Captura de imágenes ultraestructurales a alta resolución

Consiga una captura de imágenes de alto contraste con una resolución subnanométrica con microscopios electrónicos de barrido de emisión de campo, incluida la familia ZEISS GeminiSEM y la familia ZEISS Sigma. Experimente una captura de imágenes tipo TEM con su FE-SEM para una visualización precisa de las estructuras intracelulares, los orgánulos y los virus en sus secciones ultrafinas de muestras embutidas en resina.

ZEISS ha desarrollado una novedosa tecnología SEM de múltiples haces para la captura de imágenes de áreas de muestra grandes, la familia ZEISS MultiSEM. En colaboración con los robots de preparación de muestras, MultiSEM acelera drásticamente la adquisición de datos de ultrarresolución en 3D mediante la tomografía de matriz. El mapeo de volúmenes más grandes (1 mm³) de tejido cerebral, por ejemplo, para el análisis de conectómica, u otros tejidos a alta resolución, está ahora al alcance de la mano.

Consiga una captura de imágenes insuperable de la morfología superficial en una amplia gama de muestras con un SEM como ZEISS EVO o un FE-SEM como ZEISS Sigma, sin recubrimiento ni preparación sofisticada de las muestras. Capte imágenes de insectos o material óseo sin recubrir, muestras mojadas, secciones de rejilla, caras de bloques embutidas en resina o muestras vitrificadas. Use la presión variable para controlar las condiciones ambientales en la cámara y captar imágenes de muestras en condiciones de bajo vacío.