Volume EM

Array Tomography

標準仕様の走査電子顕微鏡を使用した非破壊ボリュームイメージング

標準仕様のSEMで実行可能
非破壊イメージングにより試料を保護
相関ワークフローに最適

Array Tomographyを用いたVolume EM

標準仕様のSEMを利用でき、試料調製のトレーニングを受けられる研究グループは、Array Tomography（AT）を用いたVolume EM（vEM）を活用できます。ATでは、連続する超薄切片を切断して試料ホルダーに貼り付けます。切片はSEMでイメージングされ、デジタル再構成された後に3Dデータセットを作成します。ATは、最初に蛍光顕微鏡で対象のタンパク質の位置を特定する場合など、特に相関ワークフローに最適です。ATの大きなメリットは切片を破壊しないことであり、将来的な使用のために切片を無傷のまま保つことができます。

ワークフローの略図

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樹脂包埋試料を切削し、切片を並べます。各切片の厚さは通常30～70 nmで、切削順に切片を試料キャリアに貼り付けます。

2

連続する各切片を、走査電子顕微鏡（SEM）でイメージングします。

3

取得した電子顕微鏡画像が処理され、デジタルに調整されて3Dデータセットになります。細胞コンパートメントを特定し、セグメント化することができます。

4

セグメント化された3Dデータセットは、視覚化および調査を行い、統計的に分析することができます。

  
      アプリケーション例
      
    プラスモデスマータが分布した根粒から作製された連続切片の3D再構成

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ご提供：D. Sherrier, J. Caplan, and S. Modla, University of Delaware, USA

植物と細菌の共生関係

植物の健康状態に対する根粒内の細菌の影響を理解する

植物の根は、ネットワークを張り巡らせることで、あらゆる植物の成長に欠かせない水や栄養のすべての源にアクセスします。植物の健康や産出量を最適化するには、根のネットワーク全体を調べ、外部の微生物の影響を理解することが重要です。植物と根粒内の細菌における共生関係を調べるにあたっては、根粒と細菌分布に関する知識が必要であり、これを詳細に理解するためには、蛍光および高分解能の構造評価を組み合わせることが必須となります。

Correlative Array Tomographyでは蛍光および構造データにおける両方のオーバーレイが可能なため、根粒と細菌分布を視覚化することができます。