La técnica de ampliación de dos platinas ofrecida por ZEISS Xradia Versa logra resolución distancia (o RaaD) de forma única, lo cual le permite estudiar de manera efectiva el rango más amplio de tamaños de muestra, incluyendo aquellas dentro de cámaras in situ .

Las imágenes inicialmente se amplían mediante proyección geométrica, como con la microCT convencional. La imagen proyectada se arroja sobre un escintilador, convirtiendo los rayos X en una imagen de luz visible que después se amplía ópticamente mediante la óptica del microscopio antes de la adquisición por parte de un detector CCD.

Al reducirse la dependencia del aumento geométrico, se permite a las soluciones ZEISS Xradia Versa mantener una resolución espacial submicrónica de solo 500 nm con grandes distancias de trabajo.

Sistema de guía y control ZEN navx

Los investigadores de ZEISS estudiaron a los usuarios de XRM para comprender a fondo los problemas y retos a los que se enfrentan, incluidos sus sesgos, cómo los compensan y sus soluciones alternativas. Con esos datos en la mano, nuestro equipo de expertos desarrolló una guía sistemática incorporada, flujos de trabajo automatizados e información inteligente del sistema para permitir que incluso los usuarios principiantes logren resultados con mayor facilidad y eficiencia. Si usted es un usuario experto, ZEN navx le ofrece importantes ventajas de eficiencia, «desbloqueando» el sistema para permitirle explorar toda la versatilidad de los ZEISS Versa XRM. ZEN navx también proporciona una visualización de tipo infográfico que le ayudará a comprender las soluciones intermedias de sus elecciones, por ejemplo, entre resolución, campo de visión y rendimiento.

ZEN navx incluye un visor 3D incorporado para integrar la capacidad Volume Scout para una navegación en 3D integral. Esto agiliza el acceso a su muestra para localizar e identificar regiones específicas de interés a las que dirigirse para capturar imágenes de mayor resolución.

Entre las capacidades adicionales se incluye ZEN navx File Transfer Utility (o FTU), que pone los datos de su microscopio exactamente donde los necesita, cuando los necesita, sin tener que transferirlos manualmente de un sistema a otra estación de trabajo, o guardarlos en un disco duro para llevarlos de un sitio a otro. SmartShield funciona dentro de ZEN navx para proteger su sistema y su muestra de posibles daños.

FAST Mode, habilitado por su extensión de panel plano (FPX)

FAST Mode de ZEISS VersaXRM permite adquirir rápidamente imágenes 3D de todas las muestras mediante un escaneo de movimiento continuo. Este modo, utilizado con el detector de panel plano (FPX) opcional, permite la rotación continua de la muestra durante la captura de imágenes de rayos X en varios ángulos, eliminando el retardo de la adquisición tradicional por paradas y capturas. De este modo, pueden alcanzarse tiempos de escaneo drásticamente más rápidos cuando los tiempos de exposición son inferiores a 0,5 segundos, típicos del detector FPX grande y sensible. En general, puede esperar tiempos de adquisición de <1 a 5 minutos, e incluso inferiores a 20 segundos para necesidades de calidad de imagen menos estrictas.

FAST Mode permite navegar en 3D de forma auténtica y casi en tiempo real por todas las muestras gracias a la plena integración con el flujo de trabajo Volume Scout de ZEN navx. La adquisición en FAST Mode se integra a la perfección con Volume Scout para permitir una retroalimentación casi inmediata y una verdadera navegación en 3D hasta la región de interés correcta en sus muestras complejas.

Los microscopios de rayos X ZEISS Versa ofrecen la primera solución de captura de imágenes 3D de la industria para la mayor variedad de plataformas in situ, desde células de flujo de alta presión hasta platinas de tensión, compresión y térmicas. Al ir más allá de las tres dimensiones espaciales, se aprovecha la naturaleza no destructiva de la investigación con rayos X para ampliar sus estudios en la dimensión temporal con experimentos en 4D.

Estos estudios requieren alejar las muestras de la fuente de rayos X para acomodar los distintos tipos de plataformas in situ. En sistemas tradicionales de microCT, esto limita significativamente la resolución que se puede conseguir para sus muestras. Los ZEISS Versa XRM están equipados de forma única con arquitectura de ampliación de dos platinas con tecnología RaaD que permite la máxima resolución para la captura de imágenes in situ.

Las plataformas ZEISS Versa XRM pueden alojar una amplia variedad de equipos in situ, como los diseños personalizados para los usuarios. Puede añadir el kit de interfaz opcional in situ a su ZEISS Xradia XRM, que incluye un kit de integración mecánica, una robusta guía de cableado y otras funciones (vías de paso) junto con el software basado en recetas que simplifica su control desde dentro de las interfaces de usuario Versa Scout-and-Scan o ZEN navx. Cuando necesite ir más allá de los límites de resolución de sus experimentos in situ, convierta su ZEISS Xradia microCT o XRM en un microscopio de rayos X VersaXRM 730 y aproveche la tecnología RaaD para lograr el máximo rendimiento de captura de imágenes tomográficas de muestras dentro de cámaras o plataformas in situ.