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ZEISS AI Sample Finder​
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ZEISS AI Sample Finder​ Reduzca el tiempo del experimento de varios minutos a tan solo unos segundos​

Los microscopios cada vez están más automatizados. Sin embargo, la colocación de la muestra, el ajuste del enfoque y la identificación de las áreas relevantes de la muestra aún requieren ajustes manuales. ZEISS AI Sample Finder automatiza completamente esta secuencia. En cuestión de segundos puede acceder directamente a todas las áreas de la muestra y comenzar inmediatamente con el experimento.

  • Colocación automatizada de la muestra
  • Adquisición de una imagen general
  • Identificación del portamuestras 
  • Detección de las áreas relevantes de la muestra
  • Ajuste del enfoque para cada región de interés

Así funciona AI Sample Finder​

  • Contenido de terceros bloqueado

    El reproductor de vídeo se ha bloqueado de acuerdo con sus preferencias de rastreo. Para cambiar los ajustes y reproducir el vídeo, haga clic en el botón de abajo y acepte el uso de tecnologías de rastreo "funcionales".

Preparación automatizada de sus experimentos

  • 1. Colocación de la muestra

    1. Colocación de la muestra

    Coloque su muestra en la posición de carga; el AI Sample Finder se encarga de moverla automáticamente hasta el objetivo.

  • 2. Ajuste del enfoque

    2. Ajuste del enfoque

    El enfoque se ajusta automáticamente y en cuestión de segundos se capta la imagen general para una navegación rápida y práctica. La iluminación compuesta de campo oscuro crea una imagen con mucho contraste, incluso para muestras de muy bajo contraste.

  • 3. Identificación del portamuestras

    3. Identificación del portamuestras

    Las rutinas inteligentes identifican automáticamente su portamuestras, independientemente de si usa una placa de Petri, un portaobjetos con cámaras o una placa multipocillo. Las propiedades del portamuestras se transfieren automáticamente al software, prescindiendo de los ajustes manuales.

  • 4. Detección de la muestra

    4. Detección de la muestra

    Los algoritmos de aprendizaje profundo detectan con precisión incluso las regiones inusuales de la muestra. Puede navegar y acceder a todas las áreas de la muestra directamente, lo cual le permite empezar su experimento con más rapidez que nunca.

Imagen general facilitada por AI Sample Finder, que muestra fluorescencia, contraste compuesto de campo oscuro y una combinación de fluorescencia y contraste de coherencia (de izquierda a derecha). Muestra cortesía de M. Schmidt, Instituto de Anatomía, Facultad Médica Carl Gustav Carus, Alemania​
Imagen general facilitada por AI Sample Finder, que muestra fluorescencia, contraste compuesto de campo oscuro y una combinación de fluorescencia y contraste de coherencia (de izquierda a derecha). Muestra cortesía de M. Schmidt, Instituto de Anatomía, Facultad Médica Carl Gustav Carus, Alemania​ Muestra cortesía de M. Schmidt, Instituto de Anatomía, Facultad Médica Carl Gustav Carus, Alemania​
Muestra cortesía de M. Schmidt, Instituto de Anatomía, Facultad Médica Carl Gustav Carus, Alemania​

Imagen general facilitada por AI Sample Finder, que muestra fluorescencia, contraste compuesto de campo oscuro y una combinación de fluorescencia y contraste de coherencia (de izquierda a derecha).

Imagen general facilitada por AI Sample Finder, que muestra fluorescencia, contraste compuesto de campo oscuro y una combinación de fluorescencia y contraste de coherencia (de izquierda a derecha). Muestra cortesía de M. Schmidt, Instituto de Anatomía, Facultad Médica Carl Gustav Carus, Alemania​

Observe toda la muestra: acelere sus flujos de trabajo de microscopía

Una buena imagen general es la base para un análisis detallado. AI Sample Finder le permite ver toda la muestra a una velocidad inigualable de forma muy sencilla. Olvídese de los problemas de asignación tras la adquisición de las imágenes. Siempre sabrá en qué región de la muestra se realizó su experimento y qué aspecto tenía el entorno circundante. Con ZEN Connect puede visualizar sus datos en un contexto superior, combinando diferentes modalidades de captura de imágenes.

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