Nanociencias y nanomateriales
Resuelva los desafíos más acuciantes en nanociencias y nanotecnología
La innovación en nanotecnología está impulsada por una mayor demanda de dispositivos más baratos y rápidos. Para satisfacer esta demanda, la investigación en semiconductores, materiales de baja D, películas delgadas, fotónica y micro y nanofluídica, cada vez es más compleja. En otras palabras, existe una tendencia constante a hacer avanzar las nanociencias para que la tecnología pueda avanzar más allá de sus capacidades actuales.
Pero la investigación en nanomateriales está limitada por las herramientas de microscopía disponibles. Las herramientas adecuadas le pueden ayudar a obtener información crítica sobre sus muestras con facilidad y, cuanto más compleja sea su muestra o su investigación, más estrictos serán sus requisitos analíticos. Si su microscopio no puede mantenerse a la altura de las necesidades de su investigación, entonces usted y su proyecto quedarán rezagados.
«¿Qué haría si pudiera detectar momentos magnéticos tan pequeños como 1 magnetón de Bohr? Podría observar cómo se voltea un espín electrónico individual. Y eso es lo que estamos intentando hacer con nanoSQUIDs, dispositivos de interferencia cuántica superconductores. Incorporan un anillo intersectado por uniones de Josephson. Cuentan con barreras de túneles aislantes ultrafinas de aprox. 1 nm de grosor. Podemos fabricar SQUIDs con un ZEISS Orion Nanofab. Como las uniones son pequeñas, se necesita un TEM en muestras ultrafinas. Así se puede investigar con más detalle el daño en el cristal. La preparación específica del sitio, esencial para la reubicación de las regiones de interés, solo se puede hacer con un FIB-SEM. Para lograr resolución atómica, son fundamentales muestras de alta calidad lo más finas posibles».
Prepare una laminilla de TEM e investigue nanoSQUIDS
Nanopartículas de ZnO sobre una película de carbono
Serie de inclinación STEM, las imágenes de STEM en campo claro se muestran como un ejemplo de cuatro señales captadas en total de forma simultánea con el detector aSTEM usando el portamuestras especial para tomografía STEM. ZEISS GeminiSEM.
Tomografía y análisis en 3D
de un sistema metálico de múltiples capas ejemplificado mediante una moneda canadiense, flujo de trabajo típico de FIB-SEM que combina fresado, captura de imágenes, EBSD (parte superior del vídeo) y EDS (parte inferior). Detalles, fila superior de izquierda a derecha: EBSD, cobre, contraste de banda; EBSD, hierro, color Euler; EBSD, níquel, IPF X. Fila inferior, de izquierda a derecha: Mapas EDS de: cobre, hierro, níquel. ZEISS Crossbeam, ZEISS Atlas 5 con módulo de análisis en 3D, EDS, EBSD.