Actualizaciones disponibles

Para analizar muestras como, por ejemplo, secciones de tejido teñidas, corteza cerebral o embriones de pez cebra, los microscopios son la herramienta ideal. Por otra parte, los microscopios invertidos son perfectos para evaluaciones rápidas en la investigación rutinaria y el cultivo de tejidos.

Actualizaciones para las siguientes series:

• Axio Imager
• Axio Observer
• Axio Examiner
• Axioscope
• Axio Vert
• Axiolab
• Y otros

Los estereomicroscopios de zoom y los estereomicroscopios generan imágenes tridimensionales y lateralmente precisas para sus aplicaciones de microscopía. Estos microscopios permiten grandes distancias de trabajo y ofrecen campos de objeto grandes.

Actualizaciones para las siguientes series:

• Axio Zoom.V16
• Stereo Discovery
• Stemi 305
• Stemi 508
• Y otros

Los microscopios confocales o de barrido láser generan la imagen escaneando una muestra de forma secuencial punto por punto, línea por línea, o múltiples puntos a la vez. Son ideales para aplicaciones que requieren sensibilidad en ciencias de la vida, así como en tareas topográficas sobre superficies de materiales.

Actualizaciones para las siguientes series:

• LSM 980
• LSM 900
• LSM 880
• LSM 800
• LSM 780
• LSM 710
• LSM 700

Con los FIB-SEM de ZEISS, se beneficia de una nanoestación de trabajo en 3D. Combine la captura de imágenes y el rendimiento analítico de un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FE-SEM) con la capacidad de procesamiento de un haz de iones focalizado (FIB).

Actualizaciones para las siguientes series:

• Serie Crossbeam
• Serie AURIGA
• Serie NVision
• Serie NEON
• Serie 15xx XB

Consiga imágenes de alta resolución con excelente calidad incluso de muestras complejas, de forma cómoda y rápida con la tecnología Gemini. La óptica Gemini cuenta con más de 20 años de experiencia en el campo de la microscopía electrónica de barrido de emisión de campo (FE-SEM).

Actualizaciones para las siguientes series:

• Serie GeminiSEM
• Serie MERLIN
• Serie Sigma
• Serie ULTRA
• Serie SUPRA
• Serie 15xx

Los microscopios ZEISS C-SEM ofrecen información de la superficie en alta resolución y un contraste excelente de los materiales.
Escanean una muestra con un haz de electrones focalizado y ofrecen imágenes con información sobre la topografía y la composición de las muestras.

Actualizaciones para las siguientes series:

• Serie EVO

Amplíe los límites de su exploración con la captura de imágenes de rayos X no destructiva y submicrónica de los microscopios Xradia Versa. El modelo más avanzado en la familia Xradia Versa se basa en la mejor resolución y contraste de la industria, ampliando los límites de la captura de imágenes no destructiva.

Actualizaciones para las siguientes series:

• Xradia 620 Versa
• Xradia 610 Versa
• Xradia 520 Versa
• Xradia 510 Versa
• Xradia 410 Versa

Con ZEISS Xradia Ultra logrará una resolución de hasta solo 50 nm, la máxima en sistemas de captura de imágenes de rayos X en laboratorios. Gracias a la óptica de rayos X, adaptada de la tecnología de sincrotrón, puede captar imágenes en 3D de una amplia gama de materiales, como polímeros, cerámicas, rocas y metales.

Actualizaciones para las siguientes series:

• Xradia 810 Ultra
• Xradia 800 Ultra

Consiga una captura de imágenes no destructiva por tomografía microcomputarizada de rayos X en 3D con un amplio campo de visión mediante ZEISS Xradia Context. Gracias a una robusta platina y un posicionamiento del detector/la fuente flexible controlado por software, puede captar imágenes de muestras grandes, pesadas y altas en todo su contexto 3D, además de muestras pequeñas con resolución y detalle submicrónicos.

Actualizaciones para las siguientes series:

• Xradia Context microCT