ZEISS MultiSEM 505/506
Los microscopios electrónicos de barrido más rápidos del mundo
Disfrute de una velocidad de adquisición de hasta 91 haces de electrones paralelos para captar imágenes de muestras en escala de centímetros a resolución nanométrica. Este exclusivo microscopio electrónico de barrido ha sido diseñado para funcionar de manera fiable y continua las 24 horas del día. Solo tiene que diseñar su flujo de trabajo de obtención de datos de alto rendimiento y MultiSEM adquirirá automáticamente imágenes de alto contraste.
Revolucione la velocidad de la microscopía electrónica
Los múltiples haces de electrones que funcionan en paralelo le proporcionan una velocidad de captura de imágenes bruta sin precedentes. La adquisición de un área de 1 mm2 con un tamaño de píxel de 4 nm solo requiere unos pocos minutos. La velocidad de adquisición sin precedentes de más de 1 TB por hora permite capturar imágenes de grandes volúmenes (>1 mm3) con resolución nanométrica. Los detectores optimizados recaban señales de electrones secundarias de forma muy eficiente, proporcionándole imágenes de alto contraste con niveles de ruido bajos.
Leyenda: Sección de cerebro de ratón, velocidad de adquisición máxima de 1,22 gigapíxeles/segundo. Cortesía de J. Lichtman, Universidad de Harvard, Cambridge, MA, EE. UU.
Obtención de imágenes de muestras enormes con resolución nanométrica
No sacrifique tamaño de muestra por resolución nanométrica. MultiSEM está equipado con un portamuestras que cubre un área de 10 cm × 10 cm y ha sido diseñado para el funcionamiento continuo las 24 horas del día. Por fin puede captar imágenes de toda la muestra y descubrir todo lo que necesita para responder a sus preguntas científicas. Obtendrá la imagen detallada sin perder el contexto macroscópico.
Microscopía electrónica con ZEN Imaging Software
Mediante la introducción de ZEN en MultiSEM, llevamos el software estándar para microscopios ópticos de ZEISS al mundo de la microscopía electrónica. Controle MultiSEM de manera directa e intuitiva: las ingeniosas rutinas de ajuste automático le respaldarán mientras obtiene imágenes óptimas con alta resolución y calidad. Configure de forma rápida incluso los procedimientos de adquisición automatizados más complejos, adaptados y alineados con la captura de imágenes de sus muestras.
La familia ZEISS MultiSEM
MultiSEM 505
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MultiSEM 506
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Número de haces |
61 |
91 |
Disposición de escaneo |
Cuadro de imagen compuesto por 61 subimágenes dispuestas en un patrón hexagonal |
Cuadro de imagen compuesto por 91 subimágenes dispuestas en un patrón hexagonal |
Campo de visión con tamaño de paso de 12 µm |
108 μm |
132 μm |
Campo de visión con tamaño de paso de 15 µm (opcional) |
135 μm |
165 μm |
La tecnología detrás de ZEISS MultiSEM
Múltiples haces de electrones y detectores en paralelo
MultiSEM emplea varios haces de electrones (verde: ruta de iluminación) y detectores en paralelo. Una ruta de detección (rojo) perfectamente definida recoge un gran volumen de electrones secundarios (SE) para la captura de imágenes. Cada haz realiza una rutina de escaneado sincronizada en una posición de muestreo, lo que permite obtener una única subimagen. Los haces de electrones están dispuestos en un patrón hexagonal. La imagen completa se forma combinando todos los cuadros de imagen. Se utiliza una configuración de ordenadores en paralelo para la grabación rápida de datos, lo que asegura una elevada velocidad total de captura de imágenes. La adquisición de imágenes y el control del flujo de trabajo están totalmente separados en el sistema MultiSEM.
Publicaciones externas
- Brain mapping in high resolution (nature.com)
- Connectomics (Cell Press Nucleus)
- High throughput data acquisition with a multi-beam SEM
- Mission (im)possible – mapping the brain becomes a reality
- High-resolution, high-throughput imaging with MultiSEM 505
- Multiple-Beam Scanning Electron Microscopy (Microscopy Today)
- Further advancing the throughput of a multi-beam SEM