
天然資源向け顕微鏡ソリューション
惑星地質学
高度な解析技術で惑星地質学を掘り下げる
惑星地質学は、地球以外の天体に由来する地質学的物質の研究を対象としています。これらの貴重な岩石試料は、私たちの太陽系の形成と進化を理解するための重要な手がかりとなります。試料には、自然に地球に落下したものや、人間または自動化された試料回収ミッションによって収集されたものが含まれます。隕石から太陽系誕生以前の粒子に至るまでの地球外物質の研究には、マルチスケールおよびマルチモーダル相関解析を用いた高度な機能が必要です。
顕微鏡解析により、科学者は鉱物相、その結晶構造、化学組成を同定し、特性評価を行うことができます。これにより、惑星物質の複雑さを解明する手助けとなります。これらの試料は、地球上の岩に比べてはるかに少量しか得られないことが多いため、定量的な情報を最大限に引き出すための初期の非破壊技術に大きな重点が置かれています。
隕石の構造および化学分析
惑星地質学向けの顕微鏡ソリューションは、地球外の試料で観察される変化に関するデータを科学者に提供し、さらに、試料中に存在する様々な物質を迅速に同定する能力を持っています。深層学習の技術は、詳細な画像解析とセグメンテーションを実現し、他のデータと組み合わせることで、太陽系内で進行中のプロセスの評価を可能にします。
深層学習を強化したX線顕微鏡による定量的な鉱物同定と結晶方位の解析を通じて、貴重な試料の全面的な3D特性評価が生成されます。電子顕微鏡技術は、微細構造の変化からナノスケールの微量元素分析に至るまで、定量的な解析を最大限に活用することを重視しています。