ZEISS Sigma​ FE-SEM para la captura de imágenes de alta calidad y la microscopía analítica avanzada

La óptica Gemini 1 consta de tres elementos: lente del objetivo, acelerador de haz y concepto de detección Inlens. El diseño de la lente de los objetivos combina campos electrostáticos y magnéticos para maximizar el rendimiento óptico, al tiempo que reduce al mínimo las influencias del campo sobre la muestra. Esto posibilita la obtención de unas imágenes excelentes, incluso en muestras complejas, como las de materiales magnéticos. El concepto de detección de Inlens garantiza una detección eficiente de la señal mediante la detección de electrones secundarios (SE) y/o retrodispersados (BSE), a la vez que se minimiza el tiempo para la obtención de la imagen. El acelerador de haz garantiza pequeños tamaños de sonda y una elevada relación señal-ruido.

Sigma cuenta con una gama de diferentes detectores. Caracterice sus muestras gracias a la última tecnología de detección. Obtenga información topográfica de alta resolución con el detector ETSE y el Inlens para un modo de alto vacío. Obtenga imágenes nítidas en el modo de presión variable con el detector VPSE o C2D. Genere imágenes de transmisión de alta resolución con el detector aSTEM. Investigue la composición y la topografía con diferentes detectores BSE opcionales como, p. ej., el detector aBSD.

Amplíe su SEM de emisión de campo de ZEISS con una solución in situ para experimentos de calentamiento y tracción. Benefíciese de una solución integrada. Investigue materiales como metales, aleaciones, polímeros, plásticos, composites y cerámicas. Combine una platina de compresión o tracción mecánica, una unidad de calentamiento y detectores dedicados de alta temperatura con análisis. Controle todos los componentes del sistema desde un único ordenador con un entorno de software unificado que permite el análisis automatizado de materiales sin supervisión.

Complemente la caracterización de su material y añada la captura de imágenes espectroscópicas Raman (RISE). Obtenga una huella química de su muestra y amplíe su Sigma 300 con la opción de capturar imágenes Raman confocales. Reconozca información molecular y cristalográfica. Realice análisis 3D y correlacione la captura de imágenes SEM con la cartografía Raman y datos EDS, en caso necesario. La RISE totalmente integrada le permite aprovechar los dos mejores sistemas SEM y Raman.