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ZEISS SmartSEM: solución de software para SEM, FE-SEM y FIB-SEM

ZEISS SmartSEM

Solución de software para SEM, SEM FE-SEM y FIB-SEM

ZEISS SmartSEM es su sistema operativo para los microscopios electrónicos de ZEISS. Le permite resolver incluso las tareas más desafiantes a la vez que le permite acceder a los ajustes más avanzados del microscopio.

ZEISS Atlas 5: domine el desafío de trabajar a diferentes escalas

ZEISS Atlas 5

Domine el desafío de trabajar a diferentes escalas

Cree exhaustivas imágenes multimodales y multiescala con un entorno correlativo centrado en la muestra. Atlas 5 es una solución potente e intuitiva que amplía las capacidades de sus microscopios electrónicos de barrido (SEM) y sus SEM de haz de iones focalizado (FIB-SEM) de ZEISS.

ZEISS Mineralogic: mineralogía cuantitativa automatizada

ZEISS Mineralogic

Mineralogía cuantitativa automatizada

ZEISS Mineralogic 2D y 3D proporcionan un análisis cuantitativo y automatizado del mineral aunando la microscopía de vanguardia con el microscopio electrónico de barrido (SEM) y el microscopio de rayos X (XRM), la espectroscopia de dispersión de energía (EDS) y los algoritmos de aprendizaje profundo basados en IA que mejoran su capacidad analítica y aumentan la productividad.

ZEISS Smart PI: Smart Particle Investigator

ZEISS Smart PI

Smart Particle Investigator

Smart Particle Investigator (SmartPI), su solución avanzada de análisis y clasificación de partículas, convierte los microscopios electrónicos de barrido en soluciones preconfiguradas para aplicaciones de limpieza industrial o metal y acero. SmartPI incorpora todos los aspectos del control SEM, el procesamiento de imágenes y el análisis elemental (EDS) en una sola aplicación.

3DSM: analice muestras topográficas en 3D

Modelado de superficies en 3D

Use su SEM para reconstruir la superficie de muestras topográficas

Modelado de superficies en 3D: use su SEM para reconstruir las superficies de las muestras

Su microscopio electrónico de barrido mide y analiza todo tipo de muestras en 2D. Para analizar las superficies de muestras en 3D, utilice la ampliación del sistema 3DSM, el paquete de software opcional de ZEISS. Consiga información topográfica mediante la reconstrucción de un modelo en 3D completo de la superficie de su muestra usando las señales de los detectores de retrodispersión.

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