ZEISS Atlas 5

• Combinez un générateur de balayage 16 bits et un système d'acquisition double des signaux de suréchantillonnage avec un logiciel de commande et de traitement d'image.
• Capturez des images jusqu'à 32 k x 32 k pixels sur les MEB et jusqu'à 40 k x 50 k sur les FIB-SEM. 
• Utilisez des temps de pause de 100 ns à > 100 s, réglables par incréments de 100 ns, pour l'acquisition d'images.
• Sauvegardez vos images avec une intensité de huit ou seize bits.

• Réduisez le temps d'acquisition et la complexité de calcul en définissant votre ROI en fonction de sa forme réelle et en obtenant une mosaïque avec un nombre réduit de clichés.
• Limitez ainsi tant les retards dus aux mouvements de la platine que la perte de surface de chaque image due à la superposition.
• Réduisez les dommages et les dégradations de l'échantillon dus au faisceau en optimisant le nombre de « raccords » qui se chevauchent.

• Définissez précisément votre région d'intérêt et balayez uniquement les zones désignées à l'aide de protocoles d'imagerie prédéfinis.
• Bénéficiez de résultats reproductibles en développant des protocoles offrant des conditions d'imagerie idéales.
• Préservez la netteté des images pendant les longues périodes d'acquisition grâce aux outils avancés de mise au point automatique et d'auto-astigmatisme.
• Capturez l'image de votre échantillon quand et où vous le souhaitez : Atlas 5 prend en charge les sessions multiples sur plusieurs instruments.
• Mettez en corrélation les images dans l'espace de travail corrélatif centré sur l'échantillon d'Atlas 5 : rassemblez les images 2D et les données volumiques 3D provenant de plusieurs instruments.
• Importez et alignez les données des microscopes optiques, à rayons X, électroniques et FIB-SEM pour produire une image unique et cohérente de votre échantillon.

• Corrélez les scans en volume de votre microscope à rayons X ZEISS avec les caractéristiques de surface visibles dans votre FIB-SEM.
• Utilisez les données radiographiques pour localiser virtuellement les caractéristiques sub-surfaciques en 3D par rapport aux sites FIB ciblés avec précision, même si elles ne sont pas visibles in situ.
• Naviguez ensuite vers ces régions en toute confiance grâce à votre ZEISS FIB-SEM.

Découvrez Atlas 5, ses modules, leurs caractéristiques et leurs options de configuration. Élargissez les capacités de votre MEB et FIB-SEM ZEISS avec Atlas 5 en option. Profitez des fonctionnalités avancées des modules supplémentaires et apprenez à les combiner. Noter que les modules Atlas 5 nécessitent Atlas 5. Le module Analytics en option nécessite le pack matériel et logiciel ZEISS Oxford Instruments. Le module Analytics sur FIB-SEM nécessite Atlas 5 3D Tomography.

• Définissez facilement des sites d'imagerie pour toutes les coupes grâce à l'outil Clone.
• Détectez automatiquement la forme de la coupe grâce à l'outil Snap Section.
• Gérez efficacement les sites d'acquisition et définissez même des sous-sites pour les coupes.
• Compilez les images dans un volume en 3D à l'aide de l'outil d'exportation de piles d'images et explorez-les à l'aide de la visionneuse de piles d'images.
• Profitez des fonctions d'alignement de piles 3D et de corrections des images.
  

• Exportez un ou plusieurs ensembles de données dans un format pouvant être visualisé dans un navigateur web standard.
• Il est même possible d'effectuer des mesures et des annotations.
• Créez des diaporamas basés sur les données à des fins de présentation et intégrez des informations supplémentaires telles que des fichiers PDF ou audio, des images, des spectres ou des films.
• Laissez vos collègues, étudiants ou pairs explorer librement les données en résolution maximale et partagez ces données facilement par clé USB ou en les hébergeant sur un serveur.
• L'utilisateur peut suivre le diaporama ou l'interrompre à tout moment pour explorer les données de manière autonome.

Découvrez la tomographie en trois dimensions :

• Obtenez des visualisations 3D précises avec le moteur d'acquisition 3D FIB-SEM et la préparation automatisée des échantillons.
• Mesurez et contrôlez précisément l'épaisseur des coupes pendant la tomographie et obtenez des informations « True-Z » pour traiter vos données avec précision.
• Obtenez un tomogramme précis, continu et homogène d'échantillons sensibles à la charge, au rétrécissement ou aux dommages dus au faisceau grâce à la fonction « Thin & Fast Tomography ».
• Accélérez l'obtention des données de haute qualité grâce aux xROI (régions d'intérêt exactes), au suivi avancé des échantillons, à la correction prédictive de la dérive et au réglage automatique.
• Utilisez la visionneuse de piles d'images avec alignement de piles FIB-SEM 3D et l'exportation de piles d'images avec recadrage.