ZEN Correlative Array Tomography
Microscopie électronique et optique 3D pour coupes sériées
Avec Array Tomography, utilisez des coupes sériées pour reconstruire le volume de votre échantillon. Vous pouvez découper en coupes successives des échantillons de tissus enrobés de résine à l'aide d'un ultramicrotome et les visualiser. Après l'acquisition automatisée dans le microscope optique, transférez l'échantillon dans votre microscope électronique qui dispose des mêmes outils logiciels. Obtenez automatiquement des images de centaines de coupes sur plusieurs échelles de longueur et combinez-les en un seul ensemble de données volumétriques corrélatives.
Microscopie corrélative 3D à grande échelle
L'imagerie corrélative de nombreuses coupes sériées n'a jamais été aussi simple : il suffit de tracer le contour d'une des coupes dans votre ruban, et ZEN Correlative Array Tomography détecte et marque automatiquement les autres coupes. Vous pouvez ensuite tracer la région d'intérêt (ROI) dans n'importe quelle coupe. Le logiciel suggère une configuration optimale de la juxtaposition et transfère automatiquement la ROI aux autres coupes.
Processus guidés par assistant
ZEN Correlative Array Tomography offre le même environnement de travail sur le microscope optique et électronique en s'adaptant à leurs exigences respectives. Laissez les assistants logiciels vous guider pas à pas dans le processus d'acquisition de centaines de coupes sériées au microscope optique. Transférez ensuite l'échantillon sur votre microscope électronique. ZEN Correlative Array Tomography vous fournit toutes les informations nécessaires pour commencer à capturer les images de régions identiques à une résolution nanométrique.
Reconstruction de votre ensemble de données 3D corrélatives
Utilisez ZEN Correlative Array Tomography pour assembler, aligner et reconstruire les images fournies par votre microscope optique et électronique en piles 3D. Combinez ensuite les ensembles de données LM et EM correspondants en un volume 3D corrélatif. Vous obtenez ainsi une résolution z améliorée basée sur l'épaisseur de la coupe et non sur des contraintes optiques. Examinez les moindres détails de vos données de microscopie optique et électronique à l'aide d'un seul logiciel.