ZEISS Feldemissionsraster-elektronenmikroskope verbessern Subnanometer-Bildgebung, Analytik und Probenflexibilität

Jena, Deutschland | 23. November 2020 | ZEISS Research Microscopy Solutions

ZEISS präsentiert eine neue Generation seiner Feldemissions-Rasterelektronenmikroskope (FE-REM) - ZEISS GeminiSEM. Die neuen Modelle ZEISS GeminiSEM 360, 460 und 560 erreichen Sub-Nanometer Auflösung und vereinfachen die Analytik beliebiger Proben. Anwender profitieren bei der Abbildung empfindlichster Proben von besserer Bildqualität, einfacher Bedienbarkeit und hoher Flexibilität. Mit dem Modell ZEISS GeminiSEM 560 kommt auch erstmals die neue Elektronenoptik ZEISS Gemini 3 auf den Markt.

Die neue ZEISS GeminiSEM-Familie liefert mehr Informationen zu jeder Probe, minimiert Probenschädigungen und verhindert Probenartefakte. Alle drei Modelle verfügen über ein völlig neues Design der Probenkammer, in die Forscher größere und mehr Proben als zuvor einbringen können. Somit können Wissenschaftler mit einem einzigen Instrument eine Vielzahl analytischer Anwendungen durchführen. Die einzigartigen Designs der Elektronenoptik ZEISS Gemini erfüllen in Verbindung mit der neuen großen und flexiblen Kammer alle Anforderungen für Bildgebung und Analytik. Die größere Kammer verbessert die Konfigurierbarkeit und Flexibilität für zukünftige Forschungsaufgaben und optimiert analytische Arbeitsabläufe.

ZEISS GeminiSEM 560 setzt einen neuen Standard für die Oberflächenabbildung. Die Einführung der ZEISS Gemini 3 Elektronenoptik mit Nano-twin-Objektivlinse und Smart Autopilot ermöglicht die Abbildung empfindlicher Proben in sehr hohen Auflösungen. Das Modell 560 der ZEISS GeminiSEM-Familie erreicht die höchste Auflösung an allen Arbeitspunkten und verschiebt die Grenzen der immersionsfreien und Niederspannungsabbildung. Das System ermöglicht magnetfeldfreie Abbildungen unter einem Kilovolt.

Das neue elektronenoptische Design verbessert zusammen mit neuen Autofunktionen und dem Autofokus den Leistungsumfang und die Effizienz des Systems erheblich. In Forschungseinrichtungen können selbst unerfahrene Benutzer ohne die Unterstützung der verantwortlichen Wissenschaftler oder Projektleiter beste Ergebnisse erzielen.

Der Wechsel von Standard zu fortgeschrittenen Einstellungen ist für Benutzer mühelos möglich. Ein neuer Übersichtsmodus vereinfacht die Orientierung auf der Probe. Benutzer können zudem ganz einfach von geringer zu hoher Vergrößerung wechseln, ohne die elektronenoptische Säule justieren zu müssen.
Das System ermöglicht das größte verzerrungsfreie Bildfeld seiner Klasse. Somit ist die Abbildung großer und herausfordernder Proben wie magnetischer Materialien möglich. Die patentierten Autofunktionen sind derzeit die schnellsten der Welt. Der Autofokus erzeugt in weniger als seiner Sekunde ein scharfes Bild.

„Diese Produkteinführung definiert die High-End-FE-REM-Bildgebung neu. Sie bringt die Entwicklung der branchenführenden Gemini-Optik weiter voran und ermöglicht Kunden, wissenschaftliche Durchbrüche zu erreichen“, kommentiert Dr. Michael Albiez, Leiter ZEISS Research Microscopy Solutions.

Zur Einführung des Systems sind Interessierte am 15. Dezember zu einem kostenlosen Webinar eingeladen. Beim digitalen Herbsttreffen der Materials Research Society MRS wird das System virtuell vorgestellt. Jeder kann über das Internet an der Vorstellung teilnehmen.