ZEISS SmartSEMは、ZEISS電子顕微鏡用の操作システムです。顕微鏡の高度な設定を可能にするとともに、困難な課題も解決します。

ZEISS Mineralogic 2Dおよび3Dは、走査型電子顕微鏡（SEM）やX線顕微鏡（XRM）による最先端の顕微鏡検査、エネルギー分散型X線分光法（EDS）、AIベースの深層学習アルゴリズムを組み合わせて自動定量鉱物分析を実現し、分析能力と生産性を向上させます。

3D表面モデリング - SEMを用いた試料表面の再構成

走査型電子顕微鏡は、あらゆる種類の試料を2Dで測定・解析します。試料表面の3D解析には、ZEISSのオプションソフトウェア3DSMを使用可能です。後方散乱検出器のシグナルによって試料表面の完全な3Dモデルを再構築し、トポグラフィー情報を取得できます。