ZEISS SmartPI
Smart Particle Investigator
Su solución automatizada de clasificación y análisis de partículas SEM
Detecte, analice y clasifique las partículas
Smart Particle Investigator (SmartPI), su solución avanzada de análisis y clasificación de partículas, convierte los microscopios electrónicos de barrido en soluciones preconfiguradas para aplicaciones de limpieza industrial o metal y acero. SmartPI incorpora todos los aspectos del control SEM, el procesamiento de imágenes y el análisis elemental (EDS) en una sola aplicación.
- Controle tanto la captura de imágenes SEM como el análisis EDS con un único programa de software.
- Realice el análisis de partículas automatizados sin supervisión.
- Genere datos reproducibles e informes conformes a las normativas de la industria.
- Combine SmartPI con soluciones de análisis de partículas de microscopios ópticos de ZEISS para configurar un flujo de trabajo correlativo.
- Benefíciese del servicio y la asistencia global de ZEISS para todo el sistema.
- SmartPI cumple con las normas de limpieza ISO 16232 y VDA 19.
SmartPI en funcionamiento
Plataformas SEM recomendadas
Microscopio electrónico de barrido EVO
EVO es el SEM de elección convencional para el análisis rutinario de materiales o el control de calidad y el análisis de fallos para la industria. EVO cuenta con una platina grande motorizada de 5 ejes y un software SmartSEM fácil de usar. Ofrece una plataforma con muchas opciones de configuración para la captura de imágenes para aplicaciones de análisis de partículas. EVO está disponible con presión variable (VP), lo cual permite la captura de imágenes y el análisis de muestras no conductoras, como filtros, sin necesidad de aplicar un revestimiento conductor, dejando así el filtro intacto para el análisis subsiguiente usando, p. ej., Raman o FTIR.
Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo Sigma
Sigma es el SEM de elección para los usuarios que precisan una mejor resolución para el análisis de partículas en escala nanométrica. Sigma cuenta con tecnología de columnas Gemini que proporciona excelentes resultados analíticos y de captura de imágenes de un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FE-SEM). La óptica Gemini permite capturar imágenes con la máxima resolución en una plataforma optimizada para el análisis elemental, especialmente en muestras magnéticas.