ZEISS Axio Observer para materiales
Producto

ZEISS Axio Observer para materiales

Sistema de microscopio invertido para metalografía

Investigue, desarrolle y analice materiales, sobre todo muestras metalográficas, en muy poco tiempo gracias a ZEISS Axio Observer. Benefíciese de su diseño invertido. Axio Observer combina la calidad de la óptica de ZEISS con los componentes automatizados. Gane fiabilidad y reproducibilidad. Usando módulos de software específicos puede analizar, por ejemplo, inclusiones no metálicas (NMI) y tamaños de grano. Axio Observer es su plataforma de captura de imágenes de código abierto: invierta solo en las características que necesita ahora.

  • Ahorre tiempo en las investigaciones metalográficas​
  • Confíe en unos resultados fiables y en una excelente calidad de imagen​
  • Invierta solo en las características que necesita hoy​
Ahorre tiempo en las investigaciones metalográficas

Ahorre tiempo en las investigaciones metalográficas

Aprovéchese del diseño óptico invertido​

  • Ahorre tiempo en la preparación de la muestra y en la investigación con Axio Observer.​
  • Su diseño óptico invertido facilita la alineación paralela a las lentes del objetivo. Observe más muestras en menos tiempo: simplemente coloque la muestra en la platina, enfoque una vez y mantenga el enfoque para los demás aumentos y muestras.​
  • No es necesario reenfocar, incluso cuando se cambia el aumento o las muestras metalúrgicas.
Confíe en unos resultados fiables​

Confíe en unos resultados fiables​

Obtenga imágenes de excelente calidad​

  • Apreciará el valor de las condiciones estables de captura de imágenes de Axio Observer, especialmente cuando trabaje con aumentos altos. La iluminación homogénea en todo el campo de visión genera imágenes de excelente calidad.
  • Obtenga resultados fiables y reproducibles siempre gracias a la combinación de óptica y componentes automatizados de ZEISS.
  • Benefíciese del breve intervalo de captura de imagen para el análisis de la estructura metalográfica con módulos de software específicos, p. ej., NMI, Granos, Multifase.
Actualice su sistema​

Actualice su sistema​

Benefíciese de la plataforma abierta e invierta solo en las características que necesita hoy

  • Mantenga a raya su presupuesto. Con Axio Observer, usted solo invierte en las características que necesita ahora.​
  • Actualice su sistema cuando cambien sus requisitos.​
  • Escoja entre componentes codificados o motorizados y entre una amplia gama de accesorios: siempre tendrá a su disposición las técnicas de contraste relevantes que requiera su aplicación.

Estativos

Seleccione entre tres niveles diferentes de automatización y motorización

Enfoque z motorizado, reconocimiento automático de componentes que siempre reconocerá los parámetros de los conjuntos de objetivos y filtros seleccionados, pantalla táctil y, si lo desea, control remoto.
Axio Observer 7 materials​
Axio Observer 7 materials​
Prácticamente todos los componentes se pueden leer e incluso motorizar.​
Axio Observer 5 materials​
Axio Observer 5 materials​
Con revólver codificado, gestor de luz, interfaz CAN y USB para permitir la lectura del aumento.​
Axio Observer 3 materials​
Axio Observer 3 materials​
aluminio grabado Barker, luz reflejada, contraste de polarización circular, objetivo: EC Epiplan – NEOFLUAR 5s / 0,13 HD DIC.

Aluminio grabado Barker, luz reflejada, contraste de polarización circular

aluminio grabado Barker, luz reflejada, contraste de polarización circular, objetivo: EC Epiplan – NEOFLUAR 5s / 0,13 HD DIC.

aluminio grabado Barker, luz reflejada, contraste de polarización circular, objetivo: EC Epiplan – NEOFLUAR 5s / 0,13 HD DIC.

Aluminio grabado Barker, luz reflejada, contraste de polarización circular

Objective: EC Epiplan – NEOFLUAR 5x / 0.13 HD DIC

Selección de técnicas de contraste

  • Disfrute de la máxima homogeneidad y un fondo de imagen sin luz parásita en campo claro y campo oscuro, minimizando la molesta luz parásita y reduciendo la aberración del color.
  • Examine sus muestras con contraste de polarización utilizando analizadores fijos, un analizador medidor con rotación de 360° y un analizador giratorio con placa de onda completa giratoria. Visualice la birreflexión y el pleocroísmo sobre las muestras anisotrópicas, incluso si no se dispone de platina giratoria.
  • Benefíciese del contraste de interferencia diferencial circular (C-DIC), una técnica de polarización óptica que utiliza luz polarizada circular.

Leyenda: aluminio grabado Barker, luz reflejada, contraste de polarización circular, objetivo: EC Epiplan – NEOFLUAR 5s / 0,13 HD DIC.

  • Grafito esferulítico en hierro fundido nodular, luz reflejada, campo claro
  • Aluminio-silicio fundido, luz reflejada, campo oscuro
  • Aluminio grabado Barker, luz reflejada, C-DIC​
  • Zinc, luz reflejada, contraste de polarización con placa lambda​
  • Niccolite, luz reflejada, contraste de polarización con placa lambda​
  • Grafito esferulítico en hierro fundido nodular, luz reflejada, campo claro

    Hierro fundido​

    Grafito esferulítico en hierro fundido nodular, luz reflejada, campo claro

    Grafito esferulítico en hierro fundido nodular, luz reflejada, campo claro

    Grafito esferulítico en hierro fundido nodular, luz reflejada, campo claro

  • Aluminio-silicio fundido, luz reflejada, campo oscuro

    Aluminio fundido​

    Aluminio-silicio fundido, luz reflejada, campo oscuro

    Aluminio-silicio fundido, luz reflejada, campo oscuro

    Aluminio-silicio fundido, luz reflejada, campo oscuro

  • Aluminio grabado Barker, luz reflejada, C-DIC​

    Aluminio grabado​

    Aluminio grabado Barker, luz reflejada, C-DIC​

    Aluminio grabado Barker, luz reflejada, C-DIC​

    Aluminio grabado Barker, luz reflejada, C-DIC​

  • Zinc, luz reflejada, contraste de polarización con placa lambda​

    Zinc

    Zinc, luz reflejada, contraste de polarización con placa lambda​

    Zinc, luz reflejada, contraste de polarización con placa lambda​

    Zinc, luz reflejada, contraste de polarización con placa lambda​

  • Niccolite, luz reflejada, contraste de polarización con placa lambda​

    Nicolita

    Niccolite, luz reflejada, contraste de polarización con placa lambda​

    Niccolite, luz reflejada, contraste de polarización con placa lambda​

    Niccolite, luz reflejada, contraste de polarización con placa lambda​

Aplicaciones

Consulte las aplicaciones de metalografía de Axio Observer para materiales.

Descargas

    • ZEISS Axio Observer

      Your Inverted Microscope System for Metallography

      5 MB
    • Microscope and Measurement Systems for Quality Assurance and Quality Control

      Capture the essentials of your component. Quickly. Simply. Comprehensively.

      4 MB
    • ZEISS Microscopy Solutions for Steel and Other Metals

      Multi-modal characterization and advanced analysis options for industry and research

      14 MB


    • Microscopic Methods in Metallography

      Using ZEISS Axio Observer and ZEISS Axio Imager

      5 MB


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