ZEISS Xradia Context MicroCT La plataforma de MicroCT más avanzada de la industria
La tomografía microcomputarizada de ZEISS Xradia Context (microCT, por sus siglas en inglés) es un sistema fácil de usar para el análisis de todo tipo de muestras. Un detector de orden alto permite la elevada resolución de los pequeños detalles, incluso con volúmenes de captura de imágenes relativamente grandes. El sistema presenta un campo de visión grande, un montaje y una alineación rápidos de la muestra, un flujo de trabajo de adquisición optimizado y unos tiempos rápidos de exposición y reconstrucción de datos.
Captura de imágenes en 3D con todo el contexto
- Xradia Context le proporciona una excelente calidad de imagen, estabilidad y facilidad de uso, junto con un entorno con flujo de trabajo eficiente y un alto rendimiento de escaneo
- Resuelva pequeños detalles en su contexto 3D completo, incluso con un volumen de captura relativamente grande, con un detector de alta densidad de píxeles de seis megapíxeles
- Visualice estructuras enterradas de forma no destructiva en 3D para el análisis de procesos, el análisis de construcción y el análisis de fallos
- Maximice la ampliación geométrica con pequeñas muestras para identificar y caracterizar estructuras a escala micrónica con gran contraste y claridad
- Aproveche el flujo de trabajo de adquisición optimizado, los rápidos tiempos de exposición y la reconstrucción de datos
Vista de corte virtual del interior de un convertidor catalítico intacto
Basado en la plataforma Xradia de eficacia probada
- Con Xradia Context microCT se beneficiará de años de desarrollo y estabilidad probada, ya que se ha construido en la misma plataforma que la serie Xradia Versa
- Benefíciese de un sistema centrado en avances en alta resolución y alta calidad de obtención y reconstrucción de datos
- El sistema de control fácil de usar Scout-and-Scan le proporciona un entorno de flujo de trabajo eficiente
- Monte y alinee sus muestras rápidamente o amplíe su sistema con un Autoloader opcional para el manejo automatizado y el escaneo secuencial de hasta 14 muestras
- Con el kit in situ podrá realizar estudios en 4D e in situ para medir cambios en la microestructura de los materiales en condiciones variables
- Añada el kit de herramientas de reconstrucción avanzada para un rendimiento aún más rápido con excelente calidad de imagen
Escaneo con Context microCT de un reloj inteligente intacto.
Convertible a microscopio (XRM) Xradia Versa
- A medida que evolucionan sus necesidades de captura de imágenes, también debería hacerlo su instrumento. Xradia Context se une al portfolio de captura de imágenes de rayos X de ZEISS, beneficiándose del compromiso continuo de ZEISS de ampliar las capacidades y la funcionalidad de sus sistemas en el campo.
- Esto abre la puerta de la captura de imágenes tomográficas en 3D que está preparada para crecer al ritmo de sus necesidades: su Xradia Context microCT es el único microCT que se puede convertir en cualquier momento a CrystalCT o a una plataforma 5XX e incluso hasta un microscopio de rayos X (CRM) en 3D ZEISS Xradia 620 Versa.
Captura de imágenes del campo de visión completo de una mandíbula de oso
Detalles sobre la tecnología
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Calidad de imagen basada en tecnología probada
Experimente un excelente contraste y claridad de la imagen, permitiendo la diferenciación fácil de distintas fases y características para apoyar la segmentación y cuantificación posteriores de sus datos.
La excelente calidad de los datos se debe a varios factores, incluyendo características de la fuente, adaptación de la energía del haz, geometría del detector y sensibilidad, control ambiental, estabilidad vibracional y ante el movimiento, calibración minuciosa del sistema y precisión de reconstrucción. Xradia Context microCT se ha construido sobre la misma plataforma que la serie de microscopios de rayos X de eficacia probada Xradia Versa y ha heredado los mismos avances que ayudaban a Xradia Versa a sentar las bases en la captura de imágenes de rayos X en 3D de alto rendimiento en el laboratorio.
- Filtros de rayos X superiores de alta pureza para adaptarse a la muestra para el control del endurecimiento por haz
- Modos de corrección automatizada y mejorada del desplazamiento
- Avanzados algoritmos de reducción del endurecimiento por haz
- Avanzados algoritmos patentados adicionales para asegurar una calidad de imagen óptima
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Proteja fácilmente sus muestras para optimizar la configuración del experimento
SmartShield es una solución que protege su muestra y su microscopio. Este sistema automatizado para evitar colisiones funciona dentro del sistema de control Scout-and-Scan. Le permite navegar con Xradia Versa con más confianza que nunca. Con solo hacer clic con un botón, SmartShield crea una capa digital protectora basada en las dimensiones de su muestra.
Con SmartShield, se beneficia de:
- Mejor eficiencia del operario gracias a la configuración optimizada de la muestra
- Experiencia de usuario mejorada para usuarios principiantes y avanzados
- Protección de sus muestras valiosas y de su inversión
- Calidad de escaneo sin concesiones
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Modo de campo ancho
El modo de campo ancho (WFM) se puede usar para captar imágenes en un campo de visión ensanchado lateralmente. El campo de visión ensanchado lateralmente puede proporcionar un volumen 3D tres veces mayor para muestras grandes o proporcionar una mayor densidad de vóxeles para un campo de visión estándar. Todos los sistemas Xradia Versa cuentan con WFM con el objetivo de 0,4x. En combinación con el solapamiento vertical, la WFM le permite captar imágenes de muestras más grandes con una resolución excepcional.
Accesorios
Mejore su microscopio con accesorios adicionales para potenciar sus capacidades
Caja de herramientas de reconstrucción avanzada
Mayor rendimiento con calidad de imagen
Tecnologías de reconstrucción basadas en inteligencia artificial (IA) para sus sistemas ZEISS Xradia. Una comprensión exhaustiva de la física y las aplicaciones de rayos X le permite resolver algunos de los desafíos más difíciles en la captura de imágenes de maneras novedosas e innovadoras.
Autoloader
Maximice la utilización de su instrumento
Maximice el uso y minimice la intervención del usuario con el Autoloader opcional de ZEISS. Reduzca la frecuencia de interacción del usuario y aumente la productividad realizando múltiples análisis. Cargue hasta 14 estaciones de muestras, que pueden albergar hasta 70 muestras, déjelas en cola para que se analicen durante el día, o bien entre turnos.
Kit de interfaz in Situ
Amplíe los límites de la ciencia
Las plataformas ZEISS Xradia pueden alojar una amplia variedad de plataformas in situ, desde células de flujo de alta presión hasta platinas de tensión, compresión y térmicas y diseños personalizados para los usuarios. Al ir más allá de las tres dimensiones espaciales, se aprovecha la naturaleza no destructiva de la investigación con rayos X para ampliar sus estudios en la dimensión temporal con experimentos en 4D.
Visualización y análisis
ZEISS recomienda Dragonfly Pro
Una solución de software avanzado de visualización y análisis para sus datos en 3D captados mediante una serie de tecnologías, incluyendo rayos X, FIB-SEM, SEM y microscopía de iones de helio. ORS Dragonfly Pro está disponible exclusivamente a través de ZEISS y ofrece un kit de herramientas intuitivo, completo y personalizable para la visualización y el análisis de datos grandes en escala de grises y en 3D. Dragonfly Pro permite la navegación, la anotación y la creación de archivos de medios, incluida la producción de vídeo, de sus datos en 3D. Lleve a cabo el procesamiento de imágenes, la segmentación y el análisis de objetos para cuantificar sus resultados.