La technique de grossissement en deux étapes proposée par ZEISS Xradia Versa permet d'obtenir une résolution à distance (ou RaaD) unique pour étudier efficacement la plus grande variété de tailles d'échantillons, y compris ceux en chambres in situ .

Les images sont initialement grossies par projection géométrique comme avec le microCT classique. L'image est projetée sur un scintillateur, les rayons X convertis en une image lumineuse visible ensuite grossie par l'optique du microscope avant son acquisition par un détecteur CCD.

La réduction de la dépendance au grossissement géométrique permet aux solutions ZEISS Xradia Versa de maintenir la résolution spatiale submicronique sous 500 nm à de grandes distances de travail.

Système de guidage et de commande ZEN navx

Les chercheurs de ZEISS ont observé les utilisateurs de la microscopie à rayons X et ont acquis une solide compréhension des problèmes et défis auxquels vous êtes confrontés, y compris vos biais, votre manière de les compenser, et vos solutions. Avec ces données en main, nos experts ont développé des conseils intégrés systématiques, des flux de tâches automatisés et des informations intelligentes sur le système pour que même les utilisateurs novices obtiennent des résultats avec une facilité et une efficacité accrues. Si vous êtes un utilisateur expert, ZEN navx offre des avantages significatifs en termes d'efficacité, en « déverrouillant » le système pour vous permettre d'explorer toute la polyvalence de ZEISS Versa XRM. ZEN navx fournit également une visualisation infographique qui vous guide dans vos décisions, par exemple lorsque vous devez choisir entre la résolution, le champ d'observation et le rendement.

ZEN navx comprend une visionneuse 3D intégrée compatible avec la fonction Volume Scout pour une navigation 3D de bout en bout. L'accès à l'échantillon est ainsi simplifié pour la localisation et l'identification des régions spécifiques d'intérêt afin d'obtenir une imagerie à plus haute résolution.

Parmi les autres fonctionnalités, citons ZEN navx File Transfer Utility, ou FTU, qui enregistre les données de votre microscope exactement là où vous en avez besoin, quand vous en avez besoin, sans que vous ne deviez les transférer manuellement d'un système à un poste de travail, ou les enregistrer sur un disque dur pour les transférer d'un endroit à l'autre. SmartShield fonctionne au sein de ZEN navx pour protéger votre système et votre échantillon contre les dommages.

FAST Mode, grâce à votre Flat Panel Extension (FPX)

FAST Mode de ZEISS VersaXRM permet l'acquisition rapide d'images 3D pour tous les échantillons grâce à un scan en mouvement continu. Utilisé avec le détecteur à panneau plat (FPX) disponible en option, ce mode permet une rotation ininterrompue de l'échantillon pendant la capture de l'image à rayons X sous différents angles, éliminant le délai de l'acquisition traditionnelle par pas et prise de vue. Ainsi, des scans nettement plus rapides peuvent être atteints lorsque les temps d'exposition sont inférieurs à 0,5 seconde, une durée typique pour le détecteur FPX, grand et sensible. Les temps d'acquisition, généralement compris entre 1 et 5 minutes, peuvent même être inférieurs à 20 secondes quand les besoins de qualité d'image sont moins contraignants.

FAST Mode permet une navigation 3D en temps réel pour tous les échantillons grâce à une intégration complète au flux de tâches Volume Scout dans ZEN navx. L'acquisition en FAST Mode s'intègre parfaitement à Volume Scout afin d'obtenir un retour d'information quasi immédiat et une véritable navigation en 3D vers la région d'intérêt correcte dans vos échantillons complexes.

Les microscopes à rayons X ZEISS Versa apportent la première solution d'imagerie 3D du marché pour la plus grande variété d'équipements in situ, depuis les cellules de flux haute pression aux platines de traction, de compression et thermiques. Au-delà des trois dimensions de l'espace, profitez de la nature non destructive des examens aux rayons X pour étendre vos recherches grâce aux expériences 4D.

Ces études exigent que les échantillons soient plus éloignés de la source de rayons X pour adapter différents types d'équipements in situ. Sur les systèmes microCT conventionnels, cette configuration limite significativement la résolution réalisable pour vos échantillons. Les microscopes ZEISS Versa XRM utilisent une architecture unique de grossissement en deux étapes dotée de la technologie RaaD qui permet de garantir la résolution maximale pour l'imagerie in situ.

Les plateformes ZEISS Versa XRM peuvent intégrer une variété d'appareils in situ, y compris des modèles personnalisés par l'utilisateur. Vous pouvez aussi ajouter le kit d'interface in situ en option à votre ZEISS Xradia XRM. Ce dernier comprend un kit d'intégration mécanique, un guide de câblage robuste et d'autres fonctions (entrées) et est accompagné d'un logiciel basé sur les recettes pour simplifier la commande depuis l'interface utilisateur Versa Scout-and-Scan ou ZEN navx. Si vous avez besoin de repousser les limites de résolution de vos expériences in situ, transformez votre ZEISS Xradia microCT ou XRM en microscope à rayons X VersaXRM 730 pour profiter de la technologie RaaD et atteindre des performances maximales en matière d'imagerie tomographique d'échantillons dans les appareils ou chambres in situ.