ZEISS Axio Imager 2 para la investigación de materiales
Producto

ZEISS Axio Imager 2 para la investigación de materiales

Sistema de microscopio abierto para el análisis automatizado de materiales​

Disfrute de la facilidad de uso en su flujo de trabajo de microscopía óptica para la investigación avanzada de materiales. Benefíciese de resultados precisos y reproducibles usando ZEISS Axio Imager 2 para materiales. Elija el sistema adaptado a sus aplicaciones. Amplíe su instrumento con soluciones específicas, p. ej., para el análisis de partículas, la microscopía correlativa o la confocal.

  • Resultados reproducibles
  • Diseño modular​
  • Alto rendimiento óptico
Resultados reproducibles: disfrute de condiciones de trabajo sin vibraciones​

Resultados reproducibles​

Disfrute de condiciones de trabajo sin vibraciones​

La estabilidad es esencial si desea obtener los mejores resultados. Apreciará el valor de las condiciones estables de captura de imágenes de Axio Imager 2, especialmente cuando trabaje con aumentos o realice estudios dependientes del tiempo. Gracias a la motorización de Axio Imager 2, conseguirá resultados rápidos y reproducibles trabajando siempre en las mismas condiciones.

Diseño modular: más flexibilidad​

Diseño modular​

Más flexibilidad​

La microscopía de materiales se enfrenta a varios desafíos, tanto en la investigación académica como en la industrial. Axio Imager 2 le ayuda a resolverlos. Conecte componentes de aplicación específica y realice, por ejemplo, análisis de partículas. Investigue inclusiones no metálicas (NMI), cristales líquidos o MEM basados en semiconductores. Amplíe su instrumento con soluciones específicas para la microscopía correlativa o la confocal.

Alto rendimiento óptico: logre un excelente contraste y resolución

Alto rendimiento óptico

Logre un excelente contraste y resolución

  • Examine una gama de materiales, p. ej., metales, composites o cristales líquidos con diferentes técnicas de contraste. ​
  • Utilice luz reflejada y observe las muestras en campo claro, campo oscuro, contraste de interferencia diferencial (DIC), contraste de interferencia diferencial circular (C-DIC), polarización o fluorescencia. ​
  • Utilice luz transmitida y examine las muestras en campo claro, campo oscuro, contraste de interferencia diferencial (DIC), polarización o polarización circular. El gestor de contraste garantiza unos parámetros de iluminación repetibles.
  • Hierro fundido con grafito esferulítico, muestra pulida, mismo sitio idéntico captado con diferentes técnicas de contraste (campo de visión de 265 µm). Campo claro
  • Hierro fundido con grafito esferulítico, muestra pulida, mismo sitio idéntico captado con diferentes técnicas de contraste (campo de visión de 265 µm). Campo oscuro​
  • Hierro fundido con grafito esferulítico, muestra pulida, mismo sitio idéntico captado con diferentes técnicas de contraste (campo de visión de 265 µm). Polarización (polarización cruzada)​
  • Hierro fundido con grafito esferulítico, muestra pulida, mismo sitio idéntico captado con diferentes técnicas de contraste (campo de visión de 265 µm). Polarización con compensador Lambda adicional
  • Hierro fundido con grafito esferulítico, muestra pulida, mismo sitio idéntico captado con diferentes técnicas de contraste (campo de visión de 265 µm). Contraste de interferencia diferencial circular (C-DIC)​
  • Hierro fundido con grafito esferulítico, muestra pulida, mismo sitio idéntico captado con diferentes técnicas de contraste (campo de visión de 265 µm). Campo claro

    Campo claro​

    Hierro fundido con grafito esferulítico, muestra pulida, mismo sitio idéntico captado con diferentes técnicas de contraste (campo de visión de 265 µm). Campo claro

    Campo claro

    Campo claro

  • Hierro fundido con grafito esferulítico, muestra pulida, mismo sitio idéntico captado con diferentes técnicas de contraste (campo de visión de 265 µm). Campo oscuro​

    Campo oscuro

    Hierro fundido con grafito esferulítico, muestra pulida, mismo sitio idéntico captado con diferentes técnicas de contraste (campo de visión de 265 µm). Campo oscuro​

    Campo oscuro​

    Campo oscuro

  • Hierro fundido con grafito esferulítico, muestra pulida, mismo sitio idéntico captado con diferentes técnicas de contraste (campo de visión de 265 µm). Polarización (polarización cruzada)​

    Polarización (polarización cruzada)​

    Hierro fundido con grafito esferulítico, muestra pulida, mismo sitio idéntico captado con diferentes técnicas de contraste (campo de visión de 265 µm). Polarización (polarización cruzada)​

    Polarización (polarización cruzada)​

    Polarización (polarización cruzada)

  • Hierro fundido con grafito esferulítico, muestra pulida, mismo sitio idéntico captado con diferentes técnicas de contraste (campo de visión de 265 µm). Polarización con compensador Lambda adicional

    Polarización con compensador Lambda adicional

    Hierro fundido con grafito esferulítico, muestra pulida, mismo sitio idéntico captado con diferentes técnicas de contraste (campo de visión de 265 µm). Polarización con compensador Lambda adicional

    Polarización con compensador Lambda adicional

    Polarización con compensador Lambda adicional

  • Hierro fundido con grafito esferulítico, muestra pulida, mismo sitio idéntico captado con diferentes técnicas de contraste (campo de visión de 265 µm). Contraste de interferencia diferencial circular (C-DIC)​

    Contraste de interferencia diferencial circular (C-DIC)​

    Hierro fundido con grafito esferulítico, muestra pulida, mismo sitio idéntico captado con diferentes técnicas de contraste (campo de visión de 265 µm). Contraste de interferencia diferencial circular (C-DIC)​

    Contraste de interferencia diferencial circular (C-DIC)​

    Contraste de interferencia diferencial circular (C-DIC)

Selección de técnicas de contraste​

Hierro fundido con grafito esferulítico, muestra pulida, mismo sitio idéntico captado con diferentes técnicas de contraste (campo de visión de 265 µm). Imágenes por cortesía del Dr. H.-L. Steyer, Kesselsdorf, Alemania.​

Ergonomía: Tan polifacéticos como sus superficies​

Ergonomía

Tan polifacéticos como sus superficies​

Axio Imager.Z2m o Axio Imager.M2m presentan funciones clave en una pantalla táctil que le permite controlar todos los componentes motorizados con un solo dedo. Los botones de control adicionales están ergonómicamente dispuestos alrededor del control de enfoque, con superficies táctiles que facilitan su distinción. Axio Imager.D2m cuenta con cinco botones preprogramados, mientras que Axio Imager.Z2m cuenta con diez botones que el usuario puede definir. Axio Imager.A2m está codificado.

Termomicroscopía: Documentación flexible de los cambios de temperatura

Termomicroscopía

Documentación flexible de los cambios de temperatura

¿Desea analizar cómo influyen las temperaturas en el comportamiento de los metales, los cristales, la cerámica o los plásticos?​

Con ZEN core y las platinas de calentamiento Linkam podrá definir experimentos de calentamiento o refrigeración. Documente el patrón de temperatura en una serie de intervalos. El resultado que obtendrá es un registro de la información relativa a la temperatura y el vacío en cada imagen de intervalo. Observe los cambios que se producen en las muestras durante el proceso de calentamiento o refrigeración, por ejemplo, en el campo del control de calidad.

  • Ciencia de los materiales: cristalino líquido​

    Ciencia de los materiales: cristalino líquido​

    Ciencia de los materiales: cristalino líquido​ A. Getsis y A. Mudring, Universidad de Ruhr, Bochum, Alemania​
    A. Getsis y A. Mudring, Universidad de Ruhr, Bochum, Alemania​

    Fase líquida-cristalina de [C14mim]Br a 100 ºC en una platina de calentamiento THMS 600 Linkam, contraste de polarización, objetivo: EC EPIPLAN 10x/0,20. Imagen: cortesía de​

     

    Ciencia de los materiales: cristalino líquido

  • Ciencias de los materiales: metales​

    Ciencias de los materiales: metales​

    Ciencias de los materiales: metales​

    AlNi3,5 anodizado acorde con la polarización de contraste de Barker, objetivo: EC EPIPLAN NEOFLUAR 20x/0,50. Imagen: cortesía de ACCESS e.V. Aachen and Foundry Institute de la Universidad RWTH de Aquisgrán, Alemania

    Ciencias de los materiales: metales

  • Microscopía industrial​

    Microscopía industrial​

    Microscopía industrial​

    Estructura de la superficie de un mueble de madera, campo oscuro, objetivo: EC Epiplan APOCHROMAT 10x/0,30​

    Microscopía industrial

  • Ciencias de los materiales: materiales magnéticos

    Ciencias de los materiales: materiales magnéticos​

    Ciencias de los materiales: materiales magnéticos

    Efecto Kerr de dominio magnético Nd2Fe14B.

    Ciencias de los materiales: materiales magnéticos

  • Ciencias de los materiales: fibra de carbono​

    Ciencias de los materiales: fibra de carbono​

    Ciencias de los materiales: fibra de carbono​

    Imagen de fluorescencia de la sección transversal de una fibra de carbono tomada en Axio Imager​

    Ciencias de los materiales: fibra de carbono

  • Célula solar​

    Célula solar​

    Célula solar​

    Superficie de una célula solar de silicio monocristalino, Axio Imager, EC Epiplan-APOCHROMAT 100x/0,95

    Célula solar​

  • Geociencia
    Geociencia

    Mezcla compleja de múltiples fases de areniscas por microscopía óptica de polarización cruzada

    Geociencia​

Aplicaciones

Descubra más detalles sobre las aplicaciones metalográficas.

Descargas

    • ZEISS Axio Imager 2

      Your Open Microscope System for Automated Material Analysis

      9 MB
    • Microscope and Measurement Systems for Quality Assurance and Quality Control

      Capture the essentials of your component. Quickly. Simply. Comprehensively.

      4 MB
    • ZEISS Microscopy Solutions for Steel and Other Metals

      Multi-modal characterization and advanced analysis options for industry and research

      14 MB


    • Analysis and Quantification of Non-metallic Inclusions in Steel

      Shuttle & Find

      1 MB
    • Applications of Microscopy in Additive Manufacturing

      Utilizing ZEISS Light and Electron Microscope Systems

      2 MB
    • Light Microscopic Analysis of the Intrinsic Properties of Magnetically Hard Phases from the Domain Structure

      2 MB
    • Optical Analysis of Shape and Roughness of a Gear Wheel

      1 MB
    • Topography and Refractive Index Measurement

      of a Sub-μm Transparent Film on an Electronic Chip by Correlation of Scanning Electron and Confocal Microscopy

      1 MB
    • ZEISS Microscopy Solutions for Oil & Gas

      Understanding reservoir behavior with pore scale analysis

      7 MB


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