![ZEISS MultiSEM:世界最速の走査型電子顕微鏡 ZEISS MultiSEM:世界最速の走査型電子顕微鏡]({"xsmall":"https://www.zeiss.com/content/dam/rms/reference-master/products/electron-ion/sem/multisem/multisem-stage.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.100.420,0,1500,1080.file/multisem-stage.jpg","small":"https://www.zeiss.com/content/dam/rms/reference-master/products/electron-ion/sem/multisem/multisem-stage.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.360.420,0,1500,1080.file/multisem-stage.jpg","medium":"https://www.zeiss.com/content/dam/rms/reference-master/products/electron-ion/sem/multisem/multisem-stage.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.768.420,0,1500,1080.file/multisem-stage.jpg","large":"https://www.zeiss.com/content/dam/rms/reference-master/products/electron-ion/sem/multisem/multisem-stage.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1024.1024.420,0,1500,1080.file/multisem-stage.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.com/content/dam/rms/reference-master/products/electron-ion/sem/multisem/multisem-stage.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1080.1080.420,0,1500,1080.file/multisem-stage.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.com/content/dam/rms/reference-master/products/electron-ion/sem/multisem/multisem-stage.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1080.1080.420,0,1500,1080.file/multisem-stage.jpg","max":"https://www.zeiss.com/content/dam/rms/reference-master/products/electron-ion/sem/multisem/multisem-stage.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1080.1080.420,0,1500,1080.file/multisem-stage.jpg"})
ZEISS MultiSEM 505/506
世界最速の走査型電子顕微鏡
最大91並列電子ビームの取得速度により、センチメートル単位の試料をナノメートル分解能でイメージングできます。独自の走査型電子顕微鏡であるZEISS MultiSEMは、1日24時間連続で確実に稼働するよう設計されています。高スループットのデータ取得ワークフローを設定するだけで、MultiSEMが自動的に高コントラスト画像を取得します。
![マウス脳切片 マウス脳切片、最高取得速度1.22ギガピクセル/秒。ご提供:J. Lichtman, Harvard University, Cambridge, MA, USA]({"xsmall":"https://www.zeiss.com/content/dam/rms/reference-master/products/electron-ion/sem/multisem/multisem-benefit1.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.50.file/multisem-benefit1.jpg","small":"https://www.zeiss.com/content/dam/rms/reference-master/products/electron-ion/sem/multisem/multisem-benefit1.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.180.file/multisem-benefit1.jpg","medium":"https://www.zeiss.com/content/dam/rms/reference-master/products/electron-ion/sem/multisem/multisem-benefit1.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.384.file/multisem-benefit1.jpg","large":"https://www.zeiss.com/content/dam/rms/reference-master/products/electron-ion/sem/multisem/multisem-benefit1.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1024.512.file/multisem-benefit1.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.com/content/dam/rms/reference-master/products/electron-ion/sem/multisem/multisem-benefit1.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1280.640.file/multisem-benefit1.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.com/content/dam/rms/reference-master/products/electron-ion/sem/multisem/multisem-benefit1.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1440.720.file/multisem-benefit1.jpg","max":"https://www.zeiss.com/content/dam/rms/reference-master/products/electron-ion/sem/multisem/multisem-benefit1.jpg/_jcr_content/renditions/original./multisem-benefit1.jpg"})
電子顕微鏡の取得速度が革命的に向上
複数の電子ビームが並行して動作することで、これまでにないイメージング速度が実現します。4 nmのピクセスサイズで1 mm2の領域を取得するのにかかるのは、わずか2~3分です。1時間あたり1 TB以上という優れた取得速度により、ナノメートル分解能で大容量(1 mm3超)のイメージングが可能になります。最適化された検出器が極めて効率的に二次電子シグナルを収集するため、低ノイズで高コントラスト画像を取得することができます。
キャプション:マウス脳切片、最高取得速度1.22ギガピクセル/秒。ご提供:J. Lichtman, Harvard University, Cambridge, MA, USA
![ナノメートル分解能で巨大試料をイメージング ナノメートル分解能で巨大試料をイメージング]({"xsmall":"https://www.zeiss.com/content/dam/rms/reference-master/products/electron-ion/sem/multisem/multisem-benefit2.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.50.file/multisem-benefit2.jpg","small":"https://www.zeiss.com/content/dam/rms/reference-master/products/electron-ion/sem/multisem/multisem-benefit2.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.180.file/multisem-benefit2.jpg","medium":"https://www.zeiss.com/content/dam/rms/reference-master/products/electron-ion/sem/multisem/multisem-benefit2.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.384.file/multisem-benefit2.jpg","large":"https://www.zeiss.com/content/dam/rms/reference-master/products/electron-ion/sem/multisem/multisem-benefit2.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1024.512.file/multisem-benefit2.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.com/content/dam/rms/reference-master/products/electron-ion/sem/multisem/multisem-benefit2.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1280.640.file/multisem-benefit2.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.com/content/dam/rms/reference-master/products/electron-ion/sem/multisem/multisem-benefit2.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1440.720.file/multisem-benefit2.jpg","max":"https://www.zeiss.com/content/dam/rms/reference-master/products/electron-ion/sem/multisem/multisem-benefit2.jpg/_jcr_content/renditions/original./multisem-benefit2.jpg"})
ナノメートル分解能で巨大試料をイメージング
ナノメートル分解能の引き換えに、試料サイズで妥協する必要はありません。MultiSEMには、10 x 10 cmの領域をカバーする試料ホルダーが搭載されており、1日24時間連続で稼働させることができます。これにより、試料全体をイメージングし、科学的な疑問を解き明かすために必要な情報をすべて取得することが可能になります。マクロのコンテキストを失うことなく詳細な画像を取得しましょう。
![電子顕微鏡でZENイメージングソフトウェアを使用 電子顕微鏡でZENイメージングソフトウェアを使用]({"xsmall":"https://www.zeiss.com/content/dam/rms/reference-master/products/electron-ion/sem/multisem/multisem-benefit3.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.50.file/multisem-benefit3.jpg","small":"https://www.zeiss.com/content/dam/rms/reference-master/products/electron-ion/sem/multisem/multisem-benefit3.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.180.file/multisem-benefit3.jpg","medium":"https://www.zeiss.com/content/dam/rms/reference-master/products/electron-ion/sem/multisem/multisem-benefit3.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.384.file/multisem-benefit3.jpg","large":"https://www.zeiss.com/content/dam/rms/reference-master/products/electron-ion/sem/multisem/multisem-benefit3.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1024.512.file/multisem-benefit3.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.com/content/dam/rms/reference-master/products/electron-ion/sem/multisem/multisem-benefit3.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1280.640.file/multisem-benefit3.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.com/content/dam/rms/reference-master/products/electron-ion/sem/multisem/multisem-benefit3.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1440.720.file/multisem-benefit3.jpg","max":"https://www.zeiss.com/content/dam/rms/reference-master/products/electron-ion/sem/multisem/multisem-benefit3.jpg/_jcr_content/renditions/original./multisem-benefit3.jpg"})
電子顕微鏡でZENイメージングソフトウェアを使用
ZEISS光学顕微鏡の標準ソフトウェアであるZENがMultiSEMに導入され、電子顕微鏡でZENを使用できるようになりました。これにより、シンプルかつ直感的な方法でMultiSEMをコントロール可能です。スマート自動調整を定期的に行うことで、高解像度・高画質で最適な画像が取得できます。また、試料に合わせて調整された複雑な自動取得も素早く設定可能です。
ZEISS MultiSEMファミリー
MultiSEM 505
|
MultiSEM 506
|
|
---|---|---|
ビーム数 |
61 |
91 |
スキャン配置 |
六角形のパターンで配置された61のサブ画像からなる画像タイル |
六角形のパターンで配置された91のサブ画像からなる画像タイル |
ピッチサイズ12 µmでの視野 |
108 µm |
132 µm |
ピッチサイズ15 µmでの視野(オプション) |
135 µm |
165 µm |
ZEISS MultiSEMのバックグラウンドテクノロジー
![複数の電子ビームと検出器の並行使用 複数の電子ビームと検出器の並行使用]({"xsmall":"https://www.zeiss.com/content/dam/rms/reference-master/products/electron-ion/sem/multisem/multisem-beampath.png/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.100.file/multisem-beampath.png","small":"https://www.zeiss.com/content/dam/rms/reference-master/products/electron-ion/sem/multisem/multisem-beampath.png/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.360.file/multisem-beampath.png","medium":"https://www.zeiss.com/content/dam/rms/reference-master/products/electron-ion/sem/multisem/multisem-beampath.png/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.768.file/multisem-beampath.png","large":"https://www.zeiss.com/content/dam/rms/reference-master/products/electron-ion/sem/multisem/multisem-beampath.png/_jcr_content/renditions/original.image_file.1024.1024.file/multisem-beampath.png","xlarge":"https://www.zeiss.com/content/dam/rms/reference-master/products/electron-ion/sem/multisem/multisem-beampath.png/_jcr_content/renditions/original.image_file.1280.1280.file/multisem-beampath.png","xxlarge":"https://www.zeiss.com/content/dam/rms/reference-master/products/electron-ion/sem/multisem/multisem-beampath.png/_jcr_content/renditions/original.image_file.1440.1440.file/multisem-beampath.png","max":"https://www.zeiss.com/content/dam/rms/reference-master/products/electron-ion/sem/multisem/multisem-beampath.png/_jcr_content/renditions/original./multisem-beampath.png"})
![複数の電子ビームと検出器の並行使用 複数の電子ビームと検出器の並行使用]({"xsmall":"https://www.zeiss.com/content/dam/rms/reference-master/products/electron-ion/sem/multisem/multisem-beampath.png/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.100.file/multisem-beampath.png","small":"https://www.zeiss.com/content/dam/rms/reference-master/products/electron-ion/sem/multisem/multisem-beampath.png/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.360.file/multisem-beampath.png","medium":"https://www.zeiss.com/content/dam/rms/reference-master/products/electron-ion/sem/multisem/multisem-beampath.png/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.768.file/multisem-beampath.png","large":"https://www.zeiss.com/content/dam/rms/reference-master/products/electron-ion/sem/multisem/multisem-beampath.png/_jcr_content/renditions/original.image_file.1024.1024.file/multisem-beampath.png","xlarge":"https://www.zeiss.com/content/dam/rms/reference-master/products/electron-ion/sem/multisem/multisem-beampath.png/_jcr_content/renditions/original.image_file.1280.1280.file/multisem-beampath.png","xxlarge":"https://www.zeiss.com/content/dam/rms/reference-master/products/electron-ion/sem/multisem/multisem-beampath.png/_jcr_content/renditions/original.image_file.1440.1440.file/multisem-beampath.png","max":"https://www.zeiss.com/content/dam/rms/reference-master/products/electron-ion/sem/multisem/multisem-beampath.png/_jcr_content/renditions/original./multisem-beampath.png"})
複数の電子ビームと検出器の並行使用
MultiSEMは、複数の電子ビーム(緑:パス)と検出器を並行使用します。微細に調整した検出経路(赤)で広域の二次電子(SE)を収集してイメージングします。通常、各ビームで1箇所の試料位置を同期スキャンするため、単一のサブ画像が作成されます。電子ビームは、六角形のパターンで配置されています。すべての画像タイルが統合され、完全な画像が作成されます。並列コンピュータを用いた高速データ記録により、ハイスピードのトータルイメージング速度が実現します。MultiSEMシステムでは、画像取得とワークフローの制御が完全に分かれています。
外部文献
- Brain mapping in high resolution (nature.com)
- Connectomics (Cell Press Nucleus)
- High throughput data acquisition with a multi-beam SEM
- Mission (im)possible – mapping the brain becomes a reality
- High-resolution, high-throughput imaging with MultiSEM 505
- Multiple-Beam Scanning Electron Microscopy (Microscopy Today)
- Further advancing the throughput of a multi-beam SEM