ソフトウェア
ZEISS SmartPI
Smart Particle Investigator
自動SEM粒子分析・分類ソリューション
粒子の検出、分析および分類
Smart Particle Investigator(SmartPI)は、高度な粒子分析および分類ソリューションであり、走査型電子顕微鏡を工業用清浄度検査や鉄鋼業界向けのターンキーソリューションにします。SmartPIは、SEM制御、イメージプロセッシング、および元素解析(EDS)のすべてを、単一のアプリケーション内に組み込んでいます。
- 単一のソフトウェアでSEM画像およびEDS分析の両方をコントロール
- 自動化された、無人の粒子分析を実行
- 再現性のあるデータと業界標準に準拠した報告書を作成
- SmartPIをZEISSの光学顕微鏡粒子分析ソリューションと組み合わせて、相関ワークフローを構成
- グローバルなZEISSサービスとシステム全体のサポートを活用可能
- ISO 16232 / VDA 19に準拠
SmartPIのアプリケーション例
推奨されるSEMプラットフォーム
EVO走査型電子顕微鏡
EVOは、日常的な材料分析、産業品質保証および故障解析に最適な従来型SEMです。大型電動5軸ステージと使いやすいSmartSEMソフトウェアにより、EVOは粒子解析アプリケーションのための高度に設定可能なイメージングプラットフォームを提供します。EVOには可変圧力(VP)機能があり、導電性コーティングを施すことなく、フィルターなどの非導電性試料のイメージングと分析を可能にします。また、ラマンやFTIRなどを使用したその後の分析用に、フィルターをインタクトな状態で残すことができます。
Sigma電界放出型走査電子顕微鏡
Sigmaは、ナノメートルスケールの粒子分析に高い分解能を必要とするユーザーに最適なSEMです。Geminiカラムテクノロジーを採用したSigmaは、電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM)による優れたイメージングと分析結果を提供します。Gemini光学系により、元素分析、特に磁性試料の分析に非常に適したプラットフォームで最高レベルの分解能のイメージングが実現します。