ZEISS SmartPI
Smart Particle Investigator
Votre solution automatisée d'analyse et de classification des particules par MEB
Détecter, analyser et classer les particules
La solution avancée de classification et d'analyse de particules Smart Particle Investigator (SmartPI) transforme les microscopes électroniques à balayage en solutions clés en main pour la propreté industrielle ou les applications métal et acier. SmartPI intègre tous les aspects du contrôle MEB, du traitement d'image et de l'analyse élémentaire (EDS) au sein d'une même application.
- Contrôlez l'imagerie MEB et l'analyse EDS avec un seul logiciel.
- Exécutez des analyses de particules automatisées et sans surveillance.
- Générez des données reproductibles et des rapports conformes aux normes de l'industrie.
- Combinez SmartPI avec les solutions d'analyse de particules ZEISS pour la microscopie optique afin de configurer un processus corrélatif.
- Bénéficiez du service ZEISS global et de l'assistance pour l'ensemble du système.
- SmartPI est conforme aux normes de propreté ISO 16232 et VDA 19.
SmartPI en action
Plateformes MEB recommandées
EVO Microscope électronique à balayage
EVO est le MEB conventionnel utilisé pour l'analyse de routine des matériaux, l'assurance qualité industrielle et l'analyse des défaillances. Avec une grande platine motorisée à 5 axes et le logiciel SmartSEM facile à utiliser, EVO offre une plateforme d'imagerie hautement configurable pour les applications d'analyse de particules. EVO est disponible avec une pression variable (VP), permettant l'imagerie et l'analyse d'échantillons non conducteurs, tels que des filtres, sans appliquer un revêtement conducteur, laissant ainsi le filtre intact pour une analyse ultérieure, par exemple avec Raman ou FTIR.
Microscope électronique à balayage à émission de champ Sigma
Sigma est le MEB idéal pour les utilisateurs nécessitant une résolution améliorée pour l'analyse de particules à l'échelle nanométrique. Sigma, doté de la technologie de colonne Gemini, fournit des résultats d'imagerie et d'analyse exceptionnels à partir d'un microscope électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM). L'optique Gemini fournit une imagerie ultra-haute résolution sur une plateforme très bien adaptée à l'analyse élémentaire, en particulier sur des échantillons magnétiques.