Microscopes électroniques à balayage et à faisceau d'ions focalisé
Données volumétriques isotropes à haute résolution pour des reconstructions 3D précises
Représentation schématique d'un flux de tâches typique
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Une tranche est broyée dans un échantillon enrobé de résine à l'aide d'un faisceau d'ions focalisé jusqu'à ce que la structure d'intérêt devienne visible.
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La surface de l'échantillon nouvellement exposée de la structure d'intérêt est imagée. Ce processus de broyage et d'imagerie est répété jusqu'à ce que la structure soit complètement imagée.
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Les images acquises au microscope électronique sont traitées et alignées numériquement dans un ensemble de données 3D. Les compartiments cellulaires peuvent être identifiés et segmentés.
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L'ensemble des données 3D segmentées peut être visualisé, étudié et analysé statistiquement.
Exemples d'application
Visualisation isotrope à haute résolution de l'ultrastructure cellulaire en 3D
Imagerie 3D des cellules HeLa
Imagerie de série 3D automatisée avec la technologie FIB-SEM de ZEISS
Le faisceau d'ions focalisé a été utilisé pour enlever séquentiellement des couches de 8 nm d'épaisseur de l'échantillon pendant que la block-face exposée est scannée avec un microscope électronique à balayage. Un volume d'images 3D de haute résolution est ainsi obtenu. La segmentation et la visualisation automatisées des composants cellulaires ont été effectuées à l'aide d'un modèle d'apprentissage profond entraîné par arivis Cloud dans arivis Pro, afin que les différents composants cellulaires puissent être visualisés et quantifiés.
Caractérisation de l'appareil de Golgi
Mieux comprendre son rôle dans la modification et le transport des protéines
Cette image montre une reconstruction 3D du corps de Golgi d'une algue à partir d'un ensemble de données FIB-SEM. L'ensemble des données distingue les faces cis et trans du Golgi (jaune/rouge : cis-golgi, violet/bleu : trans-golgi). La segmentation des composants cellulaires à partir des ensembles de données à haute résolution acquis à l'aide de la technologie ZEISS Crossbeam FIB-SEM permet de caractériser et de quantifier avec précision les composants internes.