製品

材料解析用ZEISS LSM 900

高度なイメージングと表面トポグラフィーのための汎用共焦点顕微鏡

ZEISSの共焦点レーザースキャン顕微鏡（CLSM）、ZEISS LSM 900は材料解析に最適です。研究室または共通機器施設で、微細構造の表面3Dトポグラフィーについて特性評価します。材料解析すべての基本的な光学顕微鏡コントラスト法と高精度トポグラフィーを結び付けます。顕微鏡を切り換える必要はまったくなく、設定に費やす時間を削減できます。表面粗さを評価する場合は、非接触共焦点イメージングを行いましょう。LSM 900は、共通機器施設に最適なツールです。正立顕微鏡ZEISS Axio Imager.Z2mまたは倒立顕微鏡ZEISS Axio Observer 7に、共焦点モジュールを機能拡張することができます。

光学顕微鏡と共焦点イメージングの組み合わせ
サンプルの観察を効率的に
イメージング領域の拡張

携帯電話の故障解析、テクスチャ画像、オーバーレイ、色分けした高さマップ（左から右）。

光学顕微鏡と共焦点イメージングの組み合わせ

LSM 900は、2Dおよび3Dの、要求の厳しい材料解析用に開発された、ハイエンドの共焦点プラットフォームです。

非接触共焦点イメージングによってトポグラフィー構造を特性評価し、表面粗さを評価
コーティングおよび薄膜の厚さを非破壊で決定
偏光および蛍光を含む広範なイメージング技術を、光学コントラストモードまたは共焦点モードで使用
反射光で金属組織試料を、透過光で岩石やポリマーの薄切片を特性評価

サンプルの観察を効率的に

顕微鏡を切り換えることなく解析やイメージングができるため、設定に費やす時間と結果を得るまでの時間が短縮されます。

サンプルの複数のポジションのデータを自動的に取得し、プロセスを最適化
オーバービュー画像で関心領域を設定するだけで、必要とする領域だけの画像を取得
スキャン領域 6144 x 6144 ピクセルで、ROIのサイズおよび角度を自由に設定
取得データおよびその後の画像処理を自在にコントロール

イメージング領域の拡張

共焦点ユニットによって、ワイドフィールド観察を次のように拡張します。

Axio Imager.Z2m または Axio Observer 7 に LSM 900 を加えてアップグレード：対物レンズ、ステージ、光源などのハードウェア、ならびにソフトウェアやそのインターフェースなどを活用
ZEN Intellesis ：画像セグメンテーションのための機械学習ベースのソリューション
ZEN Connect ：複数の機器で実験を行う際に、あらゆるソースからの画像でもオーバーレイしてデータを管理
ZEN Data Storage ：スマートなデータ管理を実施

共焦点顕微鏡の原理

試料全体を3Dでイメージング

LSM 900共焦点レーザースキャン顕微鏡の仕組みを説明します。本製品は、共焦点ビームパス内でレーザー光を使用し、サンプルの光学セクショニング画像を取得します。それらを3D画像に再構築します。アパーチャ（通常ピンホールと呼ばれるもの）は、焦点面以外の情報はブロックし、焦点面の情報のみ検出するように設計されています。

_{キャプション：マイクロメートルレベルの超微細な光学断面}

共焦点顕微鏡技術の詳細情報はこちら

共焦点顕微鏡の原理の概要図。焦点面の情報（黄色）。焦点面以外の情報（赤色と青色の点線）。

試料全体を3Dでイメージング

LSM 900は共焦点レーザースキャン顕微鏡です。共焦点ビームパス内でレーザー光を使用し、サンプルの光学セクショニング画像を取得し、それらを3D画像に再構築します。アパーチャ（通常ピンホールと呼ばれるもの）は、焦点面以外の情報はブロックし、焦点面の情報のみ検出するように設計されています。

画像はX、Y軸方向にレーザーをスキャンすることによって作成。焦点面の情報は明るく表示され、焦点面以外の情報は暗く表示されます。
試料から対物レンズまでの距離を変更することで、サンプルは光学セクショニングされ、画像スタックが構築されます。
画像スタックの単一ピクセルの強度分布を解析することによって、対応する高さの測定が可能。全視野の高さ情報を組み合わせて、ハイトマップを作成することができます。

ソフトウェア

ConfoMapを使って3Dで表面を解析

ConfoMap は、表面トポグラフィーを3Dで視覚化および解析するのに最適なオプションです。ISO 25178 などの最新の測定基準に準拠した、表面の品質評価および機能性評価を行うことができます。包括的な幾何学、機能、および粗さ検査によって詳細な表面解析レポートを作成することができます。より高度な表面テクスチャ解析、輪郭解析、粒界および粒子解析、3Dフーリエ解析、表面変化の解析、および統計などのためのオプションのモジュールを追加することができます。

信頼性の高いC Epiplan-APOCHROMAT対物レンズ

アプロクロマティック補正され平坦性のあるC Epiplan-APOCHROMAT対物レンズシリーズは、反射光アプリケーションに使用することができます。

コントラストが高く、可視領域で透過率の高いイメージングを行うことができます。
従来のワイドフィールド顕微鏡、微分干渉コントラスト（DIC）および蛍光で、最適な結果を得ることができます。
C Epiplan-APOCHROMATは、全視野にわたる405 nmの収差が最小になるように、共焦点顕微鏡のために特別に設計されていますこれによって、散乱によるノイズやアーチファクトが少なく、正確なトポグラフィーデータが作成され、サンプル表面の性状をより詳細に明らかにします。

共焦点顕微鏡用の対物レンズのもたらす効果

この画像では、エッジ部のアーチファクトや平面のノイズが見えません。

C Epiplan-APOCHROMAT 対物レンズでイメージングしたサンプル。3D像とラインプロファイル

この画像では、エッジ部のアーチファクトや平面のノイズがはっきりと見えます。

レーザー構成

アプリケーションに応じたレーザーを選択

共焦点顕微鏡のアプリケーション範囲を拡張。次の2つのオプションの選択が可能です。

UVレーザーモジュール（波長405 nm）によるシングルチャンネルシステムで最大120 nmのXY分解能でイメージング可能。レーザークラス2の製品に対応します。
生体材料での細胞増殖のイメージングなどのアプリケーションでは、4種類のレーザー波長、すなわちレーザーモジュール URGB（波長405 nm、488 nm、561 nm、640 nm）のLSM 900を選択。複数の励起波長により、蛍光成分の分布検出が可能に

アプリケーション

金属および合金

金属および合金。アディティブマニュファクチャリングで製造した合金のレーザー研磨表面。

金属および合金。アディティブマニュファクチャリングで製造した合金のレーザー研磨表面。
鋼。

鋼。二相ステンレス鋼の溶接部近傍のオーステナイトおよびフェライト結晶粒サイズのばらつき。画像幅445 mm。

鋼。二相ステンレス鋼の溶接部近傍のオーステナイトおよびフェライト結晶粒サイズのばらつき。画像幅445 mm。
ポリマーおよび化合物。

ポリマーおよび化合物。多層系、二層ポリマー複合材。

ポリマーおよび化合物。多層系、二層ポリマー複合材。
セラミックス表面。

セラミックス表面。色分けした高さマップ。

セラミックス表面。色分けした高さマップ。
材料の摩耗に関する金属検査

材料の摩耗に関する金属検査。穴の容積測定。色分けした高さマップの3D表示。容積、表面、深さ、周囲長、複雑さなどのパラメータをレポートで取得可能。

材料の摩耗に関する金属検査。穴の容積測定。色分けした高さマップの3D表示。容積、表面、深さ、周囲長、複雑さなどのパラメータをレポートで取得可能。
砂岩空隙率

砂岩空孔率。砂岩空隙率試験。蛍光色素の3Dモデル、非接触表面測定、4 x 4のタイル画像。

砂岩空孔率。砂岩空隙率試験。蛍光色素の3Dモデル、非接触表面測定、4 x 4のタイル画像。
文書

文書。一般的にセキュリティ機能のために使用される文書の回折光学素子を色分けした3D画像。

文書。一般的にセキュリティ機能のために使用される文書の回折光学素子を色分けした3D画像。
故障解析

故障解析。携帯電話の故障解析、テクスチャ画像、オーバーレイ、色分けした高さマップ（左から右）。画像幅1.1 mm。

故障解析。携帯電話の故障解析、テクスチャ画像、オーバーレイ、色分けした高さマップ（左から右）。画像幅1.1 mm。

ダウンロード

ZEISS LSM 900 材料検査用

高度なイメージングと表面トポグラフィーのための汎用共焦点顕微鏡

3 MB

ダウンロード

技術の進歩を可能にデジタル化を牽引する ZEISS

デジタルトランスフォーメーションとイノベーションを加速する半導体電子機器向けソリューション

13 MB

ダウンロード

鉄鋼・その他の金属のための

ZEISS 顕微鏡ソリューション

12 MB

ダウンロード
Light Microscopic Analysis of the Intrinsic Properties of Magnetically Hard Phases from the Domain Structure

2 MB

ダウンロード

Microscopy in Metal Failure Investigations

Determine the root cause of metal failure and learn about microscopy tool set for any metal failure investigation

4 MB

ダウンロード
Beam Path of ZEISS LSM 900

912 KB

ダウンロード