Logiciels pour la microscopie électronique - Trouvez la solution adaptée à votre application

Logiciels pour la microscopie électronique

Trouvez la solution adaptée à votre application

Découvrez les logiciels ZEISS pour microscopes électroniques

ZEISS SmartSEM - Solution logicielle pour MEB, FE-SEM et FIB-SEM

ZEISS SmartSEM

Solution logicielle pour les MEB, les FE-SEM et les FIB-SEM

ZEISS SmartSEM est votre système d'exploitation pour les microscopes électroniques ZEISS. Tout en vous donnant accès aux réglages avancés du microscope, il vous permet de réaliser les tâches les plus difficiles.

ZEISS Atlas 5 – Maîtrisez l'imagerie multi-échelles

ZEISS Atlas 5

Maîtrisez l'imagerie multi-échelles

Créez des images complètes, multi-échelles et multimodales avec un environnement corrélatif centré sur l'échantillon. Atlas 5 est une solution puissante et intuitive qui étend les capacités de vos microscopes électroniques à balayage (MEB) et MEB à faisceau d'ions focalisé (FIB-SEM) de ZEISS.

ZEISS Mineralogic - Minéralogie quantitative automatisée

ZEISS Mineralogic

Minéralogie quantitative automatisée

ZEISS Mineralogic 2D et 3D exécutent l'analyse minérale quantitative automatisée en associant la microscopie de pointe des microscopes électroniques à balayage (MEB) et à rayons X (XRM), la spectroscopie à dispersion d'énergie (EDS) et des algorithmes d'apprentissage profond basés sur l'IA, lesquels améliorent vos capacités d'analyse et votre productivité.

ZEISS Smart PI - Smart Particle Investigator

ZEISS Smart PI

Smart Particle Investigator

La solution avancée de classification et d'analyse de particules Smart Particle Investigator (SmartPI) transforme les microscopes électroniques à balayage en solutions clés en main pour la propreté industrielle ou les applications métal et acier. SmartPI intègre tous les aspects du contrôle MEB, du traitement d'image et de l'analyse élémentaire (EDS) au sein d'une même application.

3DSM - Analysez des échantillons topographiques en 3D

Modélisation de surface 3D

Utilisez votre MEB pour reconstruire la surface de vos échantillons topographiques

Modélisation de surface 3D - Utilisez votre MEB pour reconstruire les surfaces de vos échantillons

Votre microscope électronique à balayage mesure et analyse tous les types d'échantillons en 2D : pour analyser les surfaces des échantillons en 3D, utilisez le pack logiciel en option 3DSM de ZEISS. Obtenez des informations topographiques en reconstruisant un modèle 3D complet de la surface de votre échantillon à l'aide des signaux émis par les détecteurs d'électrons rétrodiffusés.

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