Mises à niveau disponibles

Pour analyser des échantillons tels que des sélections de tissus colorés, des coupes de cerveau ou des embryons de poisson zèbre, les microscopes droits sont votre outil de choix. En revanche, les microscopes inversés sont parfaits pour réaliser des évaluations rapides dans le cadre de la recherche de routine et la culture tissulaire.

Mises à niveau des séries suivantes :

• Axio Imager
• Axio Observer
• Axio Examiner
• Axioscope
• Axio Vert
• Axiolab
• Autres

Un microscope stéréo ainsi qu'un microscope à zoom génèrent des images tridimensionnelles, latéralement précises pour vos applications en microscopie. Ces microscopes autorisent des distances de travail étendues et fournissent de vastes champs d'objets.

Mises à niveau des séries suivantes :

• Axio Zoom.V16
• Stereo Discovery
• Stemi 305
• Stemi 508
• Autres

Les microscopes à balayage laser ou confocaux génèrent l'image par balayage de l'échantillon de manière séquentielle point par point, ligne par ligne ou plusieurs points à la fois. Ils sont particulièrement adaptés aux applications exigeant une forte sensibilité dans les sciences de la vie, ainsi qu'aux tâches topographiques sur des surfaces de matériaux.

Mises à niveau des séries suivantes :

• LSM 980
• LSM 900
• LSM 880
• LSM 800
• LSM 780
• LSM 710
• LSM 700

Grâce aux microscopes ZEISS FIB-SEM, vous profitez d'une station de travail nano 3D. Combinez les performances d'imagerie et d'analyse d'un microscope électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM) avec la capacité de traitement d'un faisceau d'ions focalisés (FIB).

Mises à niveau des séries suivantes :

• Série Crossbeam
• Série AURIGA
• Série NVision
• Série NEON
• Série 15xx XB

Obtenez, rapidement et facilement, des images haute résolution d'excellente qualité grâce à la technologie Gemini. L'optique Gemini s'appuie sur plus de 20 ans d'expérience dans la microscopie électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM).

Mises à niveau des séries suivantes :

• Série GeminiSEM
• Série Merlin
• Série Sigma
• Série ULTRA
• Série SUPRA
• Série 15xx

Les ZEISS C-SEM fournissent des informations haute résolution sur les surfaces et un contraste supérieur des matériaux.
Ils scannent un échantillon à l'aide d'un faisceau d'électrons focalisés et acquièrent des images contenant des informations sur la topographie et la composition de l'échantillon.

Mises à niveau des séries suivantes :

• Série EVO

Repoussez les limites de votre exploration grâce à l'imagerie par rayons X submicronique non destructive des microscopes Xradia Versa. Le modèle le plus avancé de la gamme Xradia Versa s'appuie sur la meilleure résolution et le meilleur contraste actuellement disponibles sur le marché, repoussant les limites de l'imagerie non destructive.

Mises à niveau des séries suivantes :

• Xradia 620 Versa
• Xradia 610 Versa
• Xradia 520 Versa
• Xradia 510 Versa
• Xradia 410 Versa

ZEISS Xradia Ultra vous propose une résolution spatiale atteignant 50 nm, c'est-à-dire la plus élevée parmi les systèmes d'imagerie par rayons X de laboratoire. Grâce à son optique à rayons X unique adaptée de la technologie synchrotron, capturez en 3D une large gamme de matériaux tels que les polymères, les céramiques, les roches et les métaux.

Mises à niveau des séries suivantes :

• Xradia 810 Ultra
• Xradia 800 Ultra

Réalisez une imagerie par tomodensitométrie 3D à rayons X non destructive avec un large champ d'observation à l'aide de ZEISS Xradia Context. La solide platine et le positionnement source/détecteur flexible contrôlé par logiciel capturent des échantillons volumineux, lourds et hauts dans leur contexte 3D complet, ainsi que de petits échantillons avec une résolution et des détails inférieurs au micron.

Mises à niveau des séries suivantes :

• Xradia Context microCT