Análisis avanzado para aleaciones nuevas y complejas

Las propiedades de los metales y aleaciones se controlan a través de su microestructura en todos los pasos del proceso de producción, desde la fundición, el forjado y la extrusión hasta el mecanizado, la soldadura, la fabricación y el funcionamiento. Las microestructuras de material son tridimensionales y pueden no ser uniformes en todas las direcciones. Además, pueden contener poros, huecos, grietas, fases distintas y otras características geométricas. Por este motivo, es necesario realizar un escaneo de alta resolución con mapeo en 3D completo y tomografía computarizada de todas las características por debajo de la superficie y las variaciones de densidad.

Cuando es necesario captar imágenes a alta resolución, la tomografía computarizada (TC) de rayos X estándar está limitada a tamaños de muestra pequeños, debido a la naturaleza geométrica del aumento. Las mayores distancias de trabajo necesarias hacen que resulte imposible mantener una alta resolución (400 nm) para muestras más grandes. En comparación con los sistemas de TC estándares, los microscopios de rayos X de la serie ZEISS Xradia 600 Versa llevan incorporada la arquitectura de aumento de dos platinas con tecnología de fuente de rayos X de alto rendimiento, lo que permite realizar escaneos no destructivos, más análisis de muestras, un mayor contraste respecto al ruido, además de mejorar enormemente la resolución a una gran distancia, incluso en muestras de gran tamaño.

Esta función se ve potenciada por la LabDCT (tomografía de contraste de difracción), que permite el mapeo no destructivo de la orientación cristalográfica y la microestructura de los granos en 3D, lo que abre una nueva dimensión en la caracterización de aleaciones de metal y materiales policristalinos. Incluso se puede investigar la evolución microestructural con experimentos de captura de imágenes en 4D.