Producto

ZEISS Xradia Context MicroCT La plataforma de MicroCT más avanzada de la industria

La tomografía microcomputarizada de ZEISS Xradia Context (microCT, por sus siglas en inglés) es un sistema fácil de usar para el análisis de todo tipo de muestras. Un detector de orden alto permite la elevada resolución de los pequeños detalles, incluso con volúmenes de captura de imágenes relativamente grandes. El sistema presenta un campo de visión grande, un montaje y una alineación rápidos de la muestra, un flujo de trabajo de adquisición optimizado y unos tiempos rápidos de exposición y reconstrucción de datos.

Obtenga datos en 3D sobre componentes electrónicos intactos enteros, muestras de materiales grandes o especímenes biológicos.
Realice análisis de fallos no destructivos para identificar defectos internos sin cortar su muestra o pieza de trabajo.
Caracterice y cuantifique las heterogeneidades que definen el rendimiento en sus muestras geológicas, como porosidad, grietas, inclusiones, defectos o múltiples fases.
Realice estudios evolutivos en 4D mediante el tratamiento ex situ o la manipulación de la muestra in situ.
Conéctese al entorno de microscopía correlativa de ZEISS y capture imágenes de forma no destructiva en 3D para identificar regiones de interés para el análisis posterior.

Vista de corte virtual del interior de un convertidor catalítico intacto

Captura de imágenes en 3D con todo el contexto

Xradia Context le proporciona una excelente calidad de imagen, estabilidad y facilidad de uso, junto con un entorno con flujo de trabajo eficiente y un alto rendimiento de escaneo
Resuelva pequeños detalles en su contexto 3D completo, incluso con un volumen de captura relativamente grande, con un detector de alta densidad de píxeles de seis megapíxeles
Visualice estructuras enterradas de forma no destructiva en 3D para el análisis de procesos, el análisis de construcción y el análisis de fallos
Maximice la ampliación geométrica con pequeñas muestras para identificar y caracterizar estructuras a escala micrónica con gran contraste y claridad
Aproveche el flujo de trabajo de adquisición optimizado, los rápidos tiempos de exposición y la reconstrucción de datos

_{Vista de corte virtual del interior de un convertidor catalítico intacto}

Escaneo con Context microCT de un reloj inteligente intacto.

Basado en la plataforma Xradia de eficacia probada

Con Xradia Context microCT se beneficiará de años de desarrollo y estabilidad probada, ya que se ha construido en la misma plataforma que la serie Xradia Versa
Benefíciese de un sistema centrado en avances en alta resolución y alta calidad de obtención y reconstrucción de datos
El sistema de control fácil de usar Scout-and-Scan le proporciona un entorno de flujo de trabajo eficiente
Monte y alinee sus muestras rápidamente o amplíe su sistema con un Autoloader opcional para el manejo automatizado y el escaneo secuencial de hasta 14 muestras
Con el kit in situ podrá realizar estudios en 4D e in situ para medir cambios en la microestructura de los materiales en condiciones variables
Añada el kit de herramientas de reconstrucción avanzada para un rendimiento aún más rápido con excelente calidad de imagen

_{Escaneo con Context microCT de un reloj inteligente intacto.}

Captura de imágenes del campo de visión completo de una mandíbula de oso

Convertible a microscopio (XRM) Xradia Versa

A medida que evolucionan sus necesidades de captura de imágenes, también debería hacerlo su instrumento. Xradia Context se une al portfolio de captura de imágenes de rayos X de ZEISS, beneficiándose del compromiso continuo de ZEISS de ampliar las capacidades y la funcionalidad de sus sistemas en el campo.
Esto abre la puerta de la captura de imágenes tomográficas en 3D que está preparada para crecer al ritmo de sus necesidades: su Xradia Context microCT es el único microCT que se puede convertir en cualquier momento a CrystalCT o a una plataforma 5XX e incluso hasta un microscopio de rayos X (CRM) en 3D ZEISS Xradia 620 Versa.

_{Captura de imágenes del campo de visión completo de una mandíbula de oso}

Campos de aplicación

Electrónica

Escaneo con Context microCT en 3D de un altavoz inteligente. Visualice estructuras y defectos enterrados de forma no destructiva en 3D en una amplia gama de tamaños de muestras con resolución líder de su clase en el campo de visión elegido.
Fabricación

Renderizado en 3D de una bombilla. Se puede usar el contexto para realizar el escaneo de la muestra completa para comprobar estructuras internas o identificar defectos en componentes fabricados.
Ciencias de la vida

Vista en corte de renderizado 3D de un embrión de ratón embutido en parafina. Las estructuras internas son visibles con alto contraste. Muestra cortesía del Hospital general de Massachusetts.
Geociencia

Sección transversal virtual de una muestra de roca heterogénea que revela múltiples fases y porosidad.
Ciencias de los materiales

Sección transversal virtual mediante una batería de iones de litio ciclada y desempaquetada, que revela daño en el colector de corriente y las capas del cátodo. Muestra cortesía del Prof. D. U. Sauer y el Prof. E. Figgemeier, ISEA, Universidad de Aachen RWTH
Metales

Renderizado en 3D de los resultados de un escaneo rápido de una hoja de turbina para evaluar la geometría e inspeccionar en busca de defectos o grietas internos.

Xradia Context microCT se ha construido sobre la plataforma Xradia Versa establecida y de eficacia probada.

Calidad de imagen basada en tecnología probada

Experimente un excelente contraste y claridad de la imagen, permitiendo la diferenciación fácil de distintas fases y características para apoyar la segmentación y cuantificación posteriores de sus datos.

La excelente calidad de los datos se debe a varios factores, incluyendo características de la fuente, adaptación de la energía del haz, geometría del detector y sensibilidad, control ambiental, estabilidad vibracional y ante el movimiento, calibración minuciosa del sistema y precisión de reconstrucción. Xradia Context microCT se ha construido sobre la misma plataforma que la serie de microscopios de rayos X de eficacia probada Xradia Versa y ha heredado los mismos avances que ayudaban a Xradia Versa a sentar las bases en la captura de imágenes de rayos X en 3D de alto rendimiento en el laboratorio.

Filtros de rayos X superiores de alta pureza para adaptarse a la muestra para el control del endurecimiento por haz
Modos de corrección automatizada y mejorada del desplazamiento
Avanzados algoritmos de reducción del endurecimiento por haz
Avanzados algoritmos patentados adicionales para asegurar una calidad de imagen óptima
Proteja fácilmente sus muestras para optimizar la configuración del experimento

SmartShield es una solución que protege su muestra y su microscopio. Este sistema automatizado para evitar colisiones funciona dentro del sistema de control Scout-and-Scan. Le permite navegar con Xradia Versa con más confianza que nunca. Con solo hacer clic con un botón, SmartShield crea una capa digital protectora basada en las dimensiones de su muestra.

Con SmartShield, se beneficia de:

Mejor eficiencia del operario gracias a la configuración optimizada de la muestra
Experiencia de usuario mejorada para usuarios principiantes y avanzados
Protección de sus muestras valiosas y de su inversión
Calidad de escaneo sin concesiones
Modo de campo ancho

El modo de campo ancho (WFM) se puede usar para captar imágenes en un campo de visión ensanchado lateralmente. El campo de visión ensanchado lateralmente puede proporcionar un volumen 3D tres veces mayor para muestras grandes o proporcionar una mayor densidad de vóxeles para un campo de visión estándar. Todos los sistemas Xradia Versa cuentan con WFM con el objetivo de 0,4x. En combinación con el solapamiento vertical, la WFM le permite captar imágenes de muestras más grandes con una resolución excepcional.

Accesorios

Mejore su microscopio con accesorios adicionales para potenciar sus capacidades

Conjunto de datos de rayos X en 3D de una lente de cámara, captado usando ZEISS Xradia 620 Versa y DeepRecon Pro.

Caja de herramientas de reconstrucción avanzada

Mayor rendimiento con calidad de imagen

Tecnologías de reconstrucción basadas en inteligencia artificial (IA) para sus sistemas ZEISS Xradia. Una comprensión exhaustiva de la física y las aplicaciones de rayos X le permite resolver algunos de los desafíos más difíciles en la captura de imágenes de maneras novedosas e innovadoras.

Más información

Autoloader

Maximice la utilización de su instrumento

Maximice el uso y minimice la intervención del usuario con el Autoloader opcional de ZEISS. Reduzca la frecuencia de interacción del usuario y aumente la productividad realizando múltiples análisis. Cargue hasta 14 estaciones de muestras, que pueden albergar hasta 70 muestras, déjelas en cola para que se analicen durante el día, o bien entre turnos.

Kit de interfaz in Situ

Amplíe los límites de la ciencia

Las plataformas ZEISS Xradia pueden alojar una amplia variedad de plataformas in situ, desde células de flujo de alta presión hasta platinas de tensión, compresión y térmicas y diseños personalizados para los usuarios. Al ir más allá de las tres dimensiones espaciales, se aprovecha la naturaleza no destructiva de la investigación con rayos X para ampliar sus estudios en la dimensión temporal con experimentos en 4D.

Visualización y análisis

ZEISS recomienda Dragonfly Pro

Una solución de software avanzado de visualización y análisis para sus datos en 3D captados mediante una serie de tecnologías, incluyendo rayos X, FIB-SEM, SEM y microscopía de iones de helio. ORS Dragonfly Pro está disponible exclusivamente a través de ZEISS y ofrece un kit de herramientas intuitivo, completo y personalizable para la visualización y el análisis de datos grandes en escala de grises y en 3D. Dragonfly Pro permite la navegación, la anotación y la creación de archivos de medios, incluida la producción de vídeo, de sus datos en 3D. Lleve a cabo el procesamiento de imágenes, la segmentación y el análisis de objetos para cuantificar sus resultados.

Más información

Aplicaciones relacionadas

Descargas

ZEISS Xradia Context microCT

Your X-ray System for Today with Assurance for Tomorrow in English

8 MB

Descargar

3D X-ray Microscope Field Conversion and Upgrade Options

2 MB

Descargar

Flyer: ZEISS Xradia Context microCT

Increase your profitability and productivity with class-leading performance

825 KB

Descargar

Flyer: ZEISS Xradia Context microCT

Advance your R&D with high resolution, non-destructive 3D imaging

792 KB

Descargar

ZEISS Mineralogic 3D for Mining - Flyer

Your geometallurgy goals realized with maximum efficiency

539 KB

Descargar

ZEISS PhaseEvolve

Reveal contrast that has never been seen before

1 MB

Descargar

ZEISS Solutions for Semiconductor Development, Manufacturing, and Analysis

Accelerating Digital Transformation and Innovation for Semiconductor Electronics

13 MB

Descargar
Resolution of a 3D X-ray Microscope

Defining Meaningful Resolution Parameters

932 KB

Descargar

3D X-ray Imaging in Life Science Research

An Introduction to Capturing the 3D Structure of Biological Specimens Using X-rays

3 MB

Descargar

The building blocks of our solar system

Studying the Winchcombe meteorite

3 MB

Descargar