ZEISS Sigma​
Producto

ZEISS Sigma​ FE-SEM para la captura de imágenes de alta calidad y la microscopía analítica avanzada

La familia ZEISS Sigma combina la tecnología del microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FE-SEM) con una excelente experiencia de usuario. Organice sus rutinas de análisis y captura de imágenes y aumente su productividad. Estudie nuevos materiales, partículas para la inspección de calidad o muestras biológicas o geológicas. No haga concesiones en la captura de imágenes de alta resolución: recurra a bajas tensiones y benefíciese de una mejor resolución y contraste a 1 kV o menos. Use microscopía analítica avanzada con la mejor geometría EDS de su clase y obtenga datos analíticos con el doble de velocidad y más precisión.​


Con la familia Sigma se adentra en el mundo del nanoanálisis de alta gama.

  • Sigma 360 es la elección de las instalaciones centrales de captura de imágenes, un FE-SEM intuitivo para la captura de imágenes y el análisis.
  • Sigma 560 utiliza la mejor geometría EDS de su clase para ofrecer un análisis muy eficiente y permite realizar experimentos automatizados in situ.
Poliestireno, captado con el modo NanoVP lite.
Polysterene, imaged with NanoVP lite mode.

Sigma 360

La elección de las instalaciones centrales. Adquisición intuitiva.

  • Déjese guiar de forma experta desde la configuración hasta los resultados basados en IA. Descubra un flujo de trabajo intuitivo para la captura de imágenes.

  • Vea la diferencia a 1 kV o menos. Logre una resolución mejorada y un contraste optimizado.

  • Captura de imágenes con VP en los extremos para lograr excelentes resultados con no conductores.
    • NanoVP en funcionamiento

      Déjese guiar por un flujo de trabajo de captura de imágenes intuitivo

      Desde la configuración hasta los resultados basados en IA

      • Obtenga resultados expertos incluso si es un usuario inexperto. Benefíciese de una captura de imágenes rápida y ahorre tiempo en la formación con un flujo de trabajo sencillo y fácil de aprender que le permite optimizar cada paso desde la navegación hasta el posprocesamiento.
      • La automatización de software en ZEISS SmartSEM Touch le inicia en la navegación, la configuración de parámetros y la adquisición de imágenes.
      • A continuación, entra en juego ZEN core con kits de herramientas específicos para ciertas tareas y adaptado de forma óptima para el posprocesamiento. Los más recomendados son: el kit de herramientas de IA le permite segmentar imágenes en base al aprendizaje automático. Combine experimentos multimodales con el kit de herramientas Connect, o use las aplicaciones de materiales para analizar la microestructura, el tamaño de grano o el grosor del recubrimiento.
         
    • Desde la configuración hasta los resultados basados en IA

      Vea la diferencia a 1 kV o menos

      Resolución mejorada. Contraste optimizado

      • La columna óptica es clave para el rendimiento de la captura de imágenes y el análisis. Sigma funciona con la óptica de electrones ZEISS Gemini 1, que proporciona una excelente resolución en cualquier muestra, especialmente a bajas tensiones.
      • La resolución de pocos kV para Sigma 360 ahora se especifica a 500 V con 1,9 nm. Se ha conseguido una mejora en 1 kV de resolución de más del 10 % a 1,3 nm, minimizando las aberraciones cromáticas.
      • Ahora es más fácil que nunca captar imágenes, incluso en muestras desafiantes, incluso con la detección de retrodispersión en el modo de presión variable (VP).
    • Consiga una captura de imágenes de VP en los extremos

      Consiga una captura de imágenes de VP en los extremos

      Modo NanoVP lite para el análisis y la captura de imágenes

      • El nuevo modo  NanoVP lite y los nuevos detectores facilitan la obtención de datos de alta calidad a partir de no conductores por debajo de 5 kV.
      • En consecuencia, la captura de imágenes y el análisis EDS se mejoran y proporcionan más información sensible a la superficie, tiempos de captura más rápidos y una corriente de haz primario mejorada para el mapeo EDS más rápido.
      • Los nuevos detectores como el aBSD1 (detector de electrones de retrodispersión anular) o la nueva generación C2D (corriente de cascada) le proporcionan el beneficio de imágenes excelentes con baja tensión.
    Alta resolución a 500 V: el tamaño medido de este terraplén de una esfera sinterizada a nanoescala de Al2O3 es de 3 nm. Captado con Sigma 560, detector Inlens SE, 500 V.

    Sigma 560

    Análisis más eficiente. Experimentos automatizados in situ.

    • Análisis eficiente de muestras reales: análisis basados en SEM con velocidad y versatilidad.
    • Automatice sus experimentos in situ: un laboratorio completamente integrado para la realización de pruebas sin supervisión.
    • Captura de imágenes de muestras desafiantes por debajo de 1 kV: reciba información exhaustiva de la muestra.
        • Análisis eficiente de muestras reales

          Análisis eficiente de muestras reales

          Investigue con versatilidad y gane velocidad en EDS

          • La mejor geometría EDS de su categoría de Sigma 560 mejora su productividad analítica. Los dos puertos EDS diametralmente opuestos en 180° garantizan el rendimiento y un mapeo sin sombras, incluso con una corriente baja del haz y con una baja tensión de aceleración.

          • Los puertos adicionales para EBSD y WDS en la cámara permiten un análisis que va más allá del EDS.

          • Con el nuevo modo NanoVP lite se pueden analizar con más señal y contraste incluso no conductores.

          • El nuevo detector aBSD4 proporciona imágenes de muestras con topografía marcada con facilidad.
        • Experimentos de tracción y calentamiento in situ en acero.

          Automatice sus experimentos in situ

          Un laboratorio completamente integrado para la realización de pruebas sin supervisión

          • El laboratorio in situ para Sigma, una solución completamente integrada, permite resultados independientes del operario en pruebas de tracción y calentamiento en un flujo de trabajo automatizado y sin supervisión.
          • Amplíe su flujo de trabajo aún más mediante el análisis de características a nanoescala en 3D: realice una tomografía 3D STEM o ejecute la segmentación de imágenes basada en IA.
          • El nuevo aBSD4 permite el modelado de superficies en 3D en directo (3DSM).
        • Capte imágenes de muestras desafiantes con facilidad

          Capte imágenes de muestras desafiantes con facilidad

          Vea la diferencia a 1 kV o menos

          • Logre la captura de imágenes y el análisis más informativos a 1 kV o incluso 500 V: la resolución de pocos kV para Sigma 560 se especifica como 1,5 nm a 500 V.
          • Investigue muestras desafiantes con facilidad bajo presión variable en el nuevo modo NanoVP lite con tensiones de aceleración de solo 3 kV, usando el nuevo detector aBSD o el C2D.
          • Si está estudiando dispositivos electrónicos, querrá mantener un entorno limpio. Proteja su cámara frente a la contaminación mediante un limpiador de plasma (muy recomendado) y con la nueva precámara grande que permite el traslado de obleas de 6".

        Tecnología

        Esquema de la sección transversal de la columna óptica Gemini con acelerador de haz, detector Inlens y objetivo Gemini.

        Esquema de la sección transversal de la columna óptica Gemini con acelerador de haz, detector Inlens y objetivo Gemini.

        Esquema de la sección transversal de la columna óptica Gemini con acelerador de haz, detector Inlens y objetivo Gemini.

        Óptica Gemini 1

        La óptica Gemini 1 consta de tres elementos: lente del objetivo, acelerador de haz y concepto de detección Inlens. El diseño de la lente de los objetivos combina campos electrostáticos y magnéticos para maximizar el rendimiento óptico, al tiempo que reduce al mínimo las influencias del campo sobre la muestra. Esto posibilita la obtención de unas imágenes excelentes, incluso en muestras complejas, como las de materiales magnéticos. El concepto de detección de Inlens garantiza una detección eficiente de la señal mediante la detección de electrones secundarios (SE) y/o retrodispersados (BSE), a la vez que se minimiza el tiempo para la obtención de la imagen. El acelerador de haz garantiza pequeños tamaños de sonda y una elevada relación señal-ruido.

        Columna Gemini 1 de Sigma con detectores. 1 Detector Inlens, SE o Duo. 2 Detector ETSE, 3 VPSE, 4 C2D, 5 aSTEM, 6/7 Detección EDS avanzada y diferentes detectores de retrodispersión, p. ej., aBSD1.

        Esquema de la sección transversal de la columna óptica Gemini 1 con detectores.

        Columna Gemini 1 de Sigma con detectores. 1 Detectores Inlens, SE o Duo. 2 Detector ETSE, 3 VPSE, 4 C2D, 5 aSTEM, 6/7 Detección EDS avanzada y diferentes detectores de retrodispersión, p. ej., aBSD1.

        Columna Gemini 1 de Sigma con detectores. 1 Detectores Inlens, SE o Duo. 2 Detector ETSE, 3 VPSE, 4 C2D, 5 aSTEM, 6/7 Detección EDS avanzada y diferentes detectores de retrodispersión, p. ej., aBSD1.

        Esquema de la sección transversal de la columna óptica Gemini 1 con detectores

        Detección flexible

        Sigma cuenta con una gama de diferentes detectores. Caracterice sus muestras gracias a la última tecnología de detección. Obtenga información topográfica de alta resolución con el detector ETSE y el Inlens para un modo de alto vacío. Obtenga imágenes nítidas en el modo de presión variable con el detector VPSE o C2D. Genere imágenes de transmisión de alta resolución con el detector aSTEM. Investigue la composición y la topografía con diferentes detectores BSE opcionales como, p. ej., el detector aBSD.

         

        VP estándar | modos, distribución de gas (rosa), faldón del haz de electrones (verde).
        Modos NanoVP lite, distribución de gas
        Modos VP estándar (izquierda) y NanoVP lite (derecha), distribución de gas (rosa), faldón del haz de electrones (verde).

        Modo NanoVP lite

        Trabaje con el modo NanoVP lite para el análisis y la captura de imágenes. Benefíciese de una mejor calidad de imagen, especialmente a bajos kV y obtenga datos analíticos de forma más rápida y precisa.
        • En NanoVP lite, se reduce el efecto del faldón y la longitud del recorrido de gas del haz (BGPL). El faldón reducido da lugar a una mejor relación señal-ruido en la captura de imágenes SE y BSE.
        • El aBSD retráctil con sus cinco segmentos anulares ofrece un excelente contraste del material: transporta el manguito del haz y encaja debajo de la pieza de polo durante el funcionamiento de NanoVP lite. Ofrece un rendimiento elevado y una captura de imágenes topográficas y de composición a baja tensión y es apto para VP y HV (alto vacío).

        Aplicaciones

        • La superficie de una muestra de poliestireno se fracturó para entender la formación de grietas y la adhesión en interfaces de polímeros
        • Cápsulas MSC (sílice mesoporoso hueco) para la administración de fármacos.
        • Captado como nanotubos de carbono (CNT) con baja tensión. Sigma 560, 500 V, detector Inlens SE.
        • Esferas de Al2O3. Los terraplenes de las partículas sinterizadas son visibles con la captura de imágenes sensible a la superficie con elevada resolución a 500 V.
        • La superficie de una partícula de una lámina de cátodo de una batería.
        • Cristales de MoS2 en 2D cultivados por CVD sobre sustrato de Si/SiO2: La imagen RISE muestra las arrugas y las partes superpuestas de los cristales MoS2 (verde), las multicapas (azul) y las capas individuales (rojo), anchura de la imagen de 32 µm.
        • Experimentos de tracción y calentamiento in situ en acero.
        • La superficie de una muestra de poliestireno se fracturó para entender la formación de grietas y la adhesión en interfaces de polímeros
          La superficie de una muestra de poliestireno se fracturó para entender la formación de grietas y la adhesión en interfaces de polímeros

          Se captaron imágenes de la superficie de una muestra de poliestireno fracturada para entender la formación de grietas y la adhesión en interfaces de polímeros. Sigma 560,
          3 kV, modo NanoVP lite, presión de la cámara de 60 Pa, C2D G2.

           

          Se captaron imágenes de la superficie de una muestra de poliestireno fracturada para entender la formación de grietas y la adhesión en interfaces de polímeros. Sigma 560,
          3 kV, modo NanoVP lite, presión de la cámara de 60 Pa, C2D G2.

           

        • Cápsulas MSC (sílice mesoporoso hueco) para la administración de fármacos.
          Cápsulas MSC (sílice mesoporoso hueco) para la administración de fármacos.
          Cortesía del Dr. V. Brune, Instituto de Química Inorgánica, Universidad de Colonia (Alemania).

          Cápsulas MSC (sílice mesoporoso hueco) para la administración de fármacos. Las imágenes de retrodispersión revelan un núcleo de óxido de hierro en nanocápsulas de sílice. Sigma 560, HDBSD, 5 kV.
           

          Cortesía del Dr. V. Brune, Instituto de Química Inorgánica, Universidad de Colonia (Alemania).

          Cápsulas MSC (sílice mesoporoso hueco) para la administración de fármacos. Las imágenes de retrodispersión revelan un núcleo de óxido de hierro en nanocápsulas de sílice. Sigma 560, HDBSD, 5 kV.
           

        • Captado como nanotubos de carbono (CNT) con baja tensión.
          Captado como nanotubos de carbono (CNT) con baja tensión.

          Nanotubos de carbono (CNT) captados con baja tensión. Sigma 560, 500 V, detector Inlens SE.
           

          Nanotubos de carbono (CNT) captados con baja tensión. Sigma 560, 500 V, detector Inlens SE.
           

        • Esferas de Al2O3. Los terraplenes de las partículas sinterizadas son visibles con la captura de imágenes sensible a la superficie con elevada resolución a 500 V.
          Esferas de Al2O3. Los terraplenes de las partículas sinterizadas son visibles con la captura de imágenes sensible a la superficie con elevada resolución a 500 V.

          Esferas de Al2O3. Los terraplenes de las partículas sinterizadas son visibles con la captura de imágenes sensible a la superficie con elevada resolución a 500 V. Algunas distancias entre terraplenes son de tan solo 3 nm. Sigma 560, 500 V, Inlens SE.
           

          Esferas de Al2O3. Los terraplenes de las partículas sinterizadas son visibles con la captura de imágenes sensible a la superficie con elevada resolución a 500 V. Algunas distancias entre terraplenes son de tan solo 3 nm. Sigma 560, 500 V, Inlens SE.
           

        • La superficie de una partícula de una lámina de cátodo de una batería.
          La superficie de una partícula de una lámina de cátodo de una batería.

          La superficie de una partícula de una lámina de cátodo de una batería. Se usa el contraste de material para identificar el aglutinante (material más oscuro) sobre el Li-NMC, captado con aBSD.

          La superficie de una partícula de una lámina de cátodo de una batería. Se usa el contraste de material para identificar el aglutinante (material más oscuro) sobre el Li-NMC, captado con aBSD.

        • Cristales de MoS2 en 2D cultivados por CVD sobre sustrato de Si/SiO2: La imagen RISE muestra las arrugas y las partes superpuestas de los cristales MoS2 (verde), las multicapas (azul) y las capas individuales (rojo), anchura de la imagen de 32 µm.

          Cristales de MoS2 en 2D cultivados por CVD sobre sustrato de Si/SiO2: La imagen RISE muestra las arrugas y las partes superpuestas de los cristales MoS2 (verde), las multicapas (azul) y las capas individuales (rojo), anchura de la imagen de 32 µm.

          Cristales de MoS2D cultivados por CVD sobre un substrato de Si/SiO2: La imagen RISE muestra las arrugas y las partes superpuestas de los cristales MoS2 (verde), las multicapas (azul) y las capas individuales (rojo), anchura de la imagen de 32 µm.

        • Experimentos de tracción y calentamiento in situ en acero. La captura de imágenes SEM y los análisis EBSD se realizaron de manera simultánea para investigar las curvas de tensión y deformación.

        Ciencias de los materiales

        Descubra imágenes de muestras de materiales como polímeros, fibras, disulfuro de molibdeno, etc.

        • La delicada estructura abierta de una radiolaria se capta fácilmente mediante el detector ETSE a 1 kV en alto vacío, ancho de la imagen de 183 µm.
        • Imágenes de esporas de champiñón, obtenidas a 1 kV y alto vacío. Estas delicadas y frágiles estructuras pueden visualizarse fácilmente con el Sigma 500 a baja tensión.
        • Tricellaria inopinata
        • Ultraestructura de cerebro en 3D usando la captura de imágenes seriales de caras en bloque
        • La delicada estructura abierta de una radiolaria se capta fácilmente mediante el detector ETSE a 1 kV en alto vacío, ancho de la imagen de 183 µm.

          La delicada estructura abierta de una radiolaria se capta fácilmente mediante el detector ETSE a 1 kV en alto vacío, ancho de la imagen de 183 µm.

          La delicada estructura abierta de una radiolaria se capta fácilmente mediante el detector ETSE a 1 kV en alto vacío, ancho de la imagen de 183 µm.

        • Imágenes de esporas de champiñón, obtenidas a 1 kV y alto vacío. Estas delicadas y frágiles estructuras pueden visualizarse fácilmente con el Sigma 500 a baja tensión.
          Imágenes de esporas de champiñón, obtenidas a 1 kV y alto vacío. Estas delicadas y frágiles estructuras pueden visualizarse fácilmente con el Sigma 500 a baja tensión.

          Imágenes de esporas de champiñón, obtenidas a 1 kV y alto vacío. Estas delicadas y frágiles estructuras pueden visualizarse fácilmente con el Sigma 500 a baja tensión.

          Imágenes de esporas de champiñón, obtenidas a 1 kV y alto vacío. Estas delicadas y frágiles estructuras pueden visualizarse fácilmente con el Sigma 500 a baja tensión.

        • Tricellaria inopinata
          Tricellaria inopinata
          Cortesía de Anna Seybold y Harald Hausen, Centro Sars de Biología Molecular Marina, Universidad de Bergen (Noruega).

          Ultraestructura del briozoo Tricellaria inopinata, una especie marina sésil, campo de visión 30 µm. Captado con ZEISS Sigma 560, detector Sense BSD, 1 kV, 30 pA.
           

          Cortesía de Anna Seybold y Harald Hausen, Centro Sars de Biología Molecular Marina, Universidad de Bergen (Noruega).

          Ultraestructura del briozoo Tricellaria inopinata, una especie marina sésil, campo de visión 30 µm. Captado con ZEISS Sigma 560, detector Sense BSD, 1 kV, 30 pA.
           

        • Ultraestructura de cerebro en 3D usando la captura de imágenes seriales de caras en bloque
          Ultraestructura de cerebro en 3D usando la captura de imágenes seriales de caras en bloque
          Cortesía del Dr. Peter Munro y Hannah Armer, Instituto de oftalmología UCL.

          Adquisición automática de ultraestructura de cerebro en 3D usando la captura de imágenes seriales de caras en bloque. Se identificó y segmentó un astrocito (cian). 
           

          Cortesía del Dr. Peter Munro y Hannah Armer, Instituto de oftalmología UCL.

          Adquisición automática de ultraestructura de cerebro en 3D usando la captura de imágenes seriales de caras en bloque. Se identificó y segmentó un astrocito (cian). 
           

        Ciencias de la vida

        Descubra más sobre la microestructura y la nanoestructura de los protozoos o los hongos y revele la ultraestructura de muestras de superficies de bloques o secciones finas.

        • Muestra de roca captada con YAG-BSD que proporciona imágenes a altas velocidades debido al rendimiento en luz conductora del cristal YAG, captada a 20 kV.
        • Mineral de sulfuro de níquel. Mapa EDS de minerales con Mineralogic, anchura de la imagen 3,1 mm. Muestra: cortesía de la Universidad de Leicester, Reino Unido.
        • Mineralogía de hierro: Identificación de Raman de minerales de hierro, imagen SEM y mapas de Raman superpuestos. (La hematita es roja, azul, verde, naranja y rosa; la goetita es de color azul claro).
        • Mineralogía de hierro, espectros Raman: Las diferencias en los espectros de la hematita se atribuyen a las diferentes orientaciones de los cristales. (La hematita es roja, azul, verde, naranja y rosa; la goetita es de color azul claro).
        • Zonificación del mineral de gneis
        • Muestra de roca captada con YAG-BSD que proporciona imágenes a altas velocidades debido al rendimiento en luz conductora del cristal YAG, captada a 20 kV.
          Muestra de roca captada con YAG-BSD que proporciona imágenes a altas velocidades debido al rendimiento en luz conductora del cristal YAG, captada a 20 kV.

          Muestra de roca captada con YAG-BSD que proporciona imágenes a altas velocidades debido al rendimiento en luz conductora del cristal YAG, captada a 20 kV.

          Muestra de roca captada con YAG-BSD que proporciona imágenes a altas velocidades debido al rendimiento en luz conductora del cristal YAG, captada a 20 kV.

        • Mineral de sulfuro de níquel. Mapa EDS de minerales con Mineralogic, anchura de la imagen 3,1 mm. Muestra: cortesía de la Universidad de Leicester, Reino Unido.
          Mineral de sulfuro de níquel. Mapa EDS de minerales con Mineralogic, anchura de la imagen 3,1 mm. Muestra: cortesía de la Universidad de Leicester, Reino Unido.

          Mineral de sulfuro de níquel. Mapa EDS de minerales con Mineralogic, anchura de la imagen 3,1 mm. Muestra: cortesía de la Universidad de Leicester, Reino Unido.

          Mineral de sulfuro de níquel. Mapa EDS de minerales con Mineralogic, anchura de la imagen 3,1 mm. Muestra: cortesía de la Universidad de Leicester, Reino Unido.

        • Mineralogía de hierro: Identificación de Raman de minerales de hierro, imagen SEM y mapas de Raman superpuestos. (La hematita es roja, azul, verde, naranja y rosa; la goetita es de color azul claro).
          Mineralogía de hierro: Identificación de Raman de minerales de hierro, imagen SEM y mapas de Raman superpuestos. (La hematita es roja, azul, verde, naranja y rosa; la goetita es de color azul claro).

          Mineralogía de hierro: Identificación de Raman de minerales de hierro, imagen SEM y mapas de Raman superpuestos. (La hematita es roja, azul, verde, naranja y rosa; la goetita es de color azul claro).

          Mineralogía de hierro: Identificación de Raman de minerales de hierro, imagen SEM y mapas de Raman superpuestos. (La hematita es roja, azul, verde, naranja y rosa; la goetita es de color azul claro).

        • Mineralogía de hierro, espectros Raman: Las diferencias en los espectros de la hematita se atribuyen a las diferentes orientaciones de los cristales. (La hematita es roja, azul, verde, naranja y rosa; la goetita es de color azul claro).
          Mineralogía de hierro, espectros Raman: Las diferencias en los espectros de la hematita se atribuyen a las diferentes orientaciones de los cristales. (La hematita es roja, azul, verde, naranja y rosa; la goetita es de color azul claro).

          Mineralogía de hierro, espectros Raman: Las diferencias en los espectros de la hematita se atribuyen a las diferentes orientaciones de los cristales. (La hematita es roja, azul, verde, naranja y rosa; la goetita es de color azul claro).

          Mineralogía de hierro, espectros Raman: Las diferencias en los espectros de la hematita se atribuyen a las diferentes orientaciones de los cristales. (La hematita es roja, azul, verde, naranja y rosa; la goetita es de color azul claro).

        • El mapa de calor (Ca) del elemento principal EDS cuantitativo de gneis con granate resalta la zonificación geoquímica dentro de los minerales clave.
           

          El mapa de calor (Ca) del elemento principal EDS cuantitativo de gneis con granate resalta la zonificación geoquímica dentro de los minerales clave.
           

        Geociencias y recursos naturales

        Explore rocas, minerales y metales.

        • Nanopartículas no conductoras de dióxido de titanio empleadas como pigmentos y agentes opacificantes. Se pueden observar fácilmente a 40 Pa en modo VP con el detector C2D.
        • Imagen de partículas de óxido de hierro de 25-50 nm obtenida con el detector aSTEM en campo oscuro a 20 kV.
        • Muestra de aleación de superconductor captada a 1 kV con el aBSD.
        • Dendritas de óxido de zinc
        • Nanopartículas de dióxido de titanio no conductoras
          Nanopartículas de dióxido de titanio no conductoras

          Nanopartículas no conductoras de dióxido de titanio empleadas como pigmentos y agentes opacificantes. Se pueden observar fácilmente a 40 Pa en modo VP con el detector C2D; ancho de la imagen 10 µm.

          Nanopartículas no conductoras de dióxido de titanio empleadas como pigmentos y agentes opacificantes. Se pueden observar fácilmente a 40 Pa en modo VP con el detector C2D; ancho de la imagen 10 µm.

        • Imagen de partículas de óxido de hierro de 25-50 nm obtenida con el detector aSTEM en campo oscuro a 20 kV.
          Imagen de partículas de óxido de hierro de 25-50 nm obtenida con el detector aSTEM en campo oscuro a 20 kV.

          Imagen de partículas de óxido de hierro de 25-50 nm obtenida con el detector aSTEM en campo oscuro a 20 kV.

          Imagen de partículas de óxido de hierro de 25-50 nm obtenida con el detector aSTEM en campo oscuro a 20 kV.

        • Muestra de aleación de superconductor captada a 1 kV con el aBSD.
          Muestra de aleación de superconductor captada a 1 kV con el aBSD.

          Muestra de aleación de superconductor captada a 1 kV con el aBSD. (Barra de escala 20 µm)

          Muestra de aleación de superconductor captada a 1 kV con el aBSD. (Barra de escala 20 µm)

        • Dendritas de óxido de zinc
          Dendritas de óxido de zinc

          Dendritas de óxido de zinc: detecte cambios morfológicos en los electrodos de los sistemas de almacenamiento de energía. Sigma, ETSE, 5 kV.
           

          Dendritas de óxido de zinc: detecte cambios morfológicos en los electrodos de los sistemas de almacenamiento de energía. Sigma, ETSE, 5 kV.
           

        Aplicaciones industriales

        Vea cómo se investigan los metales, las aleaciones y los polvos.

        Accesorios

        Laboratorio In Situ para ZEISS FE-SEM: vincule el rendimiento de los materiales con la microestructura

        Laboratorio In Situ para SEM de emisión de campo de ZEISS

        Vincule el rendimiento de los materiales con su microestructura

        Amplíe su SEM de emisión de campo de ZEISS con una solución in situ para experimentos de calentamiento y tracción. Benefíciese de una solución integrada. Investigue materiales como metales, aleaciones, polímeros, plásticos, composites y cerámicas. Combine una platina de compresión o tracción mecánica, una unidad de calentamiento y detectores dedicados de alta temperatura con análisis. Controle todos los componentes del sistema desde un único ordenador con un entorno de software unificado que permite el análisis automatizado de materiales sin supervisión.

        SmartEDX: Descubra la espectroscopia integrada de rayos X por dispersión de energía

        SmartEDX

        Descubra la espectroscopia integrada de rayos X por dispersión de energía

        Si la captura de imágenes SEM no es suficiente para entender a fondo sus muestras, recurra a la EDS integrada para el microanálisis. Obtenga información elemental con resolución espacial gracias a una solución optimizada para aplicaciones de baja tensión. Optimice los microanálisis rutinarios y la detección de rayos X de baja energía a partir de elementos luminosos gracias a la transmisividad superior de la ventana de nitruro de silicio. Los equipos en entornos de múltiples usuarios se beneficiarán de la interfaz de usuario guiada mediante flujo de trabajo. El apoyo del ingeniero de ZEISS le ofrece un centro único para la instalación, el mantenimiento preventivo y la garantía.
        RISE completamente integrado: disfrute de la microscopía electrónica de barrido y la captura de imágenes Raman

        RISE completamente integrado

        Disfrute de la microscopía electrónica de barrido y la captura de imágenes Raman

        Complemente la caracterización de su material y añada la captura de imágenes espectroscópicas Raman (RISE). Obtenga una huella química de su muestra y amplíe su Sigma 300 con la opción de capturar imágenes Raman confocales. Reconozca información molecular y cristalográfica. Realice análisis 3D y correlacione la captura de imágenes SEM con la cartografía Raman y datos EDS, en caso necesario. La RISE totalmente integrada le permite aprovechar los dos mejores sistemas SEM y Raman.

        Descargas

          • 3D Imaging Systems

            Your Guide to the Widest Selection of Optical Sectioning, Electron Microscopy and X-ray Microscopy Techniques.

            Tamaño de archivo: 5 MB
          • ZEISS Sense BSD

            Backscatter Electron Detector for Fast and Gentle Ultrastructural Imaging

            Tamaño de archivo: 6 MB
          • ZEISS Sigma 300 with RISE

            Extend your ZEISS Sigma 300 with Fully Integrated Raman Imaging and Scanning Electron Microscopy (RISE)

            Tamaño de archivo: 2 MB
          • ZEISS Sigma Family

            Your Field Emission SEMs for High Quality Imaging and Advanced Analytical Microscopy

            Tamaño de archivo: 10 MB
          • ZEISS SmartEDX

            The ZEISS Embedded EDS Solution for Your Routine SEM Microanalysis Applications

            Tamaño de archivo: 2 MB
          • In Situ Lab for ZEISS FE-SEM

            Tamaño de archivo: 4 MB
          • Reduced Energy Consumption

            Optimized Operating Efficiency

            Tamaño de archivo: 340 KB
          • ZEISS Sigma Family - Flyer

            Your FE-SEMs for High Quality Imaging & Advanced Analytical Microscopy

            Tamaño de archivo: 2 MB
          • Large Volume Imaging of Eye Muscle by SIGMA VP and 3View

            Serial Block Face Imaging

            Tamaño de archivo: 1 MB
          • ZEISS Sigma 300 with WITec Confocal Raman Imaging

            Characterizing Structural and Electronic Properties of 2D Materials Using RISE Correlative Microscopy

            Tamaño de archivo: 6 MB
          • Correlative Automated Quantitative Mineralogy (AQM) and LA-ICP-MS Workflows

            for Geochronology, Vector/Indicator Minerals and Conflict Minerals

            Tamaño de archivo: 1 MB
          • Voltage Contrast in Microelectronic Engineering

            Tamaño de archivo: 1 MB
          • ZEISS LaserSEM

            Your solution for site-specific preparation from the meso- to the microscale – a femtosecond laser integrated into a ZEISS FE-SEM

            Tamaño de archivo: 2 MB
          • Case Study

            Corrosion analysis of modern and historic railway trackwith optical, electron and correlative Raman microscopy

            Tamaño de archivo: 7 MB
          • Cathodoluminescence of Geological Samples: Fluorite Veins

            ZEISS Scanning Electron Microscopes with Atlas

            Tamaño de archivo: 5 MB
          • Investigating Sweet Spot Imaging of Perovskite Catalysts Bearing Exsolved Active Nanoparticles

            Tamaño de archivo: 5 MB
          • The building blocks of our solar system

            Studying the Winchcombe meteorite

            Tamaño de archivo: 3 MB
          • ZEISS Microscopy Solutions for Geoscience

            Understanding the fundamental processes that shape the universe expressed at the smallest of scales

            Tamaño de archivo: 15 MB
          • ZEISS Microscopy Solutions for Oil & Gas

            Understanding reservoir behavior with pore scale analysis

            Tamaño de archivo: 7 MB
          • ZEISS Sigma 300

            Quantitative EBSD Studies of Soft Magnetic Composites

            Tamaño de archivo: 10 MB

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