電子顕微鏡用ソフトウェア - アプリケーションに適したソリューションを見つける

電子顕微鏡用ソフトウェア

アプリケーションに適したソリューションを見つける

ZEISS電子顕微鏡用ソフトウェアのご紹介

ZEISS SmartSEM - SEM、FE-SEMおよびFIB-SEM向けソフトウェアソリューション

ZEISS SmartSEM

SEM、FE-SEMおよびFIB-SEM向けソフトウェアソリューション

ZEISS SmartSEMは、ZEISS電子顕微鏡用の操作システムです。顕微鏡の高度な設定を可能にするとともに、困難な課題も解決します。

ZEISS Atlas 5 – マルチスケールにおける課題を克服

ZEISS Atlas 5

マルチスケールにおける課題を克服

試料中心の相関環境で、包括的なマルチスケール、マルチモーダル画像を作成しましょう。Atlas 5は、ZEISSの走査型電子顕微鏡(SEM)および集束イオンビームSEM(FIB-SEM)の能力を拡張する、強力かつ直感的なソリューションです。

ZEISS Mineralogic - 自動化された鉱物学的定量分析

ZEISS Mineralogic

自動化された鉱物学的定量分析

ZEISS Mineralogic 2Dおよび3Dは、走査型電子顕微鏡(SEM)やX線顕微鏡(XRM)による最先端の顕微鏡検査、エネルギー分散型X線分光法(EDS)、AIベースの深層学習アルゴリズムを組み合わせて自動定量鉱物分析を実現し、分析能力と生産性を向上させます。

ZEISS Smart PI - Smart Particle Investigator

ZEISS Smart PI

Smart Particle Investigator

Smart Particle Investigator(SmartPI)は、高度な粒子分析・分類ソリューションで、走査型電子顕微鏡を産業用クリーンルームや金属・鉄鋼アプリケーションのためのターンキーソリューションへと変えます。SmartPIは、SEMの制御、画像処理、元素分析(EDS)のすべてを1つのアプリケーションに組み込んでいます。

3DSM - 地質試料の3D解析

3Dサーフェスモデリング

SEMを用いたトポグラフィー試料表面の再構成

3D表面モデリング - SEMを用いた試料表面の再構成

走査型電子顕微鏡は、あらゆる種類の試料を2Dで測定・解析します。試料表面の3D解析には、ZEISSのオプションソフトウェア3DSMを使用可能です。後方散乱検出器のシグナルによって試料表面の完全な3Dモデルを再構築し、トポグラフィー情報を取得できます。

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