ZEISS Xradia CrystalCT Le premier système d'imagerie cristallographique microCT disponible sur le marché
ZEISS Xradia CrystalCT augmente la puissante technique de tomographie assistée par ordinateur en y ajoutant la capacité de révéler des microstructures de grains cristallographiques. Il transforme ainsi la façon d'étudier les matériaux polycristallins (tels que les métaux, la fabrication additive, les céramiques, les produits pharmaceutiques et autres) : vous obtiendrez des informations inédites et approfondies pour vos recherches sur les matériaux.
Système révolutionnaire de tomographie par contraste de diffraction (DCT) sur un MicroCT
Percez les secrets cristallographiques de vos échantillons directement dans votre laboratoire
Des possibilités de recherche élargies
Sur un système de microCT, la DCT assure l'imagerie de matériaux polycristallins monophasés dans des laboratoires de recherche technique et industrielle. Elle couvre une grande variété d'échantillons de métaux, minerais, céramiques, semi-conducteurs et substances pharmaceutiques en 3D. ZEISS Xradia CrystalCT intègre des ensembles d'ouverture et d'arrêt de faisceau. Conçu avec précision pour exploiter des faisceaux de rayons X divergents et polychromatiques, il illumine une région d'intérêt et augmente la sensibilité aux signaux de diffraction plus faibles des échantillons polycristallins.
Échantillon Al-4wt%Cu avec une dimension de coupe de référence de (longueur) 1,25 mm, (largeur) 1,0 mm et (épaisseur) 0,5 mm. Échantillon scanné avec Helical Phyllotaxis HART
Un contraste et une image de qualité supérieure
ZEISS Xradia CrystalCT fait progresser la caractérisation, la modélisation et la découverte des matériaux grâce à des modes inédits de balayage par diffraction. Les modes d'acquisition innovants par DCT suppriment les restrictions imposées par la taille des grands échantillons et permettent d'étudier davantage de types d'échantillons. La cartographie granulaire de grands volumes sans raccord scanne les échantillons plus rapidement et affine la représentation des données.
Obtenez une meilleure représentativité des échantillons pour créer des modèles informatiques de haute fidélité.
Une puissante plateforme MicroCT
ZEISS se base sur sa puissante technologie Xradia pour fournir des performances de pointe sur un microCT. Une platine robuste, un positionnement flexible et contrôlé par logiciel de la source/de l'échantillon/du détecteur, ainsi qu'un détecteur doté d'une large plage de détection s'associent pour vous offrir des images en haute résolution et de qualité supérieure dans un contraste sans égal. Les systèmes d'imagerie ZEISS Xradia CT dépassent systématiquement les performances attendues d'un microCT.
Illustration schématique d'une géométrie de projection CrystalCT. CrystalCT propose une double modalité : la tomographie par contraste d'absorption et la tomographie par contraste de diffraction.
Aperçu de la technologie
Représentativité améliorée des échantillons
Accessoires
Ajoutez des accessoires à votre microscope et augmentez ses capacités
Boîte à outils avancée de reconstitution
Rendement supérieur et qualité d'image unique
Technologies de reconstruction assistée par IA (intelligence artificielle) pour vos systèmes ZEISS Xradia. Une compréhension approfondie des principes physiques des rayons X et de leurs applications vous permettra de relever de manière inédite et innovante certains des défis les plus ardus en matière d'imagerie.
Autoloader
Optimisez l'utilisation de votre instrument
Optimisez l'utilisation de votre instrument et réduisez les interventions de l'utilisateur grâce à ZEISS Autoloader, disponible en option. Réduisez la fréquence d'interaction avec l'utilisateur et augmentez la productivité en exécutant plusieurs tâches. Chargez jusqu'à 14 stations d'échantillons, c'est-à-dire jusqu'à 70 échantillons, placez-les en file d'attente et laissez votre instrument fonctionner toute la journée, ou hors des heures de service.
Kit d'interface in situ
Repoussez les limites de la science
Les plateformes ZEISS Xradia peuvent intégrer une grande variété d'équipements in situ, depuis les cellules de flux à haute pression aux platines de tension, de compression et thermiques, en passant par les conceptions personnalisées. Au-delà des trois dimensions de l'espace, profitez de la nature non destructive des examens aux rayons X pour étendre vos recherches grâce aux expériences 4D.
Visualisation et analyse
ZEISS recommande Dragonfly Pro
ORS Dragonfly Pro est la solution logicielle d'analyse et de visualisation avancée pour vos données 3D acquises avec différentes technologies, notamment les rayons X, le FIB-SEM, le MEB et la microscopie à hélium ionisé. Disponible exclusivement chez ZEISS, ORS Dragonfly Pro propose une boîte à outils intuitive, complète et personnalisable pour visualiser et analyser de larges volumes de données 3D en niveaux de gris. À partir de vos données 3D, Dragonfly Pro permet la navigation, l'annotation ou encore la création de fichiers médias – y compris la production de vidéos. Effectuez un traitement d'image, une segmentation et une analyse d'objet pour quantifier vos résultats.