ZEISS Xradia CrystalCT El primer sistema comercial de MicroCT para la captura de imágenes cristalográficas
ZEISS Xradia CrystalCT amplía de forma única la potente técnica de la tomografía computarizada con la capacidad para revelar microestructuras granulares cristalográficas, transformando el modo en que se pueden estudiar los materiales policristalinos (como metales, fabricación aditiva, cerámica, fármacos y otros), lo que lleva a conocimientos nuevos y más profundos para su investigación de materiales.
Innovadora tomografía de contraste de difracción (DCT) en un MicroCT
Descubra los secretos cristalográficos de su muestra en su laboratorio
Una gama más amplia de posibilidades de investigación
La DCT en un microCT ofrece la posibilidad de captar imágenes de materiales policristalinos monofásicos dentro del alcance de los laboratorios de investigación técnica e industrial, cubriendo una amplia gama de muestras farmacéuticas, de metales, de materiales, de cerámica y de semiconductores en 3D. La finalidad del ZEISS Xradia CrystalCT especialmente diseñado incorpora conjuntos de apertura y tope de haz diseñados de forma precisa para aprovechar los haces de rayos X policromáticos divergentes para iluminar una región de interés y aumentar la sensibilidad a las señales de difracción más débiles de las muestras policristalinas.
Muestra de Al-(4 % Cu en peso) con dimensión de la sección de calibre de 1,25 mm (longitud), 1,0 mm (anchura) y 0,5 mm (grosor). Muestra escaneada usando HART de filotaxis helicoidal
Consiga un mayor contraste y calidad de imagen
ZEISS Xradia CrystalCT potencia la caracterización de materiales, el modelado y el descubrimiento mediante innovadores modos de escaneo de difracción. Los innovadores modos de adquisición DCT eliminan las limitaciones para tamaños de muestra más grandes, permitiéndole investigar más tipos de muestras. El mapeo fácil de granos de gran volumen permite escanear muestras con más rapidez y con una representación más precisa de los datos.
Consiga una mayor representatividad de la muestra para crear modelos computacionales de alta fidelidad
Una potente plataforma de MicroCT
ZEISS emplea su potente tecnología Xradia para ofrecer un rendimiento líder en el mundo en un microCT. Con una robusta platina, posicionamiento flexible de la fuente/muestra/detector controlado por software y un detector de array grande, obtendrá escaneos de alta calidad y alta resolución con el mejor contraste de su clase. Los sistemas de captura de imágenes por TC ZEISS Xradia superan sistemáticamente las expectativas de lo que puede lograr un microCT.
Ilustración esquemática de la geometría de proyección de CrystalCT. CrystalCT ofrece funcionalidades duales: tomografía de contraste de absorción y tomografía de contraste de difracción
Detalles sobre la tecnología
Gran representatividad de la muestra
Accesorios
Mejore su microscopio con accesorios adicionales para potenciar sus capacidades
Caja de herramientas de reconstrucción avanzada
Mayor rendimiento con calidad de imagen
Tecnologías de reconstrucción basadas en inteligencia artificial (IA) para sus sistemas ZEISS Xradia. Una comprensión exhaustiva de la física y las aplicaciones de rayos X le permite resolver algunos de los desafíos más difíciles en la captura de imágenes de maneras novedosas e innovadoras.
Autoloader
Maximice la utilización de su instrumento
Maximice el uso y minimice la intervención del usuario con el Autoloader opcional de ZEISS. Reduzca la frecuencia de interacción del usuario y aumente la productividad realizando múltiples análisis. Cargue hasta 14 estaciones de muestras, que pueden albergar hasta 70 muestras, déjelas en cola para que se analicen durante el día, o bien entre turnos.
Kit de interfaz in Situ
Amplíe los límites de la ciencia
Las plataformas ZEISS Xradia pueden alojar una amplia variedad de plataformas in situ, desde células de flujo de alta presión hasta platinas de tensión, compresión y térmicas y diseños personalizados para los usuarios. Al ir más allá de las tres dimensiones espaciales, se aprovecha la naturaleza no destructiva de la investigación con rayos X para ampliar sus estudios en la dimensión temporal con experimentos en 4D.
Visualización y análisis
ZEISS recomienda Dragonfly Pro
Una solución de software avanzado de visualización y análisis para sus datos en 3D captados mediante una serie de tecnologías, incluyendo rayos X, FIB-SEM, SEM y microscopía de iones de helio. ORS Dragonfly Pro está disponible exclusivamente a través de ZEISS y ofrece un kit de herramientas intuitivo, completo y personalizable para la visualización y el análisis de datos grandes en escala de grises y en 3D. Dragonfly Pro permite la navegación, la anotación y la creación de archivos de medios, incluida la producción de vídeo, de sus datos en 3D. Lleve a cabo el procesamiento de imágenes, la segmentación y el análisis de objetos para cuantificar sus resultados.