ZEISS SmartPI - Smart Particle Investigator
Software

ZEISS SmartPI

Smart Particle Investigator

Clasificación de partículas mediante rayos X por dispersión de energía (EDS)
Clasificación de partículas mediante rayos X por dispersión de energía (EDS)

Clasificación de partículas mediante rayos X por dispersión de energía (EDS)

Su solución automatizada de clasificación y análisis de partículas SEM

Detecte, analice y clasifique las partículas

Smart Particle Investigator (SmartPI), su solución avanzada de análisis y clasificación de partículas, convierte los microscopios electrónicos de barrido en soluciones preconfiguradas para aplicaciones de limpieza industrial o metal y acero. SmartPI incorpora todos los aspectos del control SEM, el procesamiento de imágenes y el análisis elemental (EDS) en una sola aplicación.

  • Controle tanto la captura de imágenes SEM como el análisis EDS con un único programa de software.
  • Realice el análisis de partículas automatizados sin supervisión.
  • Genere datos reproducibles e informes conformes a las normativas de la industria.
  • Combine SmartPI con soluciones de análisis de partículas de microscopios ópticos de ZEISS para configurar un flujo de trabajo correlativo.
  • Benefíciese del servicio y la asistencia global de ZEISS para todo el sistema.
  • SmartPI cumple con las normas de limpieza ISO 16232 y VDA 19.

Perfectamente adaptado a las necesidades de la industria

SmartPI se desarrolló en estrecha colaboración con un proveedor global de componentes automovilísticos, que precisaba un sistema potente pero fácil de usar, para la identificación y la clasificación de partículas. Esto significa que no solo se han tenido en cuenta los requisitos actuales del análisis de limpieza industrial, sino que también se ha abordado la cuestión de la usabilidad para el entorno industrial típico, donde no todos los operadores son expertos en microscopía, y cuando las soluciones se implementan en múltiples centros de todo el mundo.

  • El poder de la simplicidad

    La automatización de SmartPI simplifica enormemente el funcionamiento para que cualquier usuario, sin ser experto en microscopía, sea capaz de obtener datos excelentes. Al mismo tiempo, los operadores con más experiencia pueden crear o modificar recetas con facilidad y adaptar las rutinas de análisis a los requisitos específicos. Todas las recetas, configuraciones del sistema y datos de partículas se almacenan en una base de datos auditable para facilitar la revisión y exportación de los datos.

  • Detección inteligente de partículas

    Mediante un sofisticado algoritmo de unión de las partículas del borde, SmartPI también detecta, caracteriza y clasifica partículas que están alineadas en múltiples campos de visión, incluyendo partículas truncadas dentro del conjunto de datos de partículas. Esto es especialmente importante para evitar que las partículas más grandes se descarten de las estadísticas, una acción que puede ser perjudicial para el análisis de limpieza o de calidad del acero.

  • Una solución completamente integrada

    Controle tanto la captura de imágenes SEM y el análisis EDS con un programa de software en un solo ordenador. ZEISS SmartPI mantiene todos los datos juntos, asegurando la integridad de los datos SEM y EDS, así como el acceso eficiente a los datos. Incluso cuando el sistema EDS procede de otro proveedor EDS, el equipo global de servicio y aplicaciones de ZEISS le ofrece soporte para todo el sistema SmartPI, centralizando así la atención al cliente.

SmartPI en funcionamiento

  • Auto-calibration Procedures
  • Morphological and Chemical Classification
  • Exclusion of fibers, for example, via limitation of the parameter elongation
  • Stop criteria setup page
  • Use the review mode to re-examine single particles and see all of their properties including EDS composition and material classification.
  • SmartPI Explorer navigation window with multi-particle view
  • VDA 19 cleanliness report generated in SmartPI Reporter
  • Procedimientos de autocalibración
    Procedimientos de autocalibración

    Procedimientos de autocalibración

    Procedimientos de autocalibración

    SmartPI realiza rutinas de autodiagnóstico y autocalibración antes de cada serie automática y de forma periódica durante la serie. Esto asegura la estabilidad y precisión del sistema, así como unos resultados reproducibles. Si se produce una interrupción durante la serie automática, por ejemplo, cuando se requiere la sustitución de un filamento, se inicia un proceso de recuperación automática.

  • Clasificación morfológica y química
    Clasificación morfológica y química

    Clasificación morfológica y química

    Clasificación morfológica y química

    SmartPI emplea avanzadas técnicas de procesamiento de imágenes y análisis para medir una variedad de características morfológicas para cada partícula detectada. De forma subsiguiente, se usa el análisis EDS para determinar la composición química de cada partícula. Analice partículas rápidamente con el modo Spot o con más detalle mediante el modo Feature Scan avanzado de ZEISS. Esto escanea toda la forma de la partícula para proporcionar una clasificación más precisa.

  • Exclusión de fibras, por ejemplo, mediante la limitación de la elongación de parámetros
    Exclusión de fibras, por ejemplo, mediante la limitación de la elongación de parámetros.

    Exclusión de fibras, por ejemplo, mediante la limitación de la elongación de parámetros.

    Exclusión de fibras, por ejemplo, mediante la limitación de la elongación de parámetros.

    Exclusiones de medición

    Para mantener la coherencia del juego de datos de partículas y minimizar el tiempo de funcionamiento, SmartPI le permite excluir partículas que no se consideren de interés del análisis subsiguiente de imágenes y elementos. Por ejemplo, este podría ser el caso de las fibras elongadas en el filtro que se puedan originar por el polvo del ambiente y, por tanto, no están relacionadas con las partículas que se originan en el proceso de fabricación.

  • Página de configuración de criterios de interrupción
    Página de configuración de criterios de interrupción

    Página de configuración de criterios de interrupción

    Página de configuración de criterios de interrupción

    Criterios de interrupción avanzados

    Una gama de criterios de interrupción avanzados permite a la serie automática finalizar el análisis cuando llega a un umbral predefinido. Los criterios de interrupción también pueden incluir el tiempo de análisis, el número de partículas o campos contados, el tamaño de partícula, una clasificación específica u otros criterios que usted puede especificar. Esta función también se puede aplicar a muestras individuales o múltiples, reduciendo así el tiempo general de funcionamiento de manera significativa. Una ventana de resultados en directo también permite al operador monitorizar el progreso y decidir si se precisa alguna intervención.

  • Use el modo de revisión para reexaminar las partículas individuales y ver todas sus propiedades, incluyendo la composición EDS y la clasificación del material.
    Use el modo de revisión para reexaminar las partículas individuales y ver todas sus propiedades, incluyendo la composición EDS y la clasificación del material.

    Use el modo de revisión para reexaminar las partículas individuales y ver todas sus propiedades, incluyendo la composición EDS y la clasificación del material.

    Use el modo de revisión para reexaminar las partículas individuales y ver todas sus propiedades, incluyendo la composición EDS y la clasificación del material.

    Clasificación de partículas interactiva y retrospectiva

    Use el modo Review Output para refinar y mejorar las recetas de clasificación haciendo un examen detallado de los resultados. También puede reexaminar cualquier partícula devolviendo la platina a las coordenadas apropiadas de la partícula. El modo de Retrospective Analysis le permite volver a evaluar los resultados existentes usando nuevos criterios de clasificación, sin necesidad de volver a analizar la muestra.

  • Ventana de navegación del explorador de SmartPI con vista de múltiples partículas

    Ventana de navegación del explorador de SmartPI con vista de múltiples partículas

    Ventana de navegación del explorador de SmartPI con vista de múltiples partículas

    Explorador de SmartPI

    Esta aplicación independiente le permite explorar o buscar los resultados para los espectros individuales, las imágenes de partículas, las partículas limítrofes u otros filtros que seleccione. Adicionalmente, el explorador de SmartPI incluye opciones para el archivado, además de una función de montaje de imágenes para crear una imagen unida de los campos analizados. El explorador también se puede usar sin conexión para liberar tiempo de sistema para el análisis.

  • Informe de limpieza VDA 19 generado en SmartPI Reporter
    Informe de limpieza VDA 19 generado en SmartPI Reporter

    Informe de limpieza VDA 19 generado en SmartPI Reporter

    Informe de limpieza VDA 19 generado en SmartPI Reporter

    SmartPI Reporter

    Esta aplicación independiente cuenta con varias herramientas integradas que le permiten construir informes dedicados. Puede usar los controles de arrastrar y soltar, modificar una plantilla de informe existente o seleccionar un informe estándar ISO o VDA. Una vez haya definido su informe, puede guardarlo como plantilla para futuros informes. Use SmartPI Reporter en línea para generar informes de inmediato o sin conexión cuando analice los resultados en un momento posterior.

Plataformas SEM recomendadas

Microscopio electrónico de barrido EVO

Microscopio electrónico de barrido EVO

EVO es el SEM de elección convencional para el análisis rutinario de materiales o el control de calidad y el análisis de fallos para la industria. EVO cuenta con una platina grande motorizada de 5 ejes y un software SmartSEM fácil de usar. Ofrece una plataforma con muchas opciones de configuración para la captura de imágenes para aplicaciones de análisis de partículas. EVO está disponible con presión variable (VP), lo cual permite la captura de imágenes y el análisis de muestras no conductoras, como filtros, sin necesidad de aplicar un revestimiento conductor, dejando así el filtro intacto para el análisis subsiguiente usando, p. ej., Raman o FTIR.

Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo Sigma

Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo Sigma

Sigma es el SEM de elección para los usuarios que precisan una mejor resolución para el análisis de partículas en escala nanométrica. Sigma cuenta con tecnología de columnas Gemini que proporciona excelentes resultados analíticos y de captura de imágenes de un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FE-SEM). La óptica Gemini permite capturar imágenes con la máxima resolución en una plataforma optimizada para el análisis elemental, especialmente en muestras magnéticas.

Descargas

    • ZEISS SmartPI

      Your Automated SEM Particle Analysis and Classification Solution

      8 MB


    • ZEISS SmartPI

      Automated Identification of Asbestos

      11 MB


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