Analyse avancée pour les nouveaux alliages complexes

Les propriétés des métaux et des alliages sont contrôlées par leur microstructure à tous les stades du processus de production, c'est-à-dire depuis le moulage, le forgeage et l'extrusion jusqu'à l'usinage, le soudage, la fabrication et le service. Tridimensionnelles, les microstructures des matériaux ne sont pas toujours uniformes dans toutes les directions. Il arrive également qu'elles contiennent des pores, des vides, des fissures, différentes phases et d'autres caractéristiques géométriques. Un scan haute résolution est nécessaire, avec une cartographie 3D complète et une tomographie assistée par ordinateur de toutes les caractéristiques de subsurface et des variations de densité.

Compte tenu de la nature géométrique du grossissement, la tomographie assistée par ordinateur (CT) aux rayons X standard est limitée à de petites tailles d'échantillon lors de l'imagerie à haute résolution. Une distance de travail plus longue étant requise, il est possible de maintenir une haute résolution (400 nm) pour des échantillons plus volumineux. Les microscopes à rayons X Versa de la gamme ZEISS Xradia 600 intègrent une architecture de grossissement à deux niveaux avec une technologie de source de rayons X à flux élevé, permettant des analyses non destructives plus rapides, davantage d'échantillons, un contraste plus élevé au bruit ainsi qu'une résolution considérablement améliorée à distance par rapport aux systèmes CT standard, même pour les échantillons volumineux.

Cette capacité est encore améliorée par LabDCT (Tomographie par Contraste de Diffraction), réalisant une cartographie non destructive de l'orientation cristallographique et de la microstructure des grains en 3D. Cette innovation ouvre une nouvelle ère dans la caractérisation des alliages de métaux et des matériaux polycristallins. Elle permet même d'étudier l'évolution microstructurale en effectuant des expériences d'imagerie 4D.