Research Microscopy Solutions
Online Shop Site web international (Français)
retour
Research Microscopy Solutions
recherches recommandées
recherches fréquentes
Service et assistance

Mises à niveau pour FIB-SEM

Pour une longévité augmentée et des fonctionnalités étendues
Détecteurs et analyses

Analysez votre échantillon en vous appuyant sur un large éventail de détecteurs

FIB / GIS

Logiciels et poste de travail

Nanostructuration et structuration

Vide et facilité d'utilisation

Accessoires

Détecteurs et analyses

Analysez votre échantillon en vous appuyant sur un large éventail de détecteurs. L'utilisation de plusieurs détecteurs vous permet de recevoir différents types d'informations sur la surface, la composition et d'autres détails qui vous aideront à améliorer et à simplifier vos processus. 

Trouvez les détecteurs adaptés à vos besoins :

  • Recevez des recommandations sur le détecteur qui convient à votre application
  • Guide d'application simple
  • Informations spécifiques sur le détecteur
  • Informations sur les fonctionnalités disponibles
  • Outil interactif pour en savoir plus sur les détecteurs ZEISS
Ouvrir l'outil de recherche de détecteurs

Détecteur aSTEM

Obtenez un maximum d'informations grâce à une conception annulaire optimisée

Ajoutez une capacité d'imagerie électronique en transmission à votre système FE-SEM ou Crossbeam. Obtenez des informations supplémentaires sur vos échantillons biologiques ou solides ultrafins sans avoir à utiliser de microscope électronique à transmission dédié et bénéficiez d'une souplesse et d'une polyvalence maximales.

Avantages :

  • Meilleure résolution d'image
  • Sa facilité d'utilisation
  • Productivité et polyvalence accrues

Dépliant produit

Détecteur EsB

Rend visibles les informations sous la surface et la composition à l'échelle nanométrique

Le détecteur d'électrons rétrodiffusés avec sélection d'énergie (EsB) est adapté au contraste de composition clair. Il s'agit d'un détecteur en colonne de forme annulaire qui est situé au-dessus du détecteur in-lens. Sa capacité à détecter les électrons rétrodiffusés (BSE) rend visibles les informations sous la surface et la composition à l'échelle nanométrique.

Avantages

  • Informations plus détaillées sur les matériaux
  • Réduction des effets de topographie
  • Contraste des matériaux avec sélection d'énergie

Dépliant produit

Détecteur SESI

Obtenez des informations riches et détaillées en détectant les électrons et les ions secondaires

Le détecteur d'électrons et d'ions secondaires (SESI) est un nouveau type de détecteur disponible pour les postes de travail Crossbeam. Ce type de détecteur permet l'acquisition d'images d'ions ou d'électrons secondaires par FIB.

Avantages :

  • 2-en-1 : obtenez des informations grâce aux électrons et aux ions
  • Informations plus détaillées sur les matériaux
  • Large éventail de combinaisons possibles

Dépliant produit

Détecteur BSD

Imagerie 3D et métrologie des surfaces en temps réel

Le détecteur BSD4 est utilisé pour détecter les électrons rétrodiffusés sous des angles très faibles. Le mode COMPO est adapté pour produire un contraste de haute qualité entre les matériaux, ce qui signifie que les matériaux lourds sont affichés de manière plus vive que les matériaux légers.

Avantages :

  • Amélioration des performances à faible kV
  • Amélioration du contraste de l'imagerie
  • Température stable

Dépliant produit

Détecteur Sense BSD

Imagerie rapide et efficace de l'ultrastructure

L'imagerie rapide à la résolution souhaitée nécessite des doses d'électrons et des tensions d'accélération élevées, qui peuvent provoquer des effets de charge et endommager l'échantillon, nuisant ainsi à la qualité de l'image. ZEISS Sense BSD combine l'imagerie ultrastructurelle haute résolution avec une efficacité et une qualité d'image inédites, vous permettant d'obtenir sur votre MEB des résultats comparables à un MET.

Avantages :

  • Parfaitement adapté aux échantillons biologiques non conducteurs et sujets à des charges
  • Protection optimale des échantillons et prévention de la dégradation de l'image
  • Obtention plus rapide d'images de haute qualité

Dépliant produit

Amplificateur ES pour détecteurs BSD

Découvrez l'imagerie de haut niveau et une qualité d'image exceptionnelle

Le détecteur BSD est utilisé pour détecter les électrons rétrodiffusés sous des angles très faibles. Le nouvel amplificateur permet d'obtenir de meilleures performances de détection et fournit de nombreuses informations sur le contraste, un gain beaucoup plus élevé et un niveau de bruit plus faible.

 

Avantages :

  • Amélioration de la collecte des signaux
  • Application silencieuse
  • Imagerie variable

Dépliant produit

Système d'injection de gaz (GIS) / de faisceau d'ions focalisé (FIB)

Obtenez plus d'informations sur le faisceau d'ions focalisé (FIB) et bénéficiez d'une capacité de pulvérisation complète et des fonctionnalités d'outils de micro et nano-usinage. Le système d'injection de gaz (GIS) vous permet de déposer divers matériaux sur l'échantillon. Utilisez le FIB-SIMS pour analyser la composition des surfaces solides et des couches minces et obtenez des informations détaillées grâce à la visualisation in situ des lamelles avec le micromanipulateur.

Colonne FIB

Mise à niveau vers un poste de travail Crossbeam pour la micro et nanostructuration avec une colonne FIB

Combinez les performances d'imagerie et d'analyse de votre colonne Gemini avec les capacités d'un faisceau d'ions focalisé (FIB) de nouvelle génération. Bénéficiez d'une capacité de pulvérisation complète et de fonctionnalités d'outils de micro et nano-usinage d'une mise à niveau FIB.

 

Avantages :

  • Obtenez un maximum d'informations
  • Gardez la maîtrise de l'ensemble du processus
  • Profitez d'une souplesse maximale

Dépliant produit

GIS simple/multiple

Dépôt aisé de métaux et de matériaux isolants

Le GIS simple/multiple permet d'injecter un gaz de procédé sur la surface de l'échantillon pour le dépôt de métaux et d'isolants induit par un faisceau d'électrons ou d'ions.

 

Avantages :

  • Dépôt de divers matériaux
  • Large choix de précurseurs
  • Manipulation pratique

Dépliant produit

UniGIS

Dépôt de matériaux avec amélioration des performances

ZEISS UniGIS (GIS = Gas Injection System) est un nouveau système d'injection de gaz simple utilisé pour le dépôt induit par faisceau d'ions ou d'électrons (IBID/EBID) de précurseurs tels que le platine, le tungstène ou le carbone avec les systèmes FIB-SEM de ZEISS.

Avantages :

  • Stabilité du processus
  • Manipulation pratique
  • Dépôt fiable

Dépliant produit

Spectrométrie de masse à ions secondaires (FIB)

Analyse de la composition des surfaces solides et des couches minces

FIB-SIMS est une technique d'analyse de surface très puissante, notamment pour l'analyse des matériaux à l'échelle nanométrique et hautement sensible. Les limites de détection des éléments vont de parties par million à parties par milliard. Générez des informations élémentaires sur la surface, l'image et le profil en profondeur à l'aide de la spectrométrie de masse.

Avantages :

  • Analyse puissante des surfaces
  • Résolution améliorée
  • Profilage en profondeur

Dépliant produit

Système d'extraction de particules à jets croisés pour laser Crossbeam

Réduction de la contamination de la fenêtre de protection

Réduisez les efforts de nettoyage des composants de la trajectoire du faisceau ainsi que la contamination de la fenêtre de protection. Retirez facilement la buse à jets croisés afin de procéder au nettoyage et, dans le même temps, charger des supports EBSD élevés dans la chambre de préparation du laser.

Avantages :

  • Réduction de la contamination
  • Réduction des efforts de nettoyage
  • Amélioration de l'ablation

Dépliant produit

Nanostructuration et structuration

Créez des structures de l'ordre du nanomètre en éliminant ou en appliquant un matériau de surface et en utilisant différents systèmes (par exemple, un microscope à force atomique), ou bénéficiez d'images multimodales et à échelles multiples complètes grâce aux diverses options de ZEISS Atlas 5.

Microscope à force atomique

Passez à la résolution 3D au niveau atomique

Le microscope à force atomique ajoute des mesures calibrées, de niveau atomique, en 3D et à haute résolution aux fonctionnalités existantes du MEB.

 

Avantages :

  • Obtention de plus d'informations sur les propriétés mécaniques, électriques, chimiques et magnétiques de la surface de votre échantillon
  • Une productivité et une polyvalence accrues alliées à une manipulation simple

Dépliant produit

Atlas 5

Maîtrisez l'imagerie multi-échelles

ZEISS Atlas 5 vous simplifie la vie : créez des images multimodales à échelles multiples complètes avec un environnement corrélatif centré sur l'échantillon.

Avantages :

  • Mise en corrélation des images en plusieurs dimensions provenant de sources multiples
  • Acquisition d'images rapide et facile

Dépliant produit

 

Logiciels et poste de travail

Découvrez les dernières versions de nos logiciels et leurs fonctionnalités avancées grâce aux différentes options de licence, ainsi que le matériel informatique de pointe actuellement recommandé pour optimiser les performances de vos systèmes.

Poste de travail MEB

Processus efficaces, navigation intuitive et recherche de fichiers plus rapide

La mise à niveau du poste de travail ZEISS SEM améliore le flux de tâches quotidien en utilisant la version la plus récente du logiciel SmartSEM, des spécifications matérielles haute performance et le dernier système d'exploitation.

 

Avantages :

  • Version la plus récente de SmartSEM
  • Navigation intuitive
  • Windows 10

Dépliant produit

SmartSEM

Utilisez votre microscope électronique à balayage avec une plus grande efficacité

SmartSEM est un système d'exploitation pour microscopes électroniques qui permet d'accéder aux paramètres avancés du microscope afin de réaliser les tâches les plus difficiles.

 

Avantages :

  • Conditions d'imagerie améliorées
  • Modules logiciels supplémentaires
  • Plus d'informations sur vos images
  • Navigation intuitive

Dépliant produit

Recherche de logiciel avec Software Finder

Votre guide pour les mises à niveau de ZEN

Votre guide interactif pour l'actualité sur les logiciels, les mises à jour et les fonctionnalités supplémentaires. Renseignez-vous sur les logiciels ZEISS, les postes de travail et leur compatibilité, les nouvelles fonctionnalités et les dernières versions logicielles.

 

  • Outil interactif pour en savoir plus sur ZEN
  • Guide de mise à jour logicielle simple
  • Informations sur la compatibilité avec les postes de travail
  • Informations sur les fonctionnalités logicielles supplémentaires disponibles
  • Informations supplémentaires sur ZEN core

 

Catalogue des modules logiciels

Étendez les fonctionnalités et les performances de votre microscope

Ajoutez de nouvelles fonctionnalités et améliorez les fonctionnalités existantes grâce à nos nombreuses licences qui vous permettront d'améliorer vos processus, de simplifier l'utilisation de votre système et de disposer d'outils permettant de recueillir davantage d'informations.

 

Avantages :

  • Meilleurs processus grâce à de nouvelles fonctionnalités
  • Utilisation plus agréable

Dépliant produit

Shuttle & Find

Une passerelle entre les mondes micro et nanoscopiques

Avec Shuttle & Find, connectez votre microscope électronique et votre microscope optique ZEISS. La solution matérielle et logicielle combinée vous permet de transférer votre échantillon d'un système de microscope à un autre en quelques minutes seulement.

Avantages :

  • Obtention de plus d'informations
  • Étalonnage rapide
  • Choix flexible de composants

Dépliant produit

Vide et facilité d'utilisation

Améliorez votre confort et simplifiez votre routine de travail en réduisant le temps de chargement et en augmentant le débit d'échantillons grâce au sas ou en réduisant considérablement le niveau sonore grâce au mode silencieux ZEISS ECO. Décontaminez votre échantillon et votre chambre grâce au nettoyeur plasma ou améliorez la qualité d'image en compensant l'effet de charge grâce au canon à électrons ou à la fonction de compensation de charge.

Sas Réduction du temps de chargement – Augmentation du débit d'échantillons

Le sas permet un chargement efficace des échantillons sans rupture du vide existant et réduit ainsi le risque de contamination de la chambre à échantillon. Cette méthode permet également de réduire considérablement le temps de remplacement des échantillons.

 

Avantages :

  • Amélioration significative du rendement
  • Chargement de grands échantillons
  • Manipulation ergonomique et pratique

Dépliant produit

Compensation de charge

Profitez de la réduction des effets de charge et d'une option de nettoyage in situ

Le système de compensation de charge permet de décharger localement les échantillons non conducteurs par ionisation de l'azote. La résolution élevée combinée à une expansion supplémentaire des capacités d'analyse, avec l'intégration d'un système de compensation de charge, n'est pas seulement limitée aux échantillons conducteurs, mais peut également être appliquée à tous les types d'échantillons non conducteurs.

Avantages :

  • Capture d'échantillons non conducteurs
  • Amélioration de la qualité d'image
  • Amélioration de la productivité et diversification

Dépliant produit

Canon à électrons

Déchargement des échantillons non conducteurs

Le canon à électrons est un dispositif amélioré pour la neutralisation des charges sur des échantillons d'isolants ou de semi-conducteurs chargés positivement. Il fournit un débit régulier d'électrons basse énergie pour décharger une zone de l'échantillon où le faisceau d'ions focalisé a laissé une charge positive nette.

 

Avantages :

  • Neutralisation de charge
  • Amélioration de l'imagerie
  • Prévention des dommages

Dépliant produit

Nettoyeur plasma

Nettoyage rapide et efficace de votre chambre

ZEISS propose une solution rapide et rentable pour décontaminer les échantillons et les chambres. Un nettoyeur de plasma est utilisé pour générer des radicaux réactifs en phase gazeuse dans un plasma. Les radicaux migrent dans la chambre de l'instrument et réagissent chimiquement avec les hydrocarbures indésirables.

Avantages

  • Qualité d'image améliorée
  • Décontamination rapide des échantillons
  • Décontamination sécurisée

Dépliant produit

Mode silencieux ZEISS ECO

Réduction du bruit et économies d'énergie

En utilisant le mode silencieux ZEISS ECO et un réservoir à vide, la pré-pompe s'arrête automatiquement après avoir atteint un niveau de vide prédéfini en usine. Le réservoir à vide permet de faire fonctionner le système pendant des heures sans avoir recours à la pré-pompe. Cette disposition permet de réduire à la fois les niveaux de bruit et la consommation d'énergie.

 

Avantages :

  • Fonctionnement plus confortable
  • Imagerie haute définition
  • Économies d'énergie

Dépliant produit

Autres accessoires

Améliorez votre microscope en y ajoutant des accessoires tels que des porte-échantillons, la dernière version de notre manette à double commande et du panneau de commande ou une alimentation sans interruption (ASI) qui assure la sécurité de votre système en cas de panne de courant.

Alimentation sans interruption

Sécurisez votre microscope en cas de panne de courant et évitez les pertes de données

Un système d'alimentation sans interruption (ASI) est utilisé si une alimentation électrique régulière ne peut être garantie. Il est conçu pour pallier aux courtes pannes de courant et pour arrêter le microscope de manière contrôlée lors de pannes de courant prolongées.

 

Avantages :

  • Pallie aux brèves pannes de courant
  • Sécurité pour votre microscope

Dépliant produit

Double commande et panneau de commande du MEB

Contrôlez votre MEB plus facilement

La manette à double commande ainsi que le panneau de commande rendent l'utilisation du système beaucoup plus agréable. La manette à double commande peut être utilisée pour contrôler la platine et naviguer dans les échantillons. Le panneau de commande permet d'accéder très facilement aux fonctions les plus utilisées du MEB.

Avantages :

  • De nombreuses possibilités de compensation
  • Diverses options de configuration
  • Manipulation pratique

Dépliant produit

Contact ZEISS Microscopy

En quoi pouvons-nous vous aider ?

Chargement du formulaire en cours...

/ 4
Étape suivante :
  • Étape 1
  • Étape 2
  • Étape 3
Contactez-nous
Informations requises
Informations facultatives

Si vous souhaitez avoir plus d'informations concernant le traitement de vos données par ZEISS, veuillez consulter la politique de confidentialité.

Comment nous trouver