Mises à niveau pour FE-SEM

Augmentez la productivité et améliorez la qualité d'image de votre FE-SEM en installant le nouveau détecteur d'électrons rétrodiffusés avec sélection d'angle (AsB). Profitez d'une vitesse élevée et d'une sensibilité accrue grâce à une conception améliorée du détecteur et des composants électroniques.

Avantages :

• Amélioration des performances à faible kV
• Amélioration du contraste de l'imagerie
• Température stable

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Améliorez les fonctions de votre ancien détecteur AsB

Le détecteur d'électrons rétrodiffusés avec sélection d'énergie (EsB) est adapté au contraste de composition clair. Il s'agit d'un détecteur en colonne de forme annulaire qui est situé au-dessus du détecteur in-lens. Sa capacité à détecter les électrons rétrodiffusés (BSE) rend visibles les informations sous la surface et la composition à l'échelle nanométrique.

Avantages

• Informations plus détaillées sur les matériaux
• Réduction des effets de topographie
• Contraste des matériaux avec sélection d'énergie

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L'imagerie rapide à la résolution souhaitée nécessite des doses d'électrons et des tensions d'accélération élevées, qui peuvent provoquer des effets de charge et endommager l'échantillon, nuisant ainsi à la qualité de l'image. ZEISS Sense BSD combine l'imagerie ultrastructurelle haute résolution avec une efficacité et une qualité d'image inédites, vous permettant d'obtenir sur votre MEB des résultats comparables à un MET.

Avantages :

• Parfaitement adapté aux échantillons biologiques non conducteurs et sujets à des charges
• Protection optimale des échantillons et prévention de la dégradation de l'image
• Obtention plus rapide d'images de haute qualité

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Le détecteur BSD à scintillateur monocristallin YAG (grenat d'yttrium et d'aluminium) de ZEISS permet une conductivité de la lumière plus efficace, idéale pour l'imagerie à faible signal. Le matériau, exempt de dommages dus aux rayonnements, transforme le BSD YAG en un détecteur adapté à toutes les plages d'énergie du faisceau.

Avantages :

• Sortie de signal plus élevée
• Prévention des dommages
• Polyvalence améliorée

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Le nouveau détecteur ETSE (Everhart Thornely Secondary Electron) avec photomultiplicateur à couplage optique est conçu pour améliorer la collecte des SE lors d'opérations à faible kV et sur de plus longues distances de travail.

Avantages :

• Réduction de l'effet de charge
• Imagerie topographique améliorée
• Détails de la surface remarquables

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Si l'imagerie MEB seule ne suffit pas pour acquérir une compréhension complète de vos échantillons, les chercheurs se tourneront vers la spectroscopie à énergie dispersive (EDS) pour acquérir des informations sur la chimie élémentaire à résolution spatiale.

Avantages :

• Optimisé pour les applications de microanalyse courantes
  
• Interface utilisateur graphique guidée selon le processus
  
• Service complet et assistance pour les systèmes ZEISS

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ZEISS Atlas 5 vous simplifie la vie : créez des images multimodales à échelles multiples complètes avec un environnement corrélatif centré sur l'échantillon.

Avantages :

• Mise en corrélation des images en plusieurs dimensions provenant de sources multiples
• Acquisition d'images rapide et facile

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SmartSEM est un système d'exploitation pour microscopes électroniques qui permet d'accéder aux paramètres avancés du microscope afin de réaliser les tâches les plus difficiles.

Avantages :

• Conditions d'imagerie améliorées
• Modules logiciels supplémentaires
• Plus d'informations sur vos images
• Navigation intuitive

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Votre microscope électronique à balayage mesure et analyse tous les types d'échantillons en 2D : pour analyser les surfaces des échantillons en 3D, utilisez le pack logiciel en option 3DSM de ZEISS. Obtenez des informations topographiques en reconstruisant un modèle 3D complet de la surface de votre échantillon à l'aide des signaux émis par le détecteur aBSD ou AsB.

Avantages :

• 3DSM
• Reconstruction de surface 3D de votre échantillon
• Fonctionnement en temps réel et temps de reconstruction < 2s

3DSM Metrology :

• Obtenez des mesures automatiques et une documentation conforme aux normes ISO 25178, DIN, ASME et autres
• Créez des rapports métrologiques entièrement traçables
• Caractérisez les surfaces et les profils en incluant des paramètres tels que la hauteur d'échelon, la distance, le contour à l'échelle nanométrique, la rugosité et l'ondulation ainsi que la taille des particules et des grains

Le système de compensation de charge permet de décharger localement les échantillons non conducteurs par ionisation de l'azote. La résolution élevée combinée à une expansion supplémentaire des capacités d'analyse, avec l'intégration d'un système de compensation de charge, n'est pas seulement limitée aux échantillons conducteurs, mais peut également être appliquée à tous les types d'échantillons non conducteurs.

Avantages :

• Capture d'échantillons non conducteurs
• Amélioration de la qualité d'image
• Amélioration de la productivité et diversification

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Focal CC (Focal Charge Compensation) de ZEISS est un système d'injection de gaz perfectionné qui permet d'améliorer la qualité de l'image en éliminant les effets de charge. L'ancienne méthode de chargement des échantillons, en particulier les échantillons contenant de grandes régions de résine brute, entraînait une dégradation importante de la qualité de l'image, ainsi qu'une distorsion.

Avantages :

• Imagerie de haute résolution
• Prévention des dommages
• Rétraction automatique de l'aiguille

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La manette à double commande ainsi que le panneau de commande rendent l'utilisation du système beaucoup plus agréable. La manette à double commande peut être utilisée pour contrôler la platine et naviguer dans les échantillons. Le panneau de commande permet d'accéder très facilement aux fonctions les plus utilisées du MEB.

Avantages :

• De nombreuses possibilités de compensation
• Diverses options de configuration
• Manipulation pratique

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