Service et assistance

Mises à niveau pour Xradia Context

Pour une longévité augmentée
et des fonctionnalités étendues

Accessoires

Ajoutez des accessoires à votre microscope, tels que des porte-échantillons, des fantômes de mise à l'échelle TDM et des filtres à rayons X supplémentaires pour améliorer les capacités de votre Xradia Versa

Porte-échantillon

Montage sécurisé d'un large éventail de tailles et de types d'échantillons

Les porte-échantillons ZEISS ont été conçus en tenant compte des principes cinématiques afin de garantir un placement précis et reproductible sur la platine d'échantillon. Chaque modèle offre des techniques de préhension uniques afin de placer correctement votre échantillon pour l'imagerie. Ces conceptions sont également reconnues pour leur stabilité lors de l'imagerie par rayons X. Précisez si votre montage est destiné à une utilisation standard ou s'il doit être compatible avec Autoloader.

Avantages :

  • Prise en charge de techniques de montage mécaniques et thermiques stables
  • Simplicité de remplacement
  • Détection automatique de présence (compatible avec l'Autoloader)

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Fantômes de mise à l'échelle TDM et options de filtre

Personnalisez votre spectre de rayons X pour répondre aux besoins de vos applications d'imagerie et corrélez vos données en niveaux de gris en fonction des unités Hounsfield appropriées

Assurez-vous que vos données sont correctement étalonnées en unités Hounsfield, dans lesquelles l'air et l'eau ont des valeurs de 0 et 100, en utilisant le fantôme de mise à l'échelle TDM de ZEISS. Élargissez votre gamme de filtres à basse et haute énergie grâce aux options de filtres supplémentaires proposées par ZEISS pour des contraintes de filtrage à plus haute énergie et les applications telles que la métallurgie.

Avantages :

  • Étalonnage précis de vos données en niveaux de gris
  • Réduction des artefacts de durcissement du faisceau
  • Transmission améliorée sur les matériaux denses ou volumineux
  • Grossissement supérieur

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Analyse et logiciel

Améliorez l'expérience utilisateur et les profondeurs de votre processus d'analyse grâce à un équipement matériel et un logiciel de calcul avancés disponibles chez ZEISS

Poste de travail d'analyse

Configuré et éprouvé pour la visualisation et les performances de calcul

Afin de maintenir le temps de disponibilité des instruments pour l'imagerie, beaucoup préfèrent optimiser leur processus grâce à un poste de travail d'analyse secondaire. Le poste de travail secondaire permet de réaliser des études supplémentaires : optimisation de la reconstruction, navigation et visualisation des ensembles de données, et post-traitement des résultats.

Avantages :

  • Optimisation du temps de fonctionnement de l'imagerie
  • Amélioration du rendement des résultats
  • Prise en charge de progiciels de visualisation et d'analyse avancés
  • Extension fiable du stockage des données

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ORS Dragonfly Pro

Solution logicielle simple d'analyse et de visualisation avancée

Disponible exclusivement chez ZEISS, ORS Dragonfly Pro offre une boîte à outils intuitive, complète et personnalisable pour la visualisation et l'analyse de larges volumes de données 3D en niveaux de gris. Dragonfly Pro permet de naviguer, d'annoter, de créer des fichiers médias et de produire des vidéos à partir de vos données 3D. Effectuez un traitement d'image, une segmentation et une analyse d'objets pour quantifier vos résultats.

Avantages :

  • Rendu graphique haute définition
  • Création de vidéos 3D riches
  • Analyse d'objets
  • Segmentation par apprentissage automatique
  • Enregistrement de macros pour les processus répétitifs
  • Progiciels de personnalisation de Python

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Version d'essai

SmartShield

Protégez votre échantillon pour optimiser vos expériences

SmartShield est une solution simple qui protège votre échantillon et votre microscope et fonctionne avec le système de contrôle Scout-and-ScanTM. D'un simple clic, SmartShield entoure votre échantillon d'une « enveloppe » numérique . Cette solution automatisée vous permet d'approcher en toute confiance votre échantillon encore plus près de la source et du détecteur. Grâce à SmartShield, les utilisateurs, qu'ils soient débutants ou confirmés, bénéficient d'un processus fiable pour préparer les échantillons et naviguer efficacement dans le système Versa.

Avantages :

  • Création rapide d'enveloppes entièrement intégrées en moins de 5 minutes
  • Sensibilisation à la 3D pour la sécurité des échantillons et des instruments
  • Amélioration de l'efficacité de l'opérateur pendant l'installation

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Mises à niveau in situ

Découvrez les solutions complémentaires d'essais de traction intégrées pour les applications de radiographie in situ

Platines Deben in situ

Plusieurs platines de test personnalisées pour l'imagerie in situ

Un système modulaire d'essai de traction et de compression peut être installé dans le système Context pour obtenir une interprétation visuelle claire de la façon dont les propriétés des matériaux et des composites varient dans différentes conditions de charge.

Avantages :

  • Contrôle intégré de recette in situ pour les platines Deben
  • Kit d'interface in situ en option

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Kit d'interface in situ

Optimisation de la configuration et du fonctionnement

Le kit d'interface in situ pour Xradia Versa optimisera la configuration et le fonctionnement de votre système, vous permettant d'obtenir les résultats attendus plus rapidement et plus facilement.

Profitez d'un niveau maximal de stabilité, de flexibilité et d'intégration contrôlée de plusieurs types de dispositifs in situ sur le Xradia Versa, qui bénéficient d'une architecture optique tenant compte de la résolution dans des conditions d'environnement variables. Réalisez des études in situ et 4D (temporelles) pour comprendre l'impact du chauffage, du refroidissement, du mouillage, de la tension, de la compression par traction, du drainage et d'autres études en environnement simulé.

Avantages :

  • La résolution à distance (RaaD) permet une imagerie in situ optimale
  • Kit d'interface de flux in situ personnalisé sur commande spéciale

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Modules et composants

Étendez les capacités de votre système à l'aide de modules et d'extensions

Autoloader

Manipulation améliorée des échantillons et des mesures répétitives grâce à l'Autoloader ZEISS

En ajoutant Autoloader à votre configuration, vous pouvez établir des files d'attente de tâches d'imagerie pour une équipe ou pour un week-end. Vous recevez une notification automatique lorsque le travail est terminé. Réduisez au minimum l'interaction des utilisateurs dans votre laboratoire de recherche ou industriel, votre laboratoire de développement de process industriels, votre laboratoire de services ou votre laboratoire central d'imagerie universitaire.

Avantages :

  • Mesures précises et reproductibles des échantillons
  • Manipulation flexible de nombreux types d'échantillons
  • Automatisation de la configuration des mesures

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Mises à niveau du système

Améliorez les performances et les capacités de vos instruments en optant pour Xradia Versa avec Fpx

Conversion sur site de Xradia Context Microct à Xradia 510 Versa avec Fpx

Optez pour la polyvalence ultime

ZEISS Xradia Context est prêt à évoluer à votre rythme. Il s'agit du seul système d'imagerie microCT qui peut être converti sur le terrain en un microscope à rayons X ZEISS Xradia Versa (avec FPX), l'instrument de référence en matière d'imagerie par rayons X en laboratoire grâce à sa technologie de haute résolution à grande distance de travail (RaaD).

Avantages :

  • Technologie de résolution à distance (RaaD), riche en fonctionnalités et multi-objectifs
  • Processus multi-échelles à portée maximale, de l'imagerie d'échantillons de grande taille à l'imagerie tomographique intérieure non destructive à haute résolution
  • Technologie avancée de contraste de phase pour une meilleure qualité d'image

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