Research Microscopy Solutions
Online Shop Sitio web global (Español)
atrás
Research Microscopy Solutions
búsquedas recomendadas
búsquedas populares
ZEISS EVO: La plataforma SEM modular intuitiva para las exploraciones cotidianas y la investigación
Producto

Familia ZEISS EVO La plataforma SEM modular para manejo intuitivo, investigaciones de rutina y aplicaciones de investigación

Los instrumentos de la familia EVO combinan la microscopía electrónica de barrido (SEM) de alto rendimiento con una experiencia intuitiva y sencilla que resulta atractiva tanto para los usuarios experimentados como para los nuevos. EVO dispone de una completa gama de opciones que permiten personalizarla con precisión a la medida de sus necesidades, tanto si trabaja en ciencias de la vida o ciencias de los materiales, como si se dedica a labores cotidianas de control de calidad y análisis de fallos en la industria.

  • Solución versátil para laboratorios centrales de microscopía o para laboratorios industriales de control de calidad.
  • Excelentes imágenes de cualquier muestra real.
  • Máxima calidad de la imagen con emisor de hexaboruro de lantano (LaB6).
  • Excelente captura de imágenes y análisis en muestras no conductoras y no revestidas.
  • Automatización del flujo de trabajo e integridad de los datos.

  • Contenido de terceros bloqueado

    El reproductor de vídeo se ha bloqueado de acuerdo con sus preferencias de rastreo. Para cambiar los ajustes y reproducir el vídeo, haga clic en el botón de abajo y acepte el uso de tecnologías de rastreo "funcionales".
La interfaz de usuario de SmartSEM Touch es compatible con operadores industriales que necesitan flujos de trabajo automatizados para tareas de inspección repetitivas.

Uso extremadamente sencillo

SmartSEM Touch pone el control del flujo de trabajo interactivo directamente en sus manos. Se aprende a usar de forma rápida y sencilla, lo que disminuye drásticamente el esfuerzo y el coste de formación. Hasta los usuarios nuevos empezarán a capturar imágenes impresionantes en cuestión de minutos. Esta interfaz de usuario también es compatible con operadores industriales que necesitan flujos de trabajo automatizados para tareas de inspección repetitivas.

Pedernal, partícula de ferrocerio de un encendedor, captada con ZEISS EVO, detector HDBSD.

Calidad de imagen excelente

EVO destaca por extraer la máxima calidad de los datos de las muestras no revestidas e inalteradas. EVO también protege la calidad de los datos en muestras hidratadas y muy contaminadas, al permitir que estas permanezcan en su estado original. Además, el cañón de LaB6 proporcionará ese nivel adicional de resolución, contraste y relación señal-ruido tan importante cuando la captura de imágenes y el microanálisis suponen un desafío.

Leyenda: Pedernal, partícula de ferrocerio de un encendedor, captada con ZEISS EVO, detector HDBSD.

    EVO puede configurarse para formar parte de un flujo de trabajo multimodal y semiautomatizado, con herramientas que permitan la reubicación sin obstáculos de las regiones de interés y la integridad de los datos recogidos a partir de diferentes modalidades.

    EVO se integra bien con los demás

    EVO puede configurarse para formar parte de un flujo de trabajo multimodal y semiautomatizado, con herramientas que permitan la reubicación sin obstáculos de las regiones de interés y la integridad de los datos recogidos a partir de diferentes modalidades. Combine los datos de un microscopio óptico y otro electrónico para caracterizar materiales o inspeccionar componentes. También puede combinar EVO con los microscopios ópticos de ZEISS para realizar análisis correlativos de partículas.

        Involucre a más personas

        Según el entorno de laboratorio concreto, el funcionamiento del SEM puede depender en exclusiva de usuarios expertos de microscopios electrónicos. Sin embargo, con frecuencia son usuarios no expertos, como estudiantes, personas en formación o ingenieros de calidad, quienes necesitan los datos del SEM. EVO tiene en cuenta los requisitos de ambos perfiles e incorpora opciones en la interfaz de usuario que satisfacen las necesidades operativas tanto de los usuarios expertos como de aquellos que no lo son.

        Los usuarios expertos tienen acceso a parámetros avanzados de captura de imágenes y funciones de análisis.
        Los usuarios expertos tienen acceso a parámetros avanzados de captura de imágenes y funciones de análisis.
        Los usuarios con poca experiencia tienen acceso a flujos de trabajo predefinidos y a los parámetros más frecuentes, lo que resulta perfecto para los principiantes.
        Los usuarios con poca experiencia tienen acceso a flujos de trabajo predefinidos y a los parámetros más frecuentes, lo que resulta perfecto para los principiantes.

        Navegación y captura de imágenes inteligentes

        Mejore su capacidad en el trabajo con muestras, su productividad y su rendimiento
        • Cámara de navegación de ZEISS

          Cámara de navegación de ZEISS

          Es posible montar una videocámara en la cámara, con el fin de supervisar la posición de las muestras respecto al detector de electrones retrodispersados montado en la pieza polar (''chamberscope''). También es posible instalarla en la puerta de la cámara de vacío (cámara de navegación) para ofrecer una vista cenital de la disposición de las muestras o los componentes en el portamuestras. Esta vista puede usarse para configurar ubicaciones de interés predefinidas identificadas a partir de una imagen de microscopio óptico, lo que permite una navegación cómoda durante todo el proceso de exploración de muestras.

        • ZEISS Automated Intelligent Imaging

          Automated Intelligent Imaging

          EVO permite adquirir imágenes de varios lotes de muestras de forma automatizada y sin supervisión. ZEISS Automated Intelligent Imaging es idóneo para tareas repetitivas de inspección. Permite que el usuario defina una región de contorno, genere automáticamente regiones de interés según el campo de visión o el aumento necesarios, y comience a adquirir imágenes de forma automatizada. Automated Intelligent Imaging mejorará su capacidad en el trabajo con muestras y disparará así la productividad y el rendimiento.

        Lleve su investigación a un nivel más alto

        El cañón de electrones de hexaboruro de lantano (LaB6) ofrece mejores datos

        La emisión de electrones a partir de un cátodo de hexaboruro de lantano, en lugar de un filamento de horquilla hecho de wolframio, garantiza que la imagen dispondrá de toda la calidad posible cuando se necesite. Esta ventaja se puede aprovechar de dos formas:

        • Con el mismo tamaño (es decir, resolución) de sonda de electrones se obtiene una corriente de sonda mayor, lo que facilita muchísimo la navegación por la imagen y su optimización.
        • Con la misma corriente de sonda (relación señal-ruido), el diámetro del haz es mucho menor, lo que proporciona imágenes con mejor resolución.

        EVO se integra bien con los demás

        Benefíciese de la automatización del flujo de trabajo y de la microscopía correlativa
        EVO y el ecosistema de ZEN core
        EVO y el ecosistema de ZEN core

        1. análisis posadquisición, 2. análisis contextual, 3. informes integrados, 4. segmentación automatizada

        EVO y el ecosistema de ZEN core: intercambie muestras y datos, visualice y organice datos con distintas escalas y modalidades, realice análisis de imágenes y aplicaciones de metales basados en el aprendizaje profundo.

        Amplíe sus posibilidades con ZEISS ZEN core

        Su paquete de software para microscopía conectada y el análisis de imágenes

        ZEISS es proveedor de sistemas de microscopía y metrología, por lo que puede confiar en que EVO funcionará sumamente bien con las demás soluciones de ZEISS. Establezca un flujo de trabajo multimodal de gran productividad entre los microscopios ópticos (digitales) y EVO. Al combinar los métodos de contraste óptico exclusivos del microscopio óptico con los métodos igualmente exclusivos de captura de imágenes y análisis del SEM, obtendrá datos complementarios y, por tanto, una información más significativa acerca del material, la calidad o el mecanismo de rotura de la muestra.

        Benefíciese de ZEN core como su centro de microscopía conectada. Personalice sus funciones para sus aplicaciones específicas y defina flujos de trabajo que tengan en cuenta el nivel de experiencia de los microscopistas en su entorno de múltiples usuarios.

        Disfrute de las características destacadas:

        • Microscopía correlativa: intercambio de muestras y datos entre microscopios ópticos, digitales y electrónicos
        • Representación contextual de datos: visualización y organización de datos en distintas escalas y modalidades de captura de imágenes
        • Aplicaciones de metalografía, incl. elaboración de informes basada en Microsoft Word: informes integrados con diferentes imágenes y conjuntos de datos conectados
        • Análisis automatizado de imágenes, basado en el aprendizaje profundo: segmentación de imágenes en función de algoritmos de aprendizaje automático

        Soluciones EDX para aplicaciones de microanálisis

        Si la captura de imágenes SEM no es suficiente para conocer a fondo las piezas o las muestras, los investigadores recurrirán a la espectroscopia de dispersión de energía (EDS) para obtener información química elemental con resolución espacial.
        • ZEISS SmartEDX: optimizado para aplicaciones de microanálisis rutinarias

          Optimizado para aplicaciones de microanálisis rutinarias

          SEM y EDS solo pueden emparejarse tras una detallada evaluación. SmartEDX en EVO es ideal para aplicaciones de microanálisis rutinarias, en particular para aquellos clientes que requieran altos estándares en cuanto a la reproducibilidad de los datos. Proporciona el máximo rendimiento con una resolución de energía de 129 eV y una corriente en la sonda de 1-5 nA, que es la condición operativa analítica típica de EVO. SmartEDX se ha optimizado para la detección de rayos X de baja energía a partir de elementos luminosos gracias a la transmisividad superior de la ventana de nitruro de silicio.

          Interfaz gráfica de usuario guiada por flujo de trabajo
          Interfaz gráfica de usuario guiada por flujo de trabajo

          Interfaz gráfica de usuario guiada por flujo de trabajo

          Interfaz gráfica de usuario guiada por flujo de trabajo

          SmartEDX se desarrolla para mejorar tanto la facilidad de uso como la repetibilidad del flujo de trabajo en entornos multiusuario. Al igual que otras soluciones de software guiadas por flujo de trabajo de ZEISS, como SmartSEM Touch o ZEN core,  para EVO, el software SmartEDX se aprende fácilmente y su uso es intuitivo. Ayuda a garantizar la ejecución reiterada de tareas analíticas en el SEM, en particular para entornos donde el sistema va a ser usado por más de un operador. SmartEDX está disponible bien como detector EDS de mejor relación calidad-precio en una configuración fija o como versión de corredera flexible y práctica.

        • Simplifique el funcionamiento y recopile datos EDS de forma más eficiente
          Simplifique el funcionamiento y recabe datos EDS de forma más eficiente

          Simplifique el funcionamiento y recabe datos EDS de forma más eficiente

          Simplifique el funcionamiento y recabe datos EDS de forma más eficiente

          Controle tanto EDS como SEM en paralelo usando un solo ordenador. Esta integración mejora la facilidad de uso. Al mismo tiempo, disfrutará de interfaces de usuario dedicadas para su microscopio y su sistema EDS. Reduzca el tiempo de adquisición de EDS aprovechando la integración optimizada del detector que potencia las entradas de la señal de EDS al menos un 17 %.

          Elija entre diferentes configuraciones de detector EDX
          Elija entre diferentes configuraciones de detector EDX

          Elija entre diferentes configuraciones de detector EDX

          Elija entre diferentes configuraciones de detector EDX

          La solución de un único ordenador le ofrece varias configuraciones EDS: se pueden pedir los detectores Xplore 15, 30 y el Ultim Max 40 de Oxford Instruments. 

        • Optimice el servicio de su sistema SEM y EDS

          Asistencia técnica del sistema y servicio ZEISS total

          Como SmartEDX es ofrecido por ZEISS, esta solución EDS es ideal para clientes con especial interés en limitar su número de proveedores de equipos analíticos. Toda la logística de instalación, mantenimiento preventivo, garantía, diagnóstico y reparación, piezas de repuesto y la inclusión en contratos de servicio de sistemas totales se gestionan a través de ZEISS, lo que facilita la asistencia a su solución SEM analítica.

        La familia EVO

        ZEISS EVO 10
        ZEISS EVO 15
        ZEISS EVO 25

        Elija EVO 10, opcionalmente con un detector de electrones retrodispersados y un sistema EDS Element, como acceso básico a la microscopía electrónica de barrido a un precio extraordinariamente asequible. Invierta ahora en EVO para asegurarse de estar preparado para aquellas aplicaciones que requieren mayor espacio y más puertos de los que puede prever actualmente.

        EVO 15 es excelente para aplicaciones analíticas. Opte por la mayor cámara de vacío y benefíciese de una solución versátil y polivalente para laboratorios centrales o para laboratorios industriales de control de calidad.

        EVO 25 es la solución para muestras grandes. Amplíe aún más sus prestaciones añadiendo la opción de una platina de 80 mm de recorrido sobre el eje Z que puede procesar cargas de hasta 2 kg, incluso en posición inclinada. Además, el gran tamaño de la cámara puede alojar varios detectores analíticos para las aplicaciones microanalíticas más exigentes.

        Alturas máximas de la muestra

        100 mm

        145 mm

        210 mm

        Diámetro máximo de la muestra

        230 mm

        250 mm

        300 mm

        Recorrido de la platina motorizada de los ejes XYZ

        80 × 100 × 35 mm

        125 x 125 x 50 mm

        130 × 130 × 50 (u 80) mm

        Accesorios

        Se captó un alga Radiolaria sin recubrimiento con una energía de contacto de 1 keV. La captura de imágenes sin desaceleración del haz muestra artefactos de carga.
        Se captó un alga Radiolaria sin recubrimiento con una energía de contacto de 1 keV. Tras aplicar la desaceleración del haz, se mejora el contraste y los detalles de la superficie y se reducen los artefactos de carga.
        Se captó un alga Radiolaria sin recubrimiento con una energía de contacto de 1 keV. La captura de imágenes sin desaceleración del haz muestra artefactos de carga (izquierda). Tras aplicar la desaceleración del haz, se mejora el contraste y los detalles de la superficie y se reducen los artefactos de carga (derecha).

        Captura de imágenes con desaceleración del haz

        Use la captura de imágenes con desaceleración del haz para investigar muestras especialmente delicadas. Disfrute de una mejor calidad de imagen y minimice el daño para la muestra. Capte imágenes de muestras no conductoras con mayor resolución, mayor sensibilidad a la superficie y más contraste. Se aplica un voltaje de polarización a su muestra, lo que reduce la energía de contacto efectiva en ella, a la vez que se mantiene elevada la energía primaria.

        Aplicaciones

        • Fosfato de zinc con recubrimiento electrostático, capturado con el detector SE en alto vacío.
        • Espuma del asiento de un coche, capturada sin recubrimiento en el modo de presión variable con el detector de electrones retrodispersados.
        • Superficie de rotura de acero inoxidable, capturada con electrones secundarios en alto vacío.
        • Imagen de fosfato de cinc con recubrimiento electrostático, capturada con el detector SE en alto vacío.
          Imagen de fosfato de cinc con recubrimiento electrostático, capturada con el detector SE en alto vacío.

          Fosfato de zinc con recubrimiento electrostático, capturado con el detector SE en alto vacío.

          Fosfato de zinc con recubrimiento electrostático, capturado con el detector SE en alto vacío.
        • Espuma del asiento de un coche, capturada sin recubrimiento en el modo de presión variable con el detector de electrones retrodispersados.
          Espuma del asiento de un coche, capturada sin recubrimiento en el modo de presión variable con el detector de electrones retrodispersados.

          Espuma del asiento de un coche, capturada sin recubrimiento en el modo de presión variable con el detector de electrones retrodispersados.

          Espuma del asiento de un coche, capturada sin recubrimiento en el modo de presión variable con el detector de electrones retrodispersados.
        • Superficie de rotura de acero inoxidable, capturada con electrones secundarios en alto vacío.
          Superficie de rotura de acero inoxidable, capturada con electrones secundarios en alto vacío.

          Superficie de rotura de acero inoxidable, capturada con electrones secundarios en alto vacío.

          Superficie de rotura de acero inoxidable, capturada con electrones secundarios en alto vacío.

        Sectores de fabricación y montaje

        • Análisis de calidad y control de calidad
        • Análisis de fallos y metalografía
        • Inspección de limpieza
        • Análisis morfológico y químico de partículas de acuerdo con las normas ISO 16232 y VDA 19 (partes 1 y 2)
        • Análisis de inclusiones no metálicas
        • Inspección de uniones de cables mediante captura de imágenes con electrones secundarios en alto vacío o modo de presión variable.
        • Capa de níquel corroída, capturada con electrones secundarios.
        • Imagen SE donde se muestra el crecimiento de un pelo en un dispositivo electrónico.
        • Inspección de uniones de cables mediante captura de imágenes con electrones secundarios en alto vacío o modo de presión variable.
          Inspección de uniones de cables mediante captura de imágenes con electrones secundarios en alto vacío o modo de presión variable.

          Inspección de uniones de cables mediante captura de imágenes con electrones secundarios en alto vacío o modo de presión variable.

          Inspección de uniones de cables mediante captura de imágenes con electrones secundarios en alto vacío o modo de presión variable.
        • Capa de níquel corroída, capturada con electrones secundarios.
          Capa de níquel corroída, capturada con electrones secundarios.

          Capa de níquel corroída, capturada con electrones secundarios.

          Capa de níquel corroída, capturada con electrones secundarios.
        • Imagen SE donde se muestra el crecimiento de un pelo en un dispositivo electrónico.
          Imagen SE donde se muestra el crecimiento de un pelo en un dispositivo electrónico.

          Imagen SE donde se muestra el crecimiento de un pelo en un dispositivo electrónico.

          Imagen SE donde se muestra el crecimiento de un pelo en un dispositivo electrónico.

        Semiconductores y dispositivos electrónicos

        • Inspección visual de componentes electrónicos, circuitos integrados, dispositivos microelectromecánicos y células solares
        • Exploración de la superficie y la estructura cristalina de un cable de cobre
        • Exploraciones de la corrosión en metales
        • Análisis de fallos mediante sección transversal
        • Exploraciones de los puntos de unión en la soldadura de circuitos impresos
        • Captura de imágenes de la superficie de un condensador
        • Imagen de la sección transversal de un acero dulce galvanizado, capturada con el detector SE de un EVO 15.
        • Superficie de acero S355 tras el granallado con polvo de alúmina F80.
        • Superficie de aleación de titanio (Ti-6Al-4V) fabricada aditivamente mediante fusión selectiva por láser, que muestra zonas completamente fundidas junto a partículas Ti-6Al-4V sin fundir y otro material.
        • Imagen de la sección transversal de un acero dulce galvanizado, capturada con el detector SE de un EVO 15.
          Imagen de la sección transversal de un acero dulce galvanizado, capturada con el detector SE de un EVO 15.

          Imagen de la sección transversal de un acero dulce galvanizado, capturada con el detector SE de un EVO 15.

          Imagen de la sección transversal de un acero dulce galvanizado, capturada con el detector SE de un EVO 15.
        • Superficie de acero S355 tras el granallado con polvo de alúmina F80.
          Superficie de acero S355 tras el granallado con polvo de alúmina F80.

          Superficie de acero S355 tras el granallado con polvo de alúmina F80.

          Superficie de acero S355 tras el granallado con polvo de alúmina F80.
        • Superficie de aleación de titanio (Ti-6Al-4V) fabricada aditivamente mediante fusión selectiva por láser, que muestra zonas completamente fundidas junto a partículas Ti-6Al-4V sin fundir y otro material.
          Superficie de aleación de titanio (Ti-6Al-4V) fabricada aditivamente mediante fusión selectiva por láser, que muestra zonas completamente fundidas junto a partículas Ti-6Al-4V sin fundir y otro material.

          Superficie de aleación de titanio (Ti-6Al-4V) fabricada aditivamente mediante fusión selectiva por láser, que muestra zonas completamente fundidas junto a partículas Ti-6Al-4V sin fundir y otro material.

          Superficie de aleación de titanio (Ti-6Al-4V) fabricada aditivamente mediante fusión selectiva por láser, que muestra zonas completamente fundidas junto a partículas Ti-6Al-4V sin fundir y otro material.

        Acero y otros metales

        • Captura de imágenes y análisis de la estructura y la composición química y cristalográfica de muestras e inclusiones metálicas
        • Análisis de fallos, soldaduras, partículas y fases
        • Mapa mineralógico del esquisto azul. Muestra: cortesía de S. Owen.
        • Partícula residual de escoria de cobre de una gran fundición de cobre de Zambia. Muestra: cortesía de Petrolab, Reino Unido.
        • Granito peralcalino (Quebec septentrional, Canadá) que contiene elementos poco comunes, como una veta de fluorita que atraviesa la muestra y circones en algunas zonas.
        • Mapa mineralógico del esquisto azul. Muestra: cortesía de S. Owen.
          Mapa mineralógico del esquisto azul. Muestra: cortesía de S. Owen.

          Mapa mineralógico del esquisto azul. Muestra: cortesía de S. Owen.

          Mapa mineralógico del esquisto azul. Muestra: cortesía de S. Owen.
        • Partícula residual de escoria de cobre de una gran fundición de cobre de Zambia. Muestra: cortesía de Petrolab, Reino Unido.
          Partícula residual de escoria de cobre de una gran fundición de cobre de Zambia. Muestra: cortesía de Petrolab, Reino Unido.

          Partícula residual de escoria de cobre de una gran fundición de cobre de Zambia. Muestra: cortesía de Petrolab, Reino Unido.

          Partícula residual de escoria de cobre de una gran fundición de cobre de Zambia. Muestra: cortesía de Petrolab, Reino Unido.
        • Granito peralcalino (Quebec septentrional, Canadá) que contiene elementos poco comunes, como una veta de fluorita que atraviesa la muestra y circones en algunas zonas.
          Granito peralcalino (Quebec septentrional, Canadá) que contiene elementos poco comunes, como una veta de fluorita que atraviesa la muestra y circones en algunas zonas.

          Granito peralcalino (Quebec septentrional, Canadá) que contiene elementos poco comunes, como una veta de fluorita que atraviesa la muestra y circones en algunas zonas.

          Granito peralcalino (Quebec septentrional, Canadá) que contiene elementos poco comunes, como una veta de fluorita que atraviesa la muestra y circones en algunas zonas.

        Materias primas

        • Morfología, mineralogía y análisis de composición de muestras geológicas
        • Captura de imágenes y análisis de la estructura de metales, fracturas e inclusiones no metálicas
        • Análisis morfológico y de composición de productos químicos sin procesar e ingredientes activos durante los procesos de micronización y granulación
        • Esta imagen de la expansión y red de vínculos en las grietas de minerales autorreparables, capturada mediante el detector SE a 12 kV, muestra la formación de estructuras de hidromagnesita con forma de flor.
        • Estructura de espuma de grafeno de un conjunto de baterías, capturada mediante el detector SE en alto vacío.
        • Material compuesto para fines aeronáuticos, capturado mediante el detector C2D a 10 kV en modo de presión variable.
        • Esta imagen de la expansión y red de vínculos en las grietas de minerales autorreparables, capturada mediante el detector SE a 12 kV, muestra la formación de estructuras de hidromagnesita con forma de flor.
          Esta imagen de la expansión y red de vínculos en las grietas de minerales autorreparables, capturada mediante el detector SE a 12 kV, muestra la formación de estructuras de hidromagnesita con forma de flor.

          Esta imagen de la expansión y red de vínculos en las grietas de minerales autorreparables, capturada mediante el detector SE a 12 kV, muestra la formación de estructuras de hidromagnesita con forma de flor.

          Esta imagen de la expansión y red de vínculos en las grietas de minerales autorreparables, capturada mediante el detector SE a 12 kV, muestra la formación de estructuras de hidromagnesita con forma de flor.
        • Estructura de espuma de grafeno de un conjunto de baterías, capturada mediante el detector SE en alto vacío.
          Estructura de espuma de grafeno de un conjunto de baterías, capturada mediante el detector SE en alto vacío.

          Estructura de espuma de grafeno de un conjunto de baterías, capturada mediante el detector SE en alto vacío.

          Estructura de espuma de grafeno de un conjunto de baterías, capturada mediante el detector SE en alto vacío.
        • Material compuesto para fines aeronáuticos, capturado mediante el detector C2D a 10 kV en modo de presión variable.
          Material compuesto para fines aeronáuticos, capturado mediante el detector C2D a 10 kV en modo de presión variable.

          Material compuesto para fines aeronáuticos, capturado mediante el detector C2D a 10 kV en modo de presión variable.

          Material compuesto para fines aeronáuticos, capturado mediante el detector C2D a 10 kV en modo de presión variable.

        Investigación en la ciencia de materiales

        • Caracterización de muestras de materiales conductores y no conductores para fines de investigación
        • Imagen en falso color del mildiu en la superficie de una hoja. Imagen capturada mediante el detector C2DX a 20 kV en vapor de agua a 570 Pa y 1 °C.
        • Imagen detallada de un seudoescorpión, capturada mediante el detector de electrones retrodispersados en alto vacío a 20 kV.
        • Polen de árbol, capturado con presión ampliada y detector C2DX con una humedad relativa próxima al 100 %.
        • Imagen en falso color del mildiu en la superficie de una hoja. Imagen capturada mediante el detector C2DX a 20 kV en vapor de agua a 570 Pa y 1 °C.
          Imagen en falso color del mildiu en la superficie de una hoja. Imagen capturada mediante el detector C2DX a 20 kV en vapor de agua a 570 Pa y 1 °C.

          Imagen en falso color del mildiu en la superficie de una hoja. Imagen capturada mediante el detector C2DX a 20 kV en vapor de agua a 570 Pa y 1 °C.

          Imagen en falso color del mildiu en la superficie de una hoja. Imagen capturada mediante el detector C2DX a 20 kV en vapor de agua a 570 Pa y 1 °C.
        • Imagen detallada de un seudoescorpión, capturada mediante el detector de electrones retrodispersados en alto vacío a 20 kV.
          Imagen detallada de un seudoescorpión, capturada mediante el detector de electrones retrodispersados en alto vacío a 20 kV.

          Imagen detallada de un seudoescorpión, capturada mediante el detector de electrones retrodispersados en alto vacío a 20 kV.

          Imagen detallada de un seudoescorpión, capturada mediante el detector de electrones retrodispersados en alto vacío a 20 kV.
        • Polen de árbol, capturado con presión ampliada y detector C2DX con una humedad relativa próxima al 100 %.
          Polen de árbol, capturado con presión ampliada y detector C2DX con una humedad relativa próxima al 100 %.

          Polen de árbol, capturado con presión ampliada y detector C2DX con una humedad relativa próxima al 100 %.

          Polen de árbol, capturado con presión ampliada y detector C2DX con una humedad relativa próxima al 100 %.

        Ciencias de la vida

        • Investigación de plantas, animales y microorganismos
        • El vidrio fundido y solidificado sobre este fragmento de wolframio indica que la bombilla estaba encendida en el momento del incidente.
        • El detector C2D produce imágenes excelentes de muestras no revestidas en el modo de presión variable que resultan idóneas para las comparaciones forenses de fibras.
        • La marca de un percutor en un casquillo de bala puede usarse para ayudar a identificar el arma utilizada.
        • El vidrio fundido y solidificado sobre este fragmento de wolframio indica que la bombilla estaba encendida en el momento del incidente.
          El vidrio fundido y solidificado sobre este fragmento de wolframio indica que la bombilla estaba encendida en el momento del incidente.

          El vidrio fundido y solidificado sobre este fragmento de wolframio indica que la bombilla estaba encendida en el momento del incidente.

          El vidrio fundido y solidificado sobre este fragmento de wolframio indica que la bombilla estaba encendida en el momento del incidente.
        • El detector C2D produce imágenes excelentes de muestras no revestidas en el modo de presión variable que resultan idóneas para las comparaciones forenses de fibras.
          El detector C2D produce imágenes excelentes de muestras no revestidas en el modo de presión variable que resultan idóneas para las comparaciones forenses de fibras.

          El detector C2D produce imágenes excelentes de muestras no revestidas en el modo de presión variable que resultan idóneas para las comparaciones forenses de fibras.

          El detector C2D produce imágenes excelentes de muestras no revestidas en el modo de presión variable que resultan idóneas para las comparaciones forenses de fibras.
        • La marca de un percutor en un casquillo de bala puede usarse para ayudar a identificar el arma utilizada.
          La marca de un percutor en un casquillo de bala puede usarse para ayudar a identificar el arma utilizada.

          La marca de un percutor en un casquillo de bala puede usarse para ayudar a identificar el arma utilizada.

          La marca de un percutor en un casquillo de bala puede usarse para ayudar a identificar el arma utilizada.

        Ciencias forenses

        • Residuos de disparo
        • Análisis de pintura y vidrio
        • Falsificación de billetes y monedas
        • Comparaciones de cabellos y fibras
        • Toxicología forense

        Descargas

          • Vista previa de imagen de ZEISS EVO

            ZEISS EVO

            Your Modular SEM Platform for Intuitive Operation, Routine Investigations and Research Applications
            12 MB
            Descargar
          • Vista previa de imagen de ZEISS SmartEDX

            ZEISS SmartEDX

            The ZEISS Embedded EDS Solution for Your Routine SEM Microanalysis Applications
            2 MB
            Descargar
          • Vista previa de imagen de Reduced Energy Consumption

            Reduced Energy Consumption

            Optimized Operating Efficiency
            340 KB
            Descargar
          • Vista previa de imagen de ZEISS EVO

            ZEISS EVO

            Solution for a Scanning Electron Microscope
            12 MB
            Descargar
          • Vista previa de imagen de ZEISS Microscopy Solutions for Steel and Other Metals

            ZEISS Microscopy Solutions for Steel and Other Metals

            Multi-modal characterization and advanced analysis options for industry and research
            14 MB
            Descargar
          • Vista previa de imagen de ZEISS Solutions for Semiconductor Development, Manufacturing, and Analysis

            ZEISS Solutions for Semiconductor Development, Manufacturing, and Analysis

            Accelerating Digital Transformation and Innovation for Semiconductor Electronics
            13 MB
            Descargar
          • Vista previa de imagen de Python Blood Analysis by STEM

            Python Blood Analysis by STEM

            5 MB
            Descargar
          • Vista previa de imagen de Use Case: ZEISS Microscopes in Restoration and Conservation

            Use Case: ZEISS Microscopes in Restoration and Conservation

            The Imperial Carriage Museum in Vienna, Austria
            4 MB
            Descargar
          • Vista previa de imagen de Using ZEISS SmartSEM Touch

            Using ZEISS SmartSEM Touch

            for Fast and Reproducible Routine Inspection
            2 MB
            Descargar
          • Vista previa de imagen de ZEISS EVO MA and LS Fisheye OptiBeam Mode

            ZEISS EVO MA and LS Fisheye OptiBeam Mode

            591 KB
            Descargar
          • Vista previa de imagen de Beam Deceleration Imaging with ZEISS EVO

            Beam Deceleration Imaging with ZEISS EVO

            Receive high quality images with enhanced surface contrast and topographical detail for low kV imaging and life science samples
            845 KB
            Descargar
          • Vista previa de imagen de Concrete Crack Self-healing Materials Micro Structure Investigation

            Concrete Crack Self-healing Materials Micro Structure Investigation

            1 MB
            Descargar
          • Vista previa de imagen de Coolstage benefits on ZEISS EVO

            Coolstage benefits on ZEISS EVO

            4 MB
            Descargar
          • Vista previa de imagen de Enhancing Material Inspection and Characterization Information and Data Integrity

            Enhancing Material Inspection and Characterization Information and Data Integrity

            By Combining Light and Scanning Electron Microscopy in a Correlative Workflow
            1 MB
            Descargar
          • Vista previa de imagen de Imaging Solutions for the Paper Technology Industry

            Imaging Solutions for the Paper Technology Industry

            3 MB
            Descargar
          • Vista previa de imagen de ZEISS EVO

            ZEISS EVO

            Forensic Paint Analysis
            951 KB
            Descargar
          • Vista previa de imagen de ZEISS Microscopy Solutions for Oil & Gas

            ZEISS Microscopy Solutions for Oil & Gas

            Understanding reservoir behavior with pore scale analysis
            7 MB
            Descargar
          • Vista previa de imagen de Poster: A Small World of Huge Possibilities

            Poster: A Small World of Huge Possibilities

            To the DIFFRACTION LIMIT ...and BEYOND
            12 MB
            Descargar

        Visite el Centro de descargas de ZEISS para descargarse las traducciones y los manuales disponibles.

        Contacto ZEISS Microscopy

        Mejorar/Reacondicionar

        Formación

        Buscador de software

        Descarga de software

        Contacto

        Cargando el formulario...

        / 4
        Siguiente paso:
        • Paso 1
        • Paso 2
        • Paso 3
        Contacto
        Información necesaria
        Información opcional

        Para obtener más información sobre el procesamiento de datos en ZEISS, consulte nuestra declaración de protección de datos.

        Servicio y asistencia