Mejoras para FE-SEM

Aumente la productividad y mejore la calidad de la imagen de su FE-SEM mediante la modernización del nuevo detector de retrodispersión con selección de ángulo (AsB). Benefíciese de una elevada velocidad y una mayor sensibilidad gracias a la mejora del detector y el diseño electrónico.

Ventajas:

• Mejor rendimiento a bajo kV
• Mejor contraste de imagen
• Nivel de temperatura constante

Folleto del producto
Actualización de su antiguo detector AsB

El detector retrodispersado selectivo de energía (EsB) es apto para un contraste de composición claro. Se trata de un detector en columna de forma anular que está situado encima del detector In-lens. La capacidad de detectar BSE hace visible la información de la subsuperficie y la composición a nanoescala.

Ventajas

• Información más detallada del material
• Menos efectos de topografía
• Contraste de material selectivo de energía

Folleto del producto

La captura de imágenes rápida con la resolución deseada requiere dosis de electrones y tensiones de aceleración elevadas que pueden provocar efectos de carga y daños en la muestra que afecten a la calidad de la imagen. ZEISS Sense BSD combina una captura de imágenes ultraestructurales de alta resolución con un nuevo grado de eficiencia y calidad de imagen, lo que hace posible, gracias a su SEM, una captura de imágenes tipo TEM.

Ventajas:

• Apto para muestras biológicas no conductoras con tendencia a la carga
• Mejor protección de la muestra y evita la degradación de la imagen
• Genera imágenes de alta calidad en menos tiempo

Folleto del producto

El detector BSD de escintilador de un solo cristal ZEISS YAG (granate de itrio y aluminio) permite una mayor eficiencia de la conductancia lumínica, lo cual es ideal para la captura de imágenes con baja señal. El material libre de daños por radiación convierte al YAG BSD en un detector apto para todas las gamas de energía de haz.

Ventajas:

• Mayor rendimiento de señal
• Prevención de daños
• Versatilidad mejorada

Folleto del producto

El nuevo detector ETSE (detector secundario Everhart-Thornley de electrones) con fotomultiplicador acoplado ópticamente se ha diseñado para mejorar la captura del SE a bajo kV y mayores distancias de trabajo.

Ventajas:

• Reducción del efecto de carga
• Captura de imágenes topográficas mejorada
• Excelente detalle superficial

Folleto del producto

Si la captura de imágenes SEM no es suficiente para conocer a fondo las piezas o las muestras, los investigadores pasarán a la espectroscopia de dispersión de energía (EDS) para obtener información química elemental con resolución espacial.

Ventajas:

• Optimizado para aplicaciones rutinarias de microanálisis
  
• Interfaz gráfica de usuario guiada por flujo de trabajo
  
• Asistencia del sistema y servicio ZEISS total

Folleto del producto

ZEISS Atlas 5 hace su vida más fácil. Crea imágenes multiescala con posibilidad de trabajar en diferentes modos dentro de un entorno correlativo centrado en la muestra.

Ventajas:

• Correlacione imágenes en múltiples dimensiones procedentes de múltiples fuentes
• Adquisición de imágenes rápida y fácil

Folleto del producto

SmartSEM es un sistema operativo para microscopios electrónicos que proporciona acceso a ajustes avanzados del microscopio, diseñados para resolver incluso las tareas más complejas.

Ventajas:

• Condiciones mejoradas de captura de imágenes
• Módulos adicionales de software
• Más información de sus imágenes
• Navegación intuitiva

Folleto del producto

Su microscopio electrónico de barrido mide y analiza todo tipo de muestras en 2D. Para analizar las superficies de muestras en 3D, utilice la ampliación del sistema 3DSM, el paquete de software opcional de ZEISS. Consiga información topográfica mediante la reconstrucción de un modelo en 3D completo de la superficie de su muestra usando las señales de los detectores aBSD o AsB.

Ventajas:

• 3DSM
• Realice una reconstrucción de la superficie en 3D de su muestra
• Benefíciese del funcionamiento en tiempo real y de tiempos de reconstrucción <2 s

3DSM Metrology:

• Obtenga mediciones y documentación automáticas de conformidad con ISO 25178, DIN, ASME y otras normas
• Cree informes metrológicos completamente rastreables
• Caracterice las superficies y los perfiles, incluyendo parámetros, como la altura de los escalones, la distancia, el contorno nanométrico, la rugosidad y ondulación, y el tamaño de las partículas y los granos

El sistema de compensación de carga ofrece una descarga localizada de muestras no conductoras mediante ionización de nitrógeno. Gracias a la integración del sistema de compensación de carga, la alta resolución combinada con una expansión adicional de las capacidades analíticas no se limita solamente a muestras conductoras, sino que también se pueden ejecutar para todo tipo de muestras no conductoras.

Ventajas:

• Captura de muestras no conductoras
• Mejore la calidad de imagen
• Mayor productividad y variedad

Folleto del producto

ZEISS Focal CC (Focal Charge Compensation o compensación de carga focal) es un sistema mejorado de inyección de gas para mejorar la calidad de imagen mediante la eliminación de los efectos de carga. La carga anterior de especímenes, especialmente en muestras que contenían grandes regiones de resina desnuda, daba lugar a una degradación significativa de la calidad de la imagen y a distorsión.

Ventajas:

• Captura de imágenes de alta resolución
• Prevención de daños
• Retracción de aguja automática

Folleto del producto

Con el controlador de palanca de mando doble y el panel de control instalado, el manejo resulta mucho más cómodo. El controlador de palanca de mando doble se puede usar para el control de la platina y la navegación por las muestras, mientras que el panel de control le permite acceder fácilmente a las funciones del SEM usadas con más frecuencia.

Ventajas:

• Múltiples posibilidades de compensación
• Varias opciones de configuración
• Manejo práctico

Folleto del producto