ZEISS Xradia Ultra

Comprenez comment les événements de déformation et les défaillances sont liés aux caractéristiques locales à l'échelle nanométrique. En complétant les méthodes d'essais mécaniques existantes, obtenez des informations sur le comportement à plusieurs échelles de longueur. ZEISS Xradia Ultra Load Stage permet de réaliser des tests nanomécaniques in situ (compression, tension, indentation) uniques, en utilisant l'imagerie 3D non destructive. Étudiez ainsi l'évolution des structures intérieures en 3D, sous charge, jusqu'à une résolution de 50 nm.

Étudiez les changements de matériaux à l'échelle nanométrique tels que les processus de dégradation, l'expansion thermique et les transitions de phase à des températures élevées. La platine chauffante Norcada pour ZEISS Xradia Ultra assure une imagerie 3D non destructive à l'échelle nanométrique à des températures d'échantillon élevées. La technologie de chauffage MEMS chauffe l'échantillon dans l'air jusqu'à 500 °C. Sa conception flexible chauffe ou polarise l'échantillon avec la même unité.

Même si vos régions d'intérêt (ROI) sont profondément enfouies, accédez-y rapidement ou produisez facilement des échantillons en forme de piliers pour effectuer des tests avec ZEISS Xradia Ultra ou au synchrotron. Utilisez le LaserFIB qui combine un FIB-SEM ZEISS Crossbeam avec un laser femtoseconde (fs) à impulsions ultra-brèves, pour des processus corrélatifs sur plusieurs échelles de longueur. Trouvez vos ROI, par exemple à partir d'ensembles de données de microscopie à rayons X 3D précédemment acquis, et ciblez-les pour une analyse plus approfondie à l'aide du processus Cut-to-ROI. Utilisez le laser fs pour découper des millimètres de matériau et produire des échantillons à analyser avec Xradia Ultra. Ensuite, exploitez les capacités du FIB-SEM pour le fraisage à l'échelle nanométrique et micrométrique, la tomographie, l'imagerie et les analyses avancées.

Cette solution logicielle d'analyse et de visualisation avancée fonctionne avec vos données 3D acquises avec différentes technologies, notamment les rayons X, le FIB-SEM et le MEB. Disponible exclusivement chez ZEISS, ORS Dragonfly Pro offre une boîte à outils intuitive, complète et personnalisable pour la visualisation et l'analyse de larges volumes de données 3D en niveaux de gris. Dragonfly Pro permet de naviguer, d'annoter, de créer des fichiers médias et de produire des vidéos à partir de vos données 3D. Effectuez un traitement d'image, une segmentation et une analyse d'objet pour quantifier vos résultats.

Boostez votre productivité avec le système de contrôle innovant ZEISS Scout-and-Scan™ :rationalisez la configuration des échantillons et des scans. L'interface utilisateur vous guide tout au long de la procédure d'alignement de l'échantillon, de recherche de régions d'intérêt et de configuration des scans 3D. Grâce aux recettes, configurez plusieurs scans du même échantillon pour imager diverses régions d'intérêt ou combiner différents modes d'imagerie. Ce système facile à utiliser est idéal pour un environnement de laboratoire central dont les utilisateurs présentent parfois des niveaux d'expérience très variés. Les utilisateurs avancés obtiennent un contrôle total du microscope pour des tâches d'imagerie personnalisées ou l'intégration dans des expériences in situ à l'aide d'une API Python intégrée.