Producto

ZEISS Axio Imager Vario

Microscopio vertical para muestras grandes

Analice los sensores MEMS más pequeños o un panel plano entero con ZEISS Axio Imager Vario. Su diseño en columna le permite investigar muestras extremadamente grandes, a la vez que le ofrece una gran estabilidad. Además, Axio Imager Vario cuenta con certificación para su uso en salas blancas.

Examine muestras grandes
Compatible con salas blancas
Siempre enfocado

Examine muestras grandes

Seleccione una columna manual o motorizada, aproveche la posibilidad de examinar muestras con un tamaño máximo de 300 mm × 300 mm y una altura máxima de 254 mm. Independientemente de si trabaja con muestras pesadas o en combinación con el microscopio de barrido láser confocal ZEISS LSM para materiales, el robusto diseño en columna garantiza la fiabilidad y evita las vibraciones.

Certificado para el trabajo en salas blancas

Las inspecciones de las celdas solares y fotomáscaras están sujetas a requisitos de pureza extremadamente estrictos, por lo que se realizan en salas blancas. Se clasifican según la norma DIN EN ISO 14644-1, teniendo en cuenta el número y el tamaño de partículas por m³. Axio Imager Vario posee la certificación de esta norma y cumple los requisitos de la clase ISO 5 de salas blancas. La clase ISO 5 de salas blancas se corresponde con la clase 100 de la antigua norma FED STD 209E (1992).

Siempre enfocado

Para examinar superficies reflectantes de bajo contraste solo tiene que equipar su Axio Imager Vario con el eficiente Hardware Auto Focus. Garantiza una elevada precisión tanto para luz reflejada como para luz transmitida. El sensor detecta cambios en la posición del enfoque y cualquier desviación se compensa automáticamente. Incluso las muestras grandes permanecen perfectamente enfocadas mientras se mueven.

Pantalla TFT, campo claro, luz transmitida, subpíxeles rojos, verdes y azules

Hardware Auto Focus

La investigación de materiales y la producción industrial exigen un sistema de enfoque que garantice altos niveles de precisión de un máximo de 0,3 veces la profundidad de campo del objetivo. Benefíciese de un sistema de enfoque con un rango de fijación de hasta 12 000 µm. Utilice el Auto Focus para sus aplicaciones en luz transmitida y reflejada, en campo claro, campo oscuro, contraste de polarización, contraste de interferencia diferencial e iluminación oblicua.

Aplicaciones

Descubra las aplicaciones metalográficas de Axio Imager Vario para materiales.

Madera

Campo oscuro de luz reflejada, EC Epiplan-APOCHROMAT 10x/0,30

Madera. Campo oscuro de luz reflejada, EC Epiplan-APOCHROMAT 10x/0,30
Circuito impreso

Campo claro de luz reflejada, EC Epiplan-NEOFLUAR 5x/0,13

Circuito impreso. Campo claro de luz reflejada, EC Epiplan-NEOFLUAR 5x/0,13
Componente de celda solar

Luz reflejada, campo oscuro EC Epiplan-APOCHROMAT 50x/0,95

Componente de celda solar. Luz reflejada, campo oscuro EC Epiplan-APOCHROMAT 50x/0,95
Célula solar de silicio monocristalino

Luz reflejada, C-DIC, EC Epiplan-APOCHROMAT 50x/0,95

Célula solar de silicio monocristalino. Luz reflejada, C-DIC, EC Epiplan-APOCHROMAT 50x/0,95

Aplicaciones relacionadas

Descargas

ZEISS Axio Imager Vario

Examine Large Specimens – Automated and Compatible with Clean Rooms

7 MB

Descargar

Microscope and Measurement Systems for Quality Assurance and Quality Control

Capture the essentials of your component. Quickly. Simply. Comprehensively.

4 MB

Descargar

ZEISS Solutions for Semiconductor Development, Manufacturing, and Analysis

Accelerating Digital Transformation and Innovation for Semiconductor Electronics

13 MB

Descargar
Quality Control of Large-Sized Prismatic Rechargeable Lithium-Ion Batteries Using Light Microscopy

ZEISS Axio Imager.Z2 Vario

1 MB

Descargar