längenskalen Einblicke in das Verhalten zu gewinnen.

Vorteile:

  • Erweiterung Ihres Mikroskops mit In-situ-Funktionen für nanomechanische Tests
  • Erstellung von 3D-Tomogrammen Ihrer Proben unter Belastung (Auflösung bis 50 nm)
  • Durchführung verschiedener nanomechanischer Tests
  • Untersuchung eines breiten Spektrums an Materialien
  • Ergänzung mechanischer Testergebnisse aus Elektronenmikroskopie, microCT und Stand-alone-Versuchsaufbauten

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Module und Komponenten

Systemfunktionen mit Zusatzkomponenten und Modulen erweitern

Zernike-Phasenkontrast

Visualisierung von Materialien geringer Dichte und Erkennung von Rissen und Grenzflächen

Die Phasenkontrastbildgebung verwendet statt der Absorption von Röntgenstrahlen deren Refraktion. Sie bietet gerade an Grenzflächen zwischen Materialien ähnlicher Dichte oder geringer Absorption eine hohe Empfindlichkeit (Kantenverbesserung). Mit der Xradia Ultra Produktfamilie steht Ihnen das Zernike-Verfahren für den Phasenkontrast zur Verfügung. Dabei wird die Probe mit einem ringförmigen Strahl beleuchtet. Hinter dem Objektiv wird ein Phasenring in den Strahlengang eingefügt. Der Phasenring verschiebt die Phase des Hintergrundlichts relativ zu dem von der Probe gestreuten Licht. Die Interferenz der beiden Strahlen in der Detektorebene setzt die Phasenverschiebung in Intensitätsunterschiede um.

Vorteile:

  • Abbildung von Proben aus Materialien geringer Dichte, die Röntgenstrahlen in nicht messbarem Umfang absorbieren
  • Erkennung von feinen Rissen und Grenzflächen in Proben
  • Bildgebung verschiedenster Materialien von Polymeren und Biomaterialien bis zu Keramik, Verbundstoffen, Gestein und Metall durch Kombination aus Absorption und Phasenkontrast

Systemerweiterungen

Mit dem Upgrade auf das nächste Modell Leistung und Funktionen Ihres Geräts erweitern

Umrüstung von Xradia 800 Ultra auf Xradia 810 Ultra

Verzehnfachen Sie den Durchsatz bei der Bildgebung

In der Röntgenmikroskopie (XRM) hängt der Kontrast vom abgebildeten Material und der verwendeten Röntgenstrahlenenergie ab. Die Xradia Ultra Produktfamilie besteht aus Xradia 800 Ultra mit einer Photonenenergie von 8 keV und Xradia 810 Ultra mit 5,4 keV. Grundsätzlich werden Röntgenstrahlen niedrigerer Energie stärker absorbiert und liefern damit einen höheren Kontrast. Solange die Transmission ausreichend ist, werden Bildqualität und/oder Durchsatz mit Xradia 810 Ultra dadurch wesentlich verbessert. Bei Materialien höherer Dichte und dicken Proben müssen Sie für eine ausreichende Transmission ggf. die höhere Röntgenstrahlenenergie von Xradia 800 Ultra verwenden. 

Vorteile:

  • Verbesserter Abbildungskontrast und Durchsatz bei Materialien geringer bis mittlerer Dichte
  • Für Materialien wie Gestein und Dentin wurde bei gleichbleibender Bildqualität ein zehnfach höherer Durchsatz erzielt.

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