ZEISS Axiovert 材料ラボとスマートドキュメンテーションのための倒立顕微鏡
ZEISS Axiovertを使用することで、大型かつ重量のある試料において、高品質の画像を簡単に取得できます。各種設定の選択については、システムにお任せください。Axiovert 5は、反射光や透過光を駆使し、あらゆる標準的なコントラスト法を使用して、常時安定して照射されたシャープな画像を実現します。PCを使わなくてもモニターと接続するだけで、画像の閲覧やドキュメント作成、USBデバイスへの直接保存が可能です。生産性向上にぜひ自動化機能をご活用ください。
画像取得が簡単 - ピントを合わせてスナップボタンを押すだけ
スマートマイクロスコープの強み
スマートマイクロスコープであるAxiovertは、高速イメージングで優れた結果を提供します。
- ピントを合わせてスナップボタンを1回押すだけで、材料試料の高画質画像を保存可能。
- 再フォーカスの必要なく試料を交換できるため、時間と手間が省けます。
- 試料をステージに置き、一度ピントを合わせれば、倍率を変えても試料への焦点が維持されます。
あらゆるニーズに対応
強力なデジタルドキュメンテーションシステム
Axiovertなら、これまでのルーチン作業がより簡単・便利になります。自動化などの追加機能により、処理能力が向上します。
- C-DIC(円偏光微分干渉法)をはじめとする古典的なコントラスト法から高度なコントラスト法に至るまで幅広く対応し、大型かつ重量のある試料でも安定した観察が可能です。
- ラボのスペースが限られている場合、PCを使わずAxiovert 5をスタンドアローンモードで使用し、オンスクリーンディスプレイ(OSD)メニューで顕微鏡を操作できます。追加のPCやソフトウェアは一切不要なほか、取得した画像を直接USB機器に保存することも可能です。
- 電動Zフォーカスと電動XYステージを搭載したAxiovert 7は、さらなるワークフローの自動化と高度なイメージングを実現する強力なソリューションです。
一日中快適な作業を
人間工学に基づいた操作コンセプト
Axiovertは、日常的な操作を可能な限り、快適かつ便利に行えるよう設計されています。
- フォーカスドライブ、ステージドライブ、ライトマネージャー、イメージキャプチャなどの操作系は人間工学に基づいて配置されているため、効率的に、リラックスして顕微鏡をお使いいただけます。
- ライトマネージャー機能により、倍率が変わっても明るさが一定に保たれ、対物レンズ切替え時にいちいち輝度を調整する必要がありません。
- 画像取得に最適な設定をシステムに任せることで、安心して業務に専念できます。
アクセサリ
スマートマイクロスコープ
スマートマイクロスコープを活用することで、常に焦点が合った状態で試料を観察できます。ホワイトバランス、露光時間、画像補正機能などのカメラ設定は自動的に行われます。イメージングソフトウェアやPCがなくても、スマートコントロールボックス(SCB)により、画像のスナップや保存、ネットワークへの接続、USBへの直接保存など、幅広い機能をご利用いただけます。
自動化で材料特性評価をスピードアップ
Axiovert 7では、電動のZ軸およびXYステージにより、生産性の向上、定義済みパラメータに基づいた再現性の高いプロセス、結果の比較可能性の向上などのメリットを享受することができます。オートフォーカス、同焦点、Zスタックのための被写界深度の拡張、パノラマ画像などの機能が活用できます。
非金属介在物解析
鋼材の特性を調べるために不可欠なNMI(非金属介在物)の金属組織分析は、業界規格によって規定されています。モジュール式のカスタマイズ可能なソフトウェアであるZEN coreなら、ユーザーはワークフローに沿って素早く簡単に操作し、規格に準拠したレポートおよび介在物のギャラリーを作成することができます。
対応規格
✔ ASTM E45
✔ ISO 4967
✔ JIS G0555
✔ GB/T 10561
✔ EN 10247
✔ SEP 1571
✔ DIN 50602
非金属介在物解析
ZENモジュール搭載Axiovert 7の非金属介在物解析では、部品破損の原因となる不純物や欠陥、引張強度、靭性、疲労に影響を与えるような欠陥について、製造プロセス、グレード、さらに製品の品質が厳しい仕様を満たしているかどうかを確認できます。また、強力な検査ビューと自動変形軸検出機能により、解析を簡単かつ直感的に、高い再現性を持って行えます。さらにGxP機能を追加することで、NMI分析における完全なトレーサビリティとデータ整合性を顧客に提供できます。つまりグレード認証の監査に対応できるので、特に規制産業の顧客にとって大きなメリットとなります。
1.顕微鏡とカメラの制御 2.データの取得と解析 3.相関顕微鏡 4.取得後解析 5.自動化されたセグメンテーション 6.コンテキスト解析 7.統合レポート機能 8.モバイルアクセス 9.中央データ管理 10.システム間、ラボ間およびロケーション間の接続 11.さらなる解析のためのインターフェース
コネクテッドマイクロスコープ
すべてのZEISSイメージングソリューションをリンクさせ、部品や材料試料から有意義な情報を取得することができます。ZEISSの顕微鏡と、材料研究・解析に特化したソフトウェアスイートであるZEN coreを接続しましょう。このスイートは、コネクテッドラボ環境向けのインフラを提供するだけでなく、特定のタスクに対応した便利な事前設定済みパッケージやツールキットを搭載しています。
Connectツールキットでは、電動ステージ搭載のZEISS光学顕微鏡と電子顕微鏡との間で試料をシームレスに移動し、関心領域を自動再特定することが可能です。ZEN coreのConnect Toolkitを利用すれば、同一試料の異なる顕微鏡画像やデータをコンテキストに基づいてまとめ、すべて1ヶ所で可視化することができます。
微細構造検査
溶接継手、明視野、EC Epiplan 5×/0.13
溶接継手、明視野、EC Epiplan 5×/0.13
硬度クラック、C60鋼鉄、明視野、EC Epiplan 20×/0.4
硬度クラック、C60鋼鉄、明視野、EC Epiplan 20×/0.4
鋳鉄、円偏光微分干渉コントラスト(C-DIC)、EC Epiplan 20×/0.4
鋳鉄、円偏光微分干渉コントラスト(C-DIC)、EC Epiplan 20×/0.4
鋳鉄、暗視野コントラスト(DF)、EC Epiplan 20×/0.4
鋳鉄、暗視野コントラスト(DF)、EC Epiplan 20×/0.4
材料科学
リチウムイオン電池、明視野、EC Epiplan 20×/0.4
リチウムイオン電池、明視野、EC Epiplan 20×/0.4
銅、明視野、EC Epiplan-Neofluar 10×/0.25
銅、明視野、EC Epiplan-Neofluar 10×/0.25
アルマイト、偏光コントラスト、EC Epiplan-Neofluar 5×/0.13
アルマイト、偏光コントラスト、EC Epiplan-Neofluar 5×/0.13
炭素繊維強化高分子、EC Epiplan 20×/0.4
炭素繊維強化高分子、EC Epiplan 20×/0.4
金属組織検査
鋳鉄解析 – 画像のセグメンテーション
鋳鉄解析 – 画像のセグメンテーション
層厚測定 – 層の自動検出
層厚測定 – 層の自動検出
層厚測定 – 層の自動検出
多相分析 – 相別の分布を示す結果ビュー
層厚測定 – 層の自動検出
面積計量法による粒度分析 – 結果ビュー