Producto

ZEISS LSM 900 para materiales

Versátil microscopio confocal para captura de imágenes avanzada y topografía de superficies

ZEISS LSM 900, el microscopio confocal de barrido láser (CLSM) de ZEISS es el único instrumento que necesitará para el análisis de materiales. Puede usarlo para caracterizar la topografía de superficies de microestructuras en 3D en su laboratorio o en instalaciones de varios usuarios. Combine todas las técnicas de contraste esenciales de microscopía óptica para materiales con topografía de alta precisión. Ahorre tiempo en la configuración, ya que no hay necesidad de cambiar microscopios. Capture imágenes confocales sin contacto al evaluar la rugosidad superficial. LSM 900 es la herramienta ideal para una instalación de varios usuarios. Amplíe su microscopio óptico vertical, ZEISS Axio Imager.Z2m o su microscopio óptico invertido ZEISS Axio Observer 7 con un módulo de barrido confocal.

Combine la captura de imágenes confocales y de microscopía óptica.
Investigue sus muestras de forma eficiente.
Amplíe el rango de captura de imágenes.

Análisis de fallos en teléfono móvil, imagen de textura, superposición, mapa de alturas codificado por colores (de izquierda a derecha)

Combine la captura de imágenes confocales y de microscopía óptica

LSM 900, la plataforma confocal de gama alta, se ha diseñado para aplicaciones de materiales exigentes tanto en 2D como en 3D.

Caracterice estructuras topográficas y evalúe la rugosidad superficial gracias a la captura de imágenes confocales sin contacto.
Determine el espesor de recubrimientos y películas finas de forma no destructiva.
Use una gama de técnicas de captura de imágenes, incluyendo la polarización y la fluorescencia en el modo confocal o de contraste óptico.
Caracterice muestras metalográficas en luz reflejada o secciones finas de roca o polímero en luz transmitida.

Captura de imágenes fácil con flujos de trabajo guiados

Investigue sus muestras de forma eficiente

Al realizar análisis y capturar imágenes sin necesidad de cambiar los microscopios, reducirá los tiempos de configuración y acelerará la obtención de los resultados.

Optimice sus procesos gracias a la obtención automatizada de datos en varias posiciones en la muestra.
Solo tiene que definir una región de interés (ROI) en su imagen general y captar únicamente el área que necesita
Tiene la ventaja de una flexibilidad total en tamaño y orientación de la región de interés con un campo de barrido de 6144 x 6144 píxeles
Asuma el control total de los datos y de su posprocesamiento

Amplíe el rango de captura de imágenes

Una unidad confocal amplía la capacidad para investigaciones de widefield:

Mejore su Axio Imager.Z2m o su Axio Observer 7 con LSM 900 y disfrutará de la ventaja añadida de su versatilidad en lo relativo al hardware, como objetivos, platinas e iluminación, así como en lo que respecta al software y a las interfaces.
Añada ZEISS ZEN Intellesis, una solución basada en el aprendizaje automático para la segmentación de imágenes y la identificación de fases.
O añada ZEISS ZEN Connect para superponer y organizar imágenes de cualquier fuente cuando realiza experimentos multimodales.
También puede gestionar sus datos de forma inteligente con ZEISS ZEN Data Storage.

Secciones ópticas ultrafinas en el rango de micrómetros

El principio confocal

Capte imágenes de toda la muestra en 3D

Descubra cómo funciona LSM 900, su microscopio confocal de barrido láser: utiliza la luz láser en una trayectoria de haz confocal para capturar secciones ópticas definidas de la muestra. Las secciones se combinan en una pila de imágenes tridimensional. Su apertura (normalmente denominada pinhole) está dispuesta de modo que la información desenfocada quede bloqueada y solo pueda detectarse la información enfocada.

_{Leyenda: Secciones ópticas ultrafinas en el rango de micrómetros}

Obtenga más información sobre la tecnología confocal

Esquema del principio confocal. Información enfocada (amarillo). Información desenfocada (líneas discontinuas rojas y azules).

Capte imágenes de toda la muestra en 3D

LSM 900 es un microscopio confocal de barrido láser que utiliza la luz láser en una trayectoria de haz confocal para capturar secciones ópticas definidas de la muestra y combinarlas en una pila de imágenes tridimensional. Su apertura (normalmente denominada pinhole) está dispuesta de modo que la información desenfocada quede bloqueada y solo pueda detectarse la información enfocada.

Se genera una imagen barriendo en la dirección x-y. La información enfocada aparece en blanco brillante, mientras que la información desenfocada se muestra en negro.
Al cambiar la distancia entre la muestra y la lente del objetivo, la muestra se secciona de forma óptica y se genera una pila de imágenes.
Al analizar la distribución de intensidad de un solo píxel a través de la pila de imágenes, se puede calcular la altura correspondiente. De este modo, se puede combinar la información de la altura en el campo de visión completo para formar un mapa de alturas.

Software

Inspeccione las superficies en 3D con ConfoMap

ConfoMap es la opción ideal para visualizar e inspeccionar la topografía de superficies en 3D. Evalúe la calidad y el rendimiento funcional de las superficies de acuerdo con las normas de metrología más recientes, como ISO 25178. Incluya exhaustivos estudios geométricos, funcionales y de rugosidad. Cree informes de análisis detallados de la superficie. Si añade módulos opcionales, podrá obtener análisis avanzados sobre textura de la superficie, contorno, granos y partículas, análisis Fourier 3D, evolución de la superficie y estadísticas.

Confíe en los objetivos C Epiplan-APOCHROMAT

Utilice el objetivo C Epiplan-APOCHROMAT con corrección apocromática y de campo plano para aplicaciones de luz reflejada.

Benefíciese de la captura de imágenes con mayor contraste y alta transmisión en el rango del espectro visible.
Consiga óptimos resultados en microscopía convencional widefield, en contraste de interferencias diferencial (DIC) y en fluorescencia.
Los objetivos C Epiplan-APOCHROMAT han sido diseñados especialmente para la microscopía confocal, con desviaciones mínimas a 405 nm en todo el campo de visión. Esto produce datos topográficos precisos con menos ruido y artefactos, mostrando así más detalles de la superficie.

Observe el efecto de los objetivos para la microscopía confocal:

En esta imagen no se muestran artefactos en los bordes y ruido en la superficie del plano.

Muestra captada con un objetivo C Epiplan-APOCHROMAT para una vista en 3D con una línea de perfil extraído

En esta imagen se ven claramente artefactos en los bordes y ruido en la superficie del plano.

Muestra captada con un objetivo sin corrección para 405 nm

Identifique pigmentos de colores con diferentes longitudes de onda de excitación. Anchura de la imagen 1,47 mm.

Configuración del láser

Elija un láser adaptado a sus aplicaciones

Amplíe el rango de aplicación de su microscopio confocal y elija entre dos opciones:

La captura de imágenes con elevada resolución lateral de hasta 120 nm es posible con el sistema de un solo canal con un módulo láser ultravioleta (longitud de onda de 405 nm), que corresponde a un producto láser de clase 2
Al acometer aplicaciones como captura de imágenes de crecimiento celular en biomateriales, configure el LSM 900 con cuatro longitudes de onda láser: módulo láser URGB (con 405, 488, 561 y 640 nm). Esta longitud de onda de excitación múltiple permite detectar la distribución de los componentes fluorescentes.

Aplicaciones

$Vista en 3D codificada por colores de un elemento óptico difractivo en un documento, habitualmente usado para funciones de seguridad.$

Metales y aleaciones

Metales y aleaciones. Superficie pulida con láser de aleación fabricada con aditivos.

Metales y aleaciones. Superficie pulida con láser de aleación fabricada con aditivos.
Acero

Acero. Tamaños variables de granos de austenita y ferrita en la proximidad de una soldadura de acero inoxidable dúplex. Anchura de la imagen 445 µm.

Acero. Tamaños variables de granos de austenita y ferrita en la proximidad de una soldadura de acero inoxidable dúplex. Anchura de la imagen 445 µm.
Polímeros y compuestos

Polímeros y compuestos. Sistema de múltiples capas, dos capas de un polímero compuesto.

Polímeros y compuestos. Sistema de múltiples capas, dos capas de un polímero compuesto.
Superficie de cerámica

Superficie de cerámica. Mapa de alturas codificado por colores.

Superficie de cerámica. Mapa de alturas codificado por colores.
Pruebas de metal para el desgaste de materiales

Pruebas de metal para el desgaste de materiales. Medición volumétrica de un orificio. Vista en 3D del mapa de alturas codificado por colores. En un informe, se pueden obtener parámetros como volumen, superficie, profundidad, perímetro y complejidad.

Pruebas de metal para el desgaste de materiales. Medición volumétrica de un orificio. Vista en 3D del mapa de alturas codificado por colores. En un informe, se pueden obtener parámetros como volumen, superficie, profundidad, perímetro y complejidad.
Porosidad de la arenisca

Porosidad de la arenisca. Investigación de la porosidad de la arenisca. Representación en 3D de colorante fluorescente, medición de superficie sin contacto, imagen de cuadros de 4x4.

Porosidad de la arenisca. Investigación de la porosidad de la arenisca. Representación en 3D de colorante fluorescente, medición de superficie sin contacto, imagen de cuadros de 4x4.
$Vista en 3D codificada por colores de un elemento óptico difractivo en un documento, habitualmente usado para funciones de seguridad.$

Documentos

$Vista en 3D codificada por colores de un elemento óptico difractivo en un documento, habitualmente usado para funciones de seguridad.$

Documentos. Vista en 3D codificada por colores de un elemento óptico difractivo en un documento, habitualmente usado para funciones de seguridad.

Documentos. Vista en 3D codificada por colores de un elemento óptico difractivo en un documento, habitualmente usado para funciones de seguridad.
Análisis de fallos

Análisis de fallos. Análisis de fallos en teléfono móvil, imagen de textura, superposición, mapa de alturas codificado por colores (de izquierda a derecha). Anchura de la imagen 1,1 mm.

Análisis de fallos. Análisis de fallos en teléfono móvil, imagen de textura, superposición, mapa de alturas codificado por colores (de izquierda a derecha). Anchura de la imagen 1,1 mm.

Aplicaciones relacionadas

Descargas

ZEISS LSM 900 for Materials

Your Versatile Confocal Microscope for Advanced Imaging and Surface Topography

Tamaño de archivo: 10 MB

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ZEISS Microscopy Solutions for Steel and Other Metals

Multi-modal characterization and advanced analysis options for industry and research

Tamaño de archivo: 14 MB

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ZEISS Solutions for Semiconductor Development, Manufacturing, and Analysis

Accelerating Digital Transformation and Innovation for Semiconductor Electronics

Tamaño de archivo: 13 MB

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Microscopic Methods in Metallography

Using ZEISS Axio Observer and ZEISS Axio Imager

Tamaño de archivo: 5 MB

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Light Microscopic Analysis of the Intrinsic Properties of Magnetically Hard Phases from the Domain Structure

Tamaño de archivo: 2 MB

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Metallic Grain Structures and Their Microscopic Analysis

Tamaño de archivo: 4 MB

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Microscopy in Metal Failure Investigations

Determine the root cause of metal failure and learn about microscopy tool set for any metal failure investigation

Tamaño de archivo: 4 MB

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Beam Path of ZEISS LSM 900

Tamaño de archivo: 912 KB

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Poster: Light Microscopy Contrast Methods for Materials Research

Brightfield, Darkfield, Fluorescence, Polarization, Differential Interference Contrast (DIC), Circular Differential Interference Contrast (C-DIC)

Tamaño de archivo: 1 MB

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